一种电弧放电光谱检测装置、方法及存储介质与流程

1.本发明涉及质量检测技术领域，具体涉及一种电弧放电光谱检测装置、方法及存储介质。


背景技术：

2.断路器触头因为在开断电路的过程中通常需要承受短时大电流的烧蚀，现已成为影响断路器，尤其是大电流、高容量断路器的主要寿命瓶颈。
3.目前110kv及以上电压等级工作环境应用的断路器主要为sf6气体绝缘型断路器，为提高开断能力，其中使用的电触头成分多为铜钨合金体系，其中铜材料主要起正常工作时的导流作用，钨材料则主要用于断路器开断过程中的耐磨及耐烧蚀作用。在开断短路电流故障时，因大电流导致的电弧具有高温、高能量特征，会对电触头表面产生严重烧蚀，从而影响断路器寿命；
4.72kv及以下电压等级电网中使用的断路器多为真空断路器，其中使用的电触头的主要成分多为铜铬合金。真空型断路器和sf6气体绝缘型断路器工作原理不同，真空断路器需要触头接触时形成的短路过程中气化一部分金属颗粒，以建立电弧通道，由此带来触头损伤。因此，电弧烧蚀对真空短路器触头寿命的影响也普遍存在。
5.现有技术条件下，经电弧烧蚀的电触头健康状态无法进行量化评估，只能根据经验判断断路器的触头寿命，或者以破坏式的方式进行检测，被测样品在检测后无法继续使用，增加了成本。


技术实现要素：

6.有鉴于此，本发明实施例提供了涉及一种电弧放电光谱检测装置、方法及存储介质，以解决现有技术中针对电触头的检测方式会对造成破坏，无法继续使用的技术问题。
7.本发明提出的技术方案如下：
8.本发明实施例第一方面提供一种电弧放电光谱检测装置，包括：信号探测模块和信号处理模块，所述信号探测模块获取被测样品未工作前进行电弧放电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号，将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号输出；所述信号处理模块接收所述第一电信号和所述第二电信号，根据所述第一电信号和所述第二电信号的差值确定被测样品的健康状态。
9.可选地，所述信号探测模块包括至少一个信号探测单元，所述信号探测单元包括信号传输单元和探测单元，所述探测单元包括至少一个光电二极管或定制相机；所述信号传输单元采集被测样品未工作前进行电弧放电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号，将所述第一光信号和所述第二光信号传输至所述探测单元；所述探测单元将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号输出。
10.可选地，所述信号探测单元还包括：过滤器，所述过滤器设置在所述信号传输单元和所述探测单元之间；当所述信号探测模块包括多个信号探测单元时，多个信号探测单元
的采样点位置相同或不同，当采样点位置相同时，多个信号探测单元中的过滤器具有不同的衰减波段。
11.可选地，所述信号探测单元还包括：可替换观察窗，所述可替换观察窗设置在信号探测单元的采样点，所述可替换观察窗和所述信号传输单元连接。
12.可选地，被测样品为断路器电触头样品。
13.本发明实施例第二方面提供一种电弧放电光谱检测方法，包括：获取被测样品未工作前进行电弧放电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号；将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号；比较所述第一电信号和所述第二电信号，确定被测样品的健康状态。
14.可选地，所述第一电信号包括第三电信号和第四电信号，所述第二电信号包括第五电信号和第六电信号，比较所述第一电信号和所述第二电信号，确定被测样品的健康状态，包括：根据所述第三电信号和第四电信号分别与第一电信号的比值确定直角坐标系中的第一位置坐标；根据所述第五电信号和第六电信号分别与第二电信号的比值确定直角坐标系中的第二位置坐标；根据所述第一位置坐标和第二位置坐标的差值确定被测样品的健康状态。
15.可选地，所述第一电信号包括第一红光电信号、第一绿光电信号和第一蓝光电信号，所述第二电信号包括第二红光电信号、第二绿光电信号和第二蓝光电信号，比较所述第一电信号和所述第二电信号，确定被测样品的健康状态，包括：根据所述第一红光电信号、第一绿光电信号和第一蓝光电信号之间的差值确定极坐标系中的第一位置坐标；基于和确定第一位置坐标同样的方式，根据所述第二红光电信号、第二绿光电信号和第二蓝光电信号之间的差值确定极坐标系中的第二位置坐标；根据所述第一位置坐标和第二位置坐标的差值确定被测样品的健康状态。
16.可选地，所述第一位置坐标采用如下公式确定：
17.l＝(b+g+r)/3；
18.s＝[max(b，g，r)-min(b，g，r)]/[max(b，g，r)+min(b，g，r)]；
[0019]
h＝240-120g/(g+b)(当r＝0时)
[0020]
h＝360-120b/(b+r)(当g＝0时)
[0021]
h＝120-120r/(r+g)(当b＝0时)
[0022]
其中，r＝r-min(b，g，r)；g＝g-min(b，g，r)；b＝b-min(b，g，r)，r表示第一红光电信号，g表示第一绿光电信号，b表示第一蓝光电信号，h表示第一位置坐标中的角参数，l和s表示第一位置坐标中的半径参数。
[0023]
本发明实施例第三方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如本发明实施例第二方面及第二方面任一项所述的电弧放电光谱检测方法。
[0024]
本发明提供的技术方案，具有如下效果：
[0025]
本发明实施例提供的电弧放电光谱检测装置、方法及存储介质，通过获取被测样品进行电弧放电时产生的光信号进行探测，得到电信号，经过对未工作样品的电信号和工作若干次样品的电信号进行分析，确定被测样品中各组分的含量变化情况，从而确定待测样品的健康状态。即采用无损检测的方式使得在经过检测之后，被测样品能够继续使用，从
而降低成本。
附图说明
[0026]
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]
图1是根据本发明实施例的电弧放电光谱检测装置的结构框图；
[0028]
图2是根据本发明实施例的电弧放电光谱检测装置的结构原理图；
[0029]
图3是根据本发明另一实施例的电弧放电光谱检测装置的结构原理图；
[0030]
图4是根据本发明另一实施例的电弧放电光谱检测装置的结构原理图；
[0031]
图5是根据本发明实施例的电弧放电光谱检测方法的结构框图；
[0032]
图6是根据本发明实施例提供的计算机可读存储介质的结构示意图；
[0033]
图7是根据本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0034]
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
[0035]
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0036]
正如在背景技术中所述，现有技术中断路器触头的健康状态检测无法量化评估，或者只能采用破坏式的方式进行检测。因此急需一种能够在不损坏被检测触头样品的前提下进行触头健康状态评估的检测方法。
[0037]
基于对电弧烧蚀这一物理过程的深度分析，可以发现电弧本质上是电离气体中的电传导过程，在此传导过程中，金属在电弧的作用下会在表面形成放电并在电弧的作用下产生光信号。这一信号的本质是原子核外电子吸收能量后向更高能级的跃迁。不同的材料的核外电子跃迁时会产生不同波长的光。因此，可以通过这一原理对放电过程中产生的光信号加以收集和分析，从而判定放电材料的化学组分及其变化情况，确定其健康状态。
[0038]
实施例1
[0039]
有鉴于此，本发明实施例提供一种电弧放电光谱检测装置，如图1所示，该装置包括：信号探测模块和信号处理模块，所述信号探测模块获取被测样品未工作前进行电弧放
电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号，将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号输出；所述信号处理模块接收所述第一电信号和所述第二电信号，根据所述第一电信号和所述第二电信号的差值确定被测样品的健康状态。
[0040]
其中，需要说明的是，该检测装置不仅能对断路器电触头的健康状态检测，还能够对电焊、金属冶炼等利用电弧发光技术的产品进行健康状态检测，即该被测样品可以是断路器电触头样品，也可以是其他采用电弧发光技术工作的样品，本发明实施例对此不作限定。当被测样品为断路器电触头时，通过电火花装置断路器电触头组成的电极之间施加一个低能量的电弧，激发触头表面放电。其中电火花装置被放置在距离电极表面1毫米到4毫米的地方，启动电压在5kv到10kv之间。本实例中，该装置中的电极形状将是一个点状电极，以便于击穿火花装置和被测电极之间的间隙。
[0041]
本发明实施例提供的电弧放电光谱检测装置，通过获取被测样品进行电弧放电时产生的光信号进行探测，得到电信号，经过对未工作样品的电信号和工作若干次样品的电信号进行分析，确定被测样品中各组分的含量变化情况，从而确定待测样品的健康状态。即采用无损检测的方式使得在经过检测之后，被测样品能够继续使用，从而降低成本。
[0042]
在一实施方式中，所述信号探测模块包括至少一个信号探测单元，所述信号探测单元包括信号传输单元和探测单元，所述探测单元包括至少一个光电二极管或定制相机；所述信号传输单元采集被测样品未工作前进行电弧放电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号，将所述第一光信号和所述第二光信号传输至所述探测单元；所述探测单元将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号输出。
[0043]
其中，信号传输单元可以采用光纤实现光信号传输，也可以采用其他方式，当采用光纤传输时，光纤线芯直径在10到400微米之间。加上外包层后直径在100微米至1000微米之间。阶跃折射率光纤(step index fiber)和梯度折射率光纤(graded index fiber)均可。光纤需要放置在保护管中加以保护。
[0044]
当探测单元中包括两个或两个以上的光电二极管时，多个光电二极管之间具有不同的响应速度，但是具有重叠的光谱响应。当探测单元包括定制相机时，定制相机能够根据接收到的光谱范围不同，形成红绿蓝像素，后续信号处理模块会根据红绿蓝像素的多寡做出定量分析。此外，探测单元中也可以只设置一个光电二极管，本发明实施例对此不作限定。
[0045]
具体在选择探测单元中的光电二极管的数量时，可以基于被测样品进行电弧放电时产生的光信号频谱选取，如光信号频谱只集中在红绿蓝中的一个区域，则可以只选取一个光电二极管；当集中在红绿蓝的任意两个区域时，则选取对相应区域敏感的两个光电二极管；当分布在红绿蓝三个区域时，则可以选取三个分别对红绿蓝敏感的光电二极管。
[0046]
在一实施方式中，所述信号探测单元还包括：过滤器和可替换观察窗，所述过滤器设置在所述信号传输单元和所述探测单元之间，能够保护探测单元；所述可替换观察窗设置在信号探测单元的采样点，所述可替换观察窗和所述信号传输单元连接。当所述信号探测模块包括多个信号探测单元时，多个信号探测单元的采样点位置相同或不同，当采样点位置相同时，多个信号探测单元中的过滤器具有不同的衰减波段。其中，过滤器为光学滤波
器。
[0047]
当采用多个信号探测单元时，能够获得更加精确的结果。由于该电弧放电光谱检测装置检测的光信号产生原理是根据核外电子受能量激发而跃迁的原理，同一种被检测材料可能在多个波段(而不是一个波段)产生跃迁。被检测的材料亦可能是含有多种元素的合金(或复合材料)，这就需要对更多的波段有响应。配置多个信号探测单元并配合使用不同波段的滤波器，能够起到交互印证实验结果的作用。可以进一步确定被测样品的健康状态。同理，多个信号探测单元的采样点位置不同时，能够对不同位置进行检测，由此，多个位置的检测结果也能相互验证，提高检测结果的精度。
[0048]
具体地，多个信号探测单元进行探测时，信号处理模块对每个信号探测单元探测的信号进行定量分析，得到相应的检测结果。通过综合多个检测结果，采用平均或加权处理等方式，从而得到更加准确的检测结果。
[0049]
实施例2
[0050]
本发明实施例提供一种电弧放电光谱检测装置，如图2所示，该装置包括信号探测模块和信号处理模块，信号探测模块包括一个信号探测单元，信号探测单元包括依次设置的光纤、过滤器和探测单元，光纤的一端设置有可替换观察窗，用以观察放电情况，过滤器设置在光纤的另一端，光纤采集的光信号通过过滤器过滤后进入探测单元进行探测。其中，设置在光纤和探测单元之间的过滤器能够实现对探测单元的保护。
[0051]
在探测单元中设置有两个光电二极管或者由定制相机构成的二维阵列；两个光电二极管的响应速度彼此不同但具有重叠的光谱响应。光电二极管的响应光谱区间为400纳米至1000纳米，光谱重叠范围在450纳米至800纳米。而二维阵列会根据接受到的光谱范围不同，而形成红绿蓝像素。后续信号处理模块会根据红绿蓝像素的多寡做出定量分析。
[0052]
实施例3
[0053]
本发明实施例提供一种电弧放电光谱检测装置，该装置包括信号探测模块和信号处理模块，信号探测模块包括多个信号探测单元，每个信号探测单元的结构和实施例2中的相同，在此不再赘述。其中，多个信号探测单元的采样点部署在同一个位置或者部署在不同位置。
[0054]
如图3所示，当多个信号探测单元的采样点位于同一个位置时，每个信号探测单元中的过滤器的衰减波段各不相同。例如，具有两个信号探测单元时，一个信号探测单元中的过滤器衰减低波段(例如400纳米至500纳米)的光，另一个信号探测单元过滤器将衰减高波段(例如800纳米至1000纳米)的光。
[0055]
如图4所示，当多个信号探测单元的采样点位于不同位置时，该多个不同位置均在发生电弧放电的位置处，对于具体位置坐标不作具体限定。
[0056]
实施例4
[0057]
本发明实施例还提供一种电弧放电光谱检测方法，如图5所示，该方法包括如下步骤：
[0058]
步骤s101：荻取被测样品未工作前进行电弧放电时的第一光信号和工作若干次后进行电弧放电时的第二光信号。具体地，为了检测被测样品工作一段时间之后样品中各组分的变化，需要在被测样品未工作之间进行一次小能量电火花电弧实验，得到初始值(第一光信号)；然后，在工作一段时间之后再进行一次电弧实验，得到当前值(第二光信号)。其
中，若被测样品为断路器电触头，则可以进行若干次断路器开关作业后，进行电弧实验，获取当前值。
[0059]
需要说明的是，第一光信号或第二光信号中包含的光信号的数量可能是一个或多个，其具体数量与获取光信号时采用的光电二极管的数量相关。当采用一个光电二极管时，第一光信号或第二光信号中分别包含一个光信号；当采用两个光电二极管时，第一光信号或第二光信号中分别包含两个光信号；当采用三个光电二极管时，第一光信号或第二光信号中分别包含三个光信号。
[0060]
步骤s102：将所述第一光信号转换为第一电信号、所述第二光信号转换为第二电信号。具体地，可以采用光电二极管或者定制相机实现光信号的转换。同样的，第一电信号或第二电信号中包含的电信号的数量与第一光信号或第二光信号中包含的光信号的数量一致，在此不再赘述。
[0061]
步骤s103：比较所述第一电信号和所述第二电信号，确定被测样品的健康状态。具体地，由于第一电信号是被测样品未工作前获取的信号，第二光信号是被测样品工作一端时间后得到的信号，因此，通过比较第一电信号和第二电信号，能够确定被测样品中各化学组分的变化，从而确定被测样品的健康状态。
[0062]
其中，为了能够更精准确定组分变化，针对每种类型的被测样品，可以采用上述方法预先确定被测样品工作后信号的变化和组分的变化之间的关系。然后实际应用中，当通过上述步骤得到第一电信号和第二电信号之后，能够直接通过比较第一电信号和第二电信号确定被测样品的组分变化。
[0063]
本发明实施例提供的电弧放电光谱检测方法，通过获取被测样品进行电弧放电时产生的光信号进行探测，得到电信号，经过对未工作样品的电信号和工作若干次样品的电信号进行分析，确定被测样品中各组分的含量变化情况，从而确定待测样品的健康状态。即采用无损检测的方式使得在经过检测之后，被测样品能够继续使用，从而降低成本
[0064]
实施例5
[0065]
本发明实施例还提供一种电弧放电光谱检测方法，该实施例中被测样品为断路器的铜电极，首先采用实施例4所述的方法获取得到第一电信号和第二电信号，在该实施例中，第一电信号和第二电信号中均只包括一个电信号，即采用一个光电二极管进行光信号的探测。当得到第一电信号和第二电信号后，通过将第一电信号和第二电信号作差，确定二者的偏差值，然后通过该偏差值和化学组分的关系确定被测样品中化学组分的变化。此外，也可以设置阈值，将计算的偏差值和阈值进行比较，判断被测样品是否继续使用。
[0066]
实施例6
[0067]
本发明实施例还提供一种电弧放电光谱检测方法，该实施例中被测样品为断路器的铜电极，首先采用实施例4所述的方法获取得到第一电信号和第二电信号，在该实施例中，所述第一电信号包括第三电信号和第四电信号，所述第二电信号包括第五电信号和第六电信号。由于每个电信号中均包括两个电信号，无法直接进行比较，因此，先根据所述第三电信号和第四电信号分别与第一电信号的比值确定直角坐标系中的第一位置坐标；然后根据所述第五电信号和第六电信号分别与第二电信号的比值确定直角坐标系中的第二位置坐标；最终根据所述第一位置坐标和第二位置坐标的差值确定被测样品的健康状态。
[0068]
具体地，第一位置坐标中的x坐标为x＝pd1/(pd1+pd2)，y坐标为y＝pd2/(pd1+
pd2)，其中pd1表示第三电信号，pd2表示第四电信号。第二位置坐标可以根据同样的计算方式计算得到；然后将第一位置坐标和第二位置坐标放入同一坐标系中，计算二者之间的距离，并根据该距离和化学组分的关系确定被测样品中化学组分的变化。此外，也可以设置阈值，将计算的距离和阈值进行比较，判断被测样品是否继续使用。
[0069]
若被测样品能继续使用，在被测样品继续工作一段时间之后，还可以获取新的第二电信号，然后通过上述方式确定新的第二电信号和第一电信号之间的关系，从而能实现被测样品的持续检测。
[0070]
实施例7
[0071]
本发明实施例还提供一种电弧放电光谱检测方法，该实施例中被测样品为断路器的铜电极，首先采用实施例4所述的方法获取得到第一电信号和第二电信号，在该实施例中，所述第一电信号包括第一红光电信号、第一绿光电信号和第一蓝光电信号，所述第二电信号包括第二红光电信号、第二绿光电信号和第二蓝光电信号，在确定被测样品的健康状态时，先根据所述第一红光电信号、第一绿光电信号和第一蓝光电信号之间的差值确定极坐标系中的第一位置坐标；然后基于和确定第一位置坐标同样的方式，根据所述第二红光电信号、第二绿光电信号和第二蓝光电信号之间的差值确定极坐标系中的第二位置坐标；最终根据所述第一位置坐标和第二位置坐标的差值确定被测样品的健康状态。
[0072]
其中，所述第一位置坐标采用如下公式确定：
[0073]
l＝(b+g+r)/3；
[0074]
s＝[max(b，g，r)-min(b，g，r)]/[max(b，g，r)+min(b，g，r)]；
[0075]
h＝240-120g/(g+b)(当r＝0时)
[0076]
h＝360-120b/(b+r)(当g＝0时)
[0077]
h＝120-120r/(r+g)(当b＝0时)
[0078]
其中，r＝r-min(b，g，r)；g＝g-min(b，g，r)；b＝b-min(b，g，r)，r表示第一红光电信号，g表示第一绿光电信号，b表示第一蓝光电信号，h表示第一位置坐标中的角参数，l和s表示第一位置坐标中的半径参数。
[0079]
当确定上述参数后，在极坐标系中，确定第一位置坐标时，根据角参数和半径参数得到hl极坐标或hs极坐标作为第一位置坐标。同理，采用同样的方式，确定第二位置坐标中的hl极坐标或hs极坐标，然后根据两个hl极坐标或两个hs极坐标之间的距离，并根据该距离和化学组分的关系确定被测样品中化学组分的变化。此外，也可以设置阈值，将计算的距离和阈值进行比较，判断被测样品是否继续使用。
[0080]
此外，当所述第一电信号包括第一红光电信号、第一绿光电信号和第一蓝光电信号，所述第二电信号包括第二红光电信号、第二绿光电信号和第二蓝光电信号时，也可以采用和实施例6同样的方式，计算第一电信号和第二电信号中每个电信号占相应第一电信号或第二电信号的比值，得到第一电信号对应的第一位置坐标中的三个坐标以及第二电信号对应的第二位置坐标中的三个坐标，然后将对应的坐标置于同样的三维坐标坐标系中，计算第一位置坐标和第二位置坐标之间的距离，从而基于该距离实现对被测样品的检测。
[0081]
实施例8
[0082]
本发明实施例还提供一种存储介质，如图6所示，其上存储有计算机程序601，该指令被处理器执行时实现上述实施例中电弧放电光谱检测方法的步骤。该存储介质上还存储
有音视频流数据，特征帧数据、交互请求信令、加密数据以及预设数据大小等。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(random access memory，ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
[0083]
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(random access memory，ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
[0084]
实施例9
[0085]
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图7所示，该电子设备可以包括处理器51和存储器52，其中处理器51和存储器52可以通过总线或者其他方式连接，图7中以通过总线连接为例。
[0086]
处理器51可以为中央处理器(central processing unit，cpu)。处理器51还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
[0087]
存储器52作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的对应的程序指令/模块。处理器51通过运行存储在存储器52中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的电弧放电光谱检测方法。
[0088]
存储器52可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作装置、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器51所创建的数据等。此外，存储器52可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器52可选包括相对于处理器51远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器51。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
[0089]
所述一个或者多个模块存储在所述存储器52中，当被所述处理器51执行时，执行如图5所示实施例中的电弧放电光谱检测方法。
[0090]
上述电子设备具体细节可以对应参阅图5所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
[0091]
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。