技术特征：
1.一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上端面转动连接有一根转动杆(2)与两根螺纹杆(4)，所述转动杆(2)外壁套设有套环(3)，所述套环(3)通过限制机构与转动杆(2)连接，所述底座(1)上方设有两个位于转动杆(2)两侧的探针台(6)，两个所述探针台(6)均通过衔接机构与套环(3)连接，两根所述螺纹杆(4)外壁均螺纹套设有螺母(5)，所述螺母(5)上下端面均固定有限位板(13)，所述限位板(13)上设有与探针台(6)对应的固定机构，所述底座(1)内部设有腔体(15)，两根所述螺纹杆(4)端部均与腔体(15)内底壁转动连接，所述腔体(15)内设有与转动杆(2)配合的第一驱动电机(16)，所述腔体(15)内还设有与其中一根螺纹杆(4)连接的第二驱动电机(17)，两根所述螺纹杆(4)之间通过传动机构连接。2.根据权利要求1所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述限制机构多条固定于转动杆(2)外壁的凸条(10)，所述套环(3)内壁设有多个与凸条(10)对应的凹槽(11)，所述转动杆(2)外壁固定有用于支撑套环(3)的支撑环。3.根据权利要求2所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述衔接机构包括多条固定于套环(3)外壁的衔接杆(7)，所述探针台(6)外壁设有与衔接杆(7)对应的衔接槽(8)，所述探针台(6)端面螺纹连接有延伸至衔接槽(8)内的紧固螺栓，所述衔接杆(7)上设有与紧固螺栓配合的第一连接孔(9)。4.根据权利要求3所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述固定机构包括螺纹连接在限位板(13)上的固定螺栓(14)，所述探针台(6)上端面设有与固定螺栓(14)配合的第二连接孔。5.根据权利要求4所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述传动机构包括固定于两根螺纹杆(4)外壁的传动皮带轮，两个所述传动皮带轮之间通过连接皮带连接。6.根据权利要求5所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述底座(1)上端面固定有两根限制杆(12)，两根所述限制杆(12)均滑动贯穿螺母(5)。
技术总结
本实用新型公开了一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座，所述底座上端面转动连接有一根转动杆与两根螺纹杆，所述转动杆外壁套设有套环，所述套环通过限制机构与转动杆连接，所述底座上方设有两个位于转动杆两侧的探针台，两个所述探针台均通过衔接机构与套环连接。本实用新型通过设置转动杆、螺纹杆、套环、与传动机构，当探针台不与螺母上的限制板固定连接的时候，通过转动杆仅能实现转动功能，当其与螺母上的限制板固定连接的时候，通过螺纹杆与螺母配合能实现起升降功能，旋转与升降功能实现简单，装置整体结构合理，能使装置在实际使用过程中具备一定实用性与便利性。置在实际使用过程中具备一定实用性与便利性。置在实际使用过程中具备一定实用性与便利性。
技术研发人员：顾海娟
受保护的技术使用者：上海旭睿电子科技有限公司
技术研发日：2022.02.15
技术公布日：2022/10/4