积层陶瓷电容器侧面外观检验治具的制作方法

1.本实用新型涉及积层陶瓷电容器技术领域，尤其涉及一种用于对积层陶瓷电容器的侧面外观进行检验的治具。


背景技术：

2.积层陶瓷电容器(multi-layer ceramic capacitors，简称mlcc)由印好内电极的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合后经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片，然后在陶瓷芯片的两端封上金属层(端电极)而形成。积层陶瓷电容器在生产过程中会出现表面脏污、变形、破损、划伤、断裂、外鼓、穿孔、爆裂等缺，因此需要对其侧面外观进行检验。
3.目前，对mlcc的六个表面进行外观检验的方法是直接将产品平铺在纸板上来检验其外观，这种外观检验方式一次只能对一个面进行检验，而且换面时只能通过摇晃纸板，使产品随机重排以进行换面，这种方式并不能保证每个产品都翻面，因此不能精确的对每个产品的六面外观都观察到，检验精度不高，而且检验效率低。
4.因此，有必要提供一种检验精度高、检验效率高的检验治具，以解决上述问题。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种检验精度高、检验效率高的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具。
6.为实现上述目的，本实用新型的技术方案为：提供一种积层陶瓷电容器侧面外观检验治具，其包括第一治具以及第二治具，第一治具上开设有至少一个第一凹槽，第二治具上开设有与所述第一凹槽相对应的第二凹槽；所述第一治具、所述第二治具具有一分离状态以及一叠置状态，且所述第一治具、所述第二治具处于所述叠置状态时，所述第一凹槽与所述第二凹槽正对，通过处于所述分离状态的所述第一治具或所述第二治具对积层陶瓷电容器的一部分侧面进行检测，并通过处于所述叠置状态的所述第一治具、所述第二治具实现所述积层陶瓷电容器的翻面以对其另一部分侧面进行检测。
7.较佳地，所述第一治具上开设有相平行的多个所述第一凹槽，所述第二治具上开设有与所述第一凹槽相对应的所述第二凹槽，因此，当所述第一治具、所述第二治具处于叠置状态时，第二凹槽与第一凹槽相对应，从而使所述积层陶瓷电容器的同时容置于第一凹槽、第二凹槽内。
8.较佳地，各所述第一凹槽的大小、形状相同，各所述第二凹槽的大小、形状相同，并且第一凹槽、第二凹槽的大小、形状可相同也可不同。
9.较佳地，所述第一凹槽、所述第二凹槽的形状与待检测的积层陶瓷电容器的侧面形状相同，因此，当积层陶瓷电容器容置于第一凹槽或/和第二凹槽内时，均可被固定住。
10.较佳地，所述第一治具具有第一表面，所述第一凹槽开设于所述第一表面，所述第二治具具有第二表面，所述第二凹槽开设于所述第二表面，所述第一治具、所述第二治具处于所述叠置状态时，所述第一表面、所述第二表面相贴合或具有一定间隙，使所述积层陶瓷
电容器容置于所述第一凹槽、所述第二凹槽内，通过翻转处于所述叠置状态的所述第一治具、所述第二治具而实现所述积层陶瓷电容器的翻面。
11.较佳地，所述第一凹槽、所述第二凹槽均具有呈夹角的第一斜面、第二斜面，所述第一斜面、所述第二斜面之间的夹角与所述积层陶瓷电容器的相邻的两侧面之间的夹角相对应，因此，当积层陶瓷电容器容置于第一凹槽或/和第二凹槽内时，均可被固定住。
12.较佳地，所述第一斜面、所述第二斜面之间呈v形结构，因此主要适用于方形或矩形的积层陶瓷电容器容的检测。
13.较佳地，所述第一凹槽的第一斜面、第二斜面的顶部与所述第一表面之间呈弧形过渡；所述第二凹槽的第一斜面、第二斜面的顶部与所述第二表面之间呈弧形过渡，这样，便于积层陶瓷电容器容滑入第一凹槽或/和第二凹槽内。
14.较佳地，所述第二凹槽的最大宽度大于等于所述第一凹槽的最大宽度。
15.较佳地，所述第一凹槽、所述第二凹槽的最大宽度大于等于1.3mm，相邻的两所述第一凹槽、相邻的两所述第二凹槽之间的间距大于等于0.8mm。
16.与现有技术相比，由于本实用新型的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具，具有第一治具以及第二治具，第一治具上开设有至少一个第一凹槽，第二治具上开设有与第一凹槽相对应的第二凹槽，并且，第一治具、第二治具具有一分离状态以及一叠置状态，当第一治具、第二治具处于分离状态时，将积层陶瓷电容器植入第一治具的第一凹槽内或第二治具的第二凹槽，因此可对积层陶瓷电容器的一部分侧面进行检测，当第一治具、第二治具处于所述叠置状态时，所述第一凹槽与所述第二凹槽正对，因此，积层陶瓷电容器容置于第一凹槽和第二治具内，对处于所述叠置状态的第一治具、第二治具进行整体翻面，由此实现批量的积层陶瓷电容器的翻面，从而可对积层陶瓷电容器的另一部分侧面进行检测，因此保证每个积层陶瓷电容器都能实现翻面，从而精确的对每个积层陶瓷电容器的外观都检测到，检验精度高，并且检验效率高。
附图说明
17.图1是本实用新型第一实施例之第一治具的俯视图。
18.图2是图1的侧视图。
19.图3是图2中a部分的放大示意图。
20.图4是本实用新型第二实施例之第一治具的侧视图。
21.图5是图4中b部分的放大示意图。
22.图6是本实用新型第三实施例之第一治具的侧视图。
23.图7是图6中c部分的放大示意图。
24.图8是本实用新型第四实施例之第一治具的侧视图。
25.图9是图8中d部分的放大示意图。
26.图10是图1中的第一治具承载积层陶瓷电容器的局部俯视图。
27.图11是图10的侧视图。
28.图12是第二治具叠置于图11中的第一治具上的侧视图。
29.图13是图12中第二治具翻转后的状态示意图。
具体实施方式
30.现在参考附图描述本实用新型的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。需说明的是，本实用新型所涉及到的方位描述，例如上、下、左、右、前、后等指示的方位或位置关系均为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术的技术方案或/和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。所描述到的第一、第二等只是用于区分技术特征，不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
31.结合图1-图13所示，本实用新型的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具1，主要适用于对积层陶瓷电容器2的外观进行检验，但是并不以此为限，其当然还可以用于其他相类似产品的外观检测。另外，本实用新型所涉及到的积层陶瓷电容器2的尺寸、规格等均为本领域普通技术人员所熟知的常规结构，因此，在本实用新型中不作详细说明。
32.下面先结合图1-图13所示，本实用新型所提供的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具1，其包括第一治具100以及第二治具200。其中，第一治具100上开设有至少一个第一凹槽110，第二治具200上开设有与第一凹槽110相对应的第二凹槽210；并且，第一治具100、第二治具200具有一分离状态以及一叠置状态，且第一治具100、第二治具200处于所述叠置状态时，第一凹槽110与第二凹槽210正对，因此，通过处于所述分离状态的第一治具100或第二治具200对积层陶瓷电容器2的一部分侧面进行检测，并通过处于所述叠置状态的第一治具100、第二治具200实现积层陶瓷电容器2的批量翻面，以对积层陶瓷电容器2的另一部分侧面进行检测。
33.下面参看图1-9所示，在本实用新型中，所述第一治具100上开设有相平行的多个第一凹槽110，并且各个第一凹槽110的大小、形状优选相同。当然，也可以在第一治具100上设置大小、形状不同的多个第一凹槽110。
34.参看图12所示，所述第二治具200上开设有与第一凹槽110相对应的第二凹槽210，各个第二凹槽210的大小、形状优选相同，至于第二凹槽210的大小可与第一凹槽110的大小相同或不同。当然，也可以在第二治具200上设置大小、形状不同的多个第二凹槽210。
35.继续参看图12所示，本实用新型中，第一凹槽110、第二凹槽210的形状均与待检测的积层陶瓷电容器2的侧面形状相同，也就是说，根据待检测的积层陶瓷电容器2的不同尺寸以及侧面形状，对第一凹槽110、第二凹槽210进行相应设计，使得积层陶瓷电容器2容置于第一凹槽110或者第二凹槽210内之后均可被固定，这样，当批量的积层陶瓷电容器2被置于第一治具100或者第二治具200上时，各积层陶瓷电容器2可容置于第一凹槽110或者第二凹槽210内，从而可对其露出于第一凹槽110或者第二凹槽210的侧面进行检测。
36.下面结合图1-9所示，对本实用新型中第一治具100的不同设置方式分别进行说明。
37.先结合图1-图3所示，在本实用新型的第一实施例中，所述第一治具100具有第一表面120，多个第一凹槽110间隔地开设于第一表面120上，在本实施例中，相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2优选为0.8mm，如图3所示，但是并不以此为限，当然可根据需要将间距h2设置为其他数值。并且，每个第一凹槽110均具有呈夹角的第一斜面111、第二斜面112，第一斜面111、第二斜面112之间的夹角a与积层陶瓷电容器2的相邻的两侧面之间的夹角相
对应，在本实施例中，第一斜面111、第二斜面112之间的夹角a优选呈直角，因此，从图2-3所示的侧视图来看，第一凹槽110呈v形结构，这种结构的第一凹槽110主要适用于呈方形或矩形的积层陶瓷电容器2，可理解地，根据积层陶瓷电容器2的外部形状，当然也可以将第一凹槽110设置为相应的其他形状。
38.参看图3所示，在本实施例中，第一凹槽110的顶部的宽度h1优选为1.3mm，也即，第一凹槽110的最大宽度h1为1.3mm，当然，第一凹槽110的顶部的宽度h1还可以根据检测需要设置为其他数值，详见后述。
39.结合图10-图11所示，当相应规格的积层陶瓷电容器2容置于本实施例中的第一治具100的第一凹槽110后，积层陶瓷电容器2的相邻两侧面2c、2d贴合于第一斜面111、第二斜面112而被固定，其另外的两侧面2a、2b露出于第一治具100，因此，可以对积层陶瓷电容器2的侧面2a、2b进行检测。
40.继续参看图2-图3所示，在本实施例中，第一凹槽110的第一斜面111、第二斜面112的顶部与第一表面120之间优选呈弧形过渡，这样更便于积层陶瓷电容器2快速滑入第一凹槽110内。当然，第一斜面111、第二斜面112的顶部与第一表面120之间并不限于呈弧形过渡，也可以直接呈角度设置。
41.下面结合图4-图5所示，在本实用新型的第二实施例中，所述第一治具100上的第一凹槽110的设置方式与上述第一实施例中的相同，因此对相同部分不再重复描述，下面主要对不同之处进行说明。
42.在本实施例中，第一凹槽110的宽度略大，具体地，第一凹槽110的顶部的宽度h1优选为2.0mm，也即，第一凹槽110的最大宽度h1为2.0mm，并且，相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2优选为0.8mm，由于第一凹槽110的最大宽度h1增大，因此在第一治具100的长度相同的前提下，本实施例中的第一治具100上的第一凹槽110的数量将会少于上述第一实施例的第一治具100上的第一凹槽110的数量。本实施例中的第一治具100适用于尺寸略大的积层陶瓷电容器2的检测。可理解地，第一凹槽110的顶部的宽度h1、相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2均可以根据检测需要设置为其他数值，详见后述。
43.下面结合图6-图7所示，在本实用新型的第三实施例中，所述第一治具100上的第一凹槽110的设置方式与上述第一、第二实施例中的相同，因此对相同部分不再重复描述，下面主要对不同之处进行说明。
44.在本实施例中，第一凹槽110的顶部的宽度h1优选为2.5mm，也即，第一凹槽110的最大宽度h1为2.5mm，相应的，相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2也略微增大，在本实施例中，相邻两第一凹槽110之间的间距h2优选为1.0mm。本实施例中的第一治具100适用于尺寸更大的积层陶瓷电容器2的检测。可理解地，第一凹槽110的顶部的宽度h1、相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2均可以根据检测需要设置为其他数值，详见后述。
45.下面结合图8-图9所示，在本实用新型的第四实施例中，所述第一治具100上的第一凹槽110的设置方式与上述第一、第二、第三实施例中的相同，因此对相同部分不再重复描述，下面主要对不同之处进行说明。
46.在本实施例中，第一凹槽110的顶部的宽度h1优选为3.9mm，也即，第一凹槽110的最大宽度h1为3.9mm，相应的，相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2增加为1.1mm。本实施例的第一治具100适用于尺寸更大的积层陶瓷电容器2的检测。可理解地，第一凹槽110的顶
部的宽度h1、相邻的两个第一凹槽110之间的间距h2均可以根据检测需要设置为其他数值。
47.下面参看图12所示，本实用新型中，所述第二治具200具有第二表面220，多个第二凹槽210相间隔地开设于所述第二表面220。其中，第二凹槽210的设置方式与上述各实施例中的第一治具100相同，因此，不再重复描述。
48.当第一治具100、第二治具200处于所述叠置状态时，第一治具100的第一表面120与第二治具200的第二表面220相贴合，以使所述积层陶瓷电容器2同时容置于第一凹槽110、第二凹槽210内，此时，通过整体翻转处于所述叠置状态的第一治具100、第二治具200，即可实现批量积层陶瓷电容器2的翻面，保证所有的积层陶瓷电容器2均可被翻面，从而实现积层陶瓷电容器2的所有侧面的检测，提高检测精度以及效率。
49.下面结合图10-图13所示，对本实用新型的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具1的使用方式及原理进行说明。
50.首先，根据积层陶瓷电容器2的具体规格，选择相应尺寸规格的第一治具100、第二治具200，其中，第一治具100、第二治具200可以选择相同规格的，也可以选择第二治具200的第二凹槽210的尺寸略大于第一治具100的第一凹槽110的，图12中所选用的是相同规格的第一治具100、第二治具200。
51.接着，对积层陶瓷电容器2进行第一次检测。如图10-11所示，将批量的积层陶瓷电容器2至于第一治具100上的第一表面120，通过摇晃等方式使批量的积层陶瓷电容器2掉入第一凹槽110内，此时，积层陶瓷电容器2的相邻的两个侧面2c、2d容置于第一凹槽110内，同时其另外两个侧面2a、2b露出于第一治具100，如图11所示，此时可对积层陶瓷电容器2的露出于第一治具100的两个侧面2a、2b进行检测，实现批量检测，提高检测效率。当然，也可以利用第二治具200来对积层陶瓷电容器2进行第一次检测。
52.当所有积层陶瓷电容器2的侧面2a、2b均检测完成后，对积层陶瓷电容器2进行第二次检测。参看图12所示，先将第二治具200叠置于第一治具100的第一表面120，此时，若第二治具200的第二凹槽210的尺寸略大于第一治具100的第一凹槽110，则第二治具200的第二表面220贴合于第一治具100的第一表面120，若第二治具200的第二凹槽210的尺寸与第一治具100的第一凹槽110的尺寸相同，则第二治具200的第二表面220与第一治具100的第一表面120之间略有间隙，具体参看图12所示的状态。由于第二凹槽210与第一凹槽110相对应，因此，积层陶瓷电容器2的同时容置于第一凹槽110、第二凹槽210内，即，积层陶瓷电容器2的相邻的两个侧面2c、2d容置于第一凹槽110内，积层陶瓷电容器2的另外两个侧面2a、2b容置于第二凹槽210内，如图12所示。
53.然后，将叠置状态的第一治具100、第二治具200整体翻转180
°
，使第二治具200位于第一治具100的下方，然后移走第一治具100，此时积层陶瓷电容器2的两个侧面2a、2b容置于第二凹槽210内，积层陶瓷电容器2的另外两个侧面2c、2d则露出于第二治具200，如图13所示，此时实现多个积层陶瓷电容器2的批量翻面，不仅保证所有的积层陶瓷电容器2均可被翻面，并且提高了翻面的效率。
54.最后，对各积层陶瓷电容器2的露出于第二治具200的两个侧面2c、2d进行检测，实现批量检测，提高检测效率。当然，也可以利用第一治具100来对积层陶瓷电容器2进行第二次检测，具体方式如上所述，不再重复描述。
55.综上所述，由于本实用新型的积层陶瓷电容器侧面外观检验治具1，具有第一治具
100以及第二治具200，第一治具100上开设有至少一个第一凹槽110，第二治具200上开设有与第一凹槽110相对应的第二凹槽210，并且，第一治具100、第二治具200具有一分离状态以及一叠置状态，当第一治具100、第二治具200处于分离状态时，将积层陶瓷电容器2植入第一治具100的第一凹槽110内或第二治具200的第二凹槽210，因此可对积层陶瓷电容器2的一部分侧面进行检测，然后使第一治具100、第二治具200处于所述叠置状态，此时所述第一凹槽110与所述第二凹槽210正对，因此，积层陶瓷电容器2容置于第一凹槽110和第二治具200内，对处于所述叠置状态的第一治具100、第二治具200进行翻面后，可使批量的积层陶瓷电容器2实现翻面以对其另一部分侧面进行检测，因此保证每个积层陶瓷电容器2都能实现翻面，从而精确的对每个积层陶瓷电容器2的外观都检测到，检验精度高，并且检验效率高。
56.至此，以说明和描述的目的提供上述实施例的描述，不意指穷举或者限制本公开。特定的实施例的单独元件或者特征通常不受到特定的实施例的限制，但是在适用时，即使没有具体地示出或者描述，其可以互换和用于选定的实施例。在许多方面，相同的元件或者特征也可以改变，这种变化不被认为是偏离本技术，并且所有的这种修改意指为包括在本技术的范围内。
57.提供示例实施例，从而使本技术变得透彻，并且将会完全地将该范围传达至本领域内技术人员。为了透彻理解本技术的实施例，阐明了众多细节，诸如特定零件、装置和方法的示例，显然，对于本领域内技术人员，不需要使用特定的细节，示例实施例可以以许多不同的形式实施，而且两者都不应当解释为限制本技术的范围，在某些示例实施例中，不对公知的工序、公知的装置结构和公知的技术进行详细地描述。
58.以上所揭露的仅为本实用新型的优选实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖的范围。