一种滤线栅检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及滤线栅检测技术领域，具体涉及一种滤线栅检测装置。


背景技术：

2.在拍摄骨骼、腰脊椎、盆骨等人体组织x射线图像时，由于这些组织部位密度相对较大，对x射线吸收率比较高，要使图像清晰就要使用大剂量的x射线。但当剂量较大时，这些射线会有很大程度的散射，影响图像质量；为了吸收这些散射线，目前采用的方法是在探测器前放置滤线栅，滤线栅可以吸收掉那些方向交错无序的散射线。为了能够使滤线栅有效发挥其作用，滤线栅的生产质量尤为关键。
3.目前，在滤线栅的生产检测环节，主要通过人为观测显微镜下的滤线栅的形貌，判断滤线栅是否符合生产要求。但是，检测人员之间的主观判定易造成误差，成本高且效率低。
4.因此，如何提高滤线栅的检测效率成为本领域技术人员亟需解决的问题。


技术实现要素：

5.鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种滤线栅检测装置，以提高在生产检测环节的检测滤线栅的效率，降低检测误差。
6.为了实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种滤线栅检测装置，包括：
7.暗箱；
8.光源，设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端；
9.探测器，放置于暗箱内，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。
10.可选地，还包括：
11.升降装置，设置于暗箱内且设置于暗箱的底端，探测器放置于升降装置靠近光源的一侧。
12.可选地，升降装置沿暗箱的底端至顶端依次包括：
13.底座，与暗箱的底端贴合；
14.升降机构，与底座固定连接，并沿暗箱的底端向顶端往复移动；
15.置物台，与升降机构固定连接，并跟随升降机构移动，探测器设置于置物台上。
16.可选地，置物台在靠近升降机构的表面边缘安装有高度微调装置。
17.可选地，升降装置的横截面积小于暗箱的横截面积。
18.可选地，还包括：
19.防散射装置，覆盖探测器的表面，使穿过滤光栅的光透过防散射装置至探测器。
20.可选地，防散射装置为光纤板或平行光管。
21.可选地，光源的周围还覆盖有光纤罩，以将光源发出的光汇聚为锥形。
22.可选地，暗箱的箱壁表面覆盖有避光材料。
23.可选地，探测器的像素大小小于或等于50μm。
24.与现有技术相比，本实用新型所述滤线栅检测装置至少具备如下有益效果：
25.本实用新型所述的滤线栅检测装置包括暗箱、探测器和光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器放置于暗箱的内部，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。光源透过滤线栅后投射至探测器上，在探测器上形成清晰的滤线栅的形貌，进而快速有效的检测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况，避免了人工检测的误差，有效提高了检测效率，降低了人工成本。
26.经统计，检测人员人工检测每片滤线栅的效率预计3～5min左右。本实用新型可以在30s内完成检测，检测效率大大提升。
附图说明
27.图1为本实用新型所述检测滤线栅装置的暗箱结构示意图；
28.图2为放置有待检测的滤线栅的本实用新型所述检测滤线栅装置的暗箱内部结构分解示意图；
29.图3为本实用新型所述高度微调装置的结构示意图；
30.图4为本实用新型所述检测滤线栅装置使用时的光线传播示意图。
31.附图标记列表：
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暗箱
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11
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暗箱门
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顶端
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13
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底端
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14
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承托结构
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升降装置
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21
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置物台
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22
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升降机构
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23
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底座
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探测器
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防散射装置
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滤线栅
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光源
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高度微调装置
具体实施方式
[0046]
以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0047]
须知，本实用新型实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本实用新型的基本构
想，虽图示中仅显示与本实用新型中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的形态、数量及比例可随意的改变，且其组件布局形态也可能更为复杂。说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
[0048]
本实施例提供一种滤线栅检测装置，该滤线栅检测装置包括暗箱、探测器及光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器设置于暗箱内，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。在对滤线栅进行检测时，滤线栅检测装置中的光源透过滤线栅，将滤线栅内部的形貌投射至探测器上，由探测器对其形貌图进行分析，检测出其是否符合生产要求。
[0049]
具体地，参照图1，暗箱1用于提供暗室环境，用于防止外部的光对检测装置的检测结果产生影响，同时还能够保护腔室内的检测装置。可选地，暗箱1可以通过在普通箱体的表面涂覆避光材料而获得，其中，避光材料可以为黑色吸光材料。暗箱1的周边需要完全避光，即使线路引入部分也需要通过黑色材质包覆避免外界光引入。
[0050]
暗箱1上设置有暗箱门11，可以通过暗箱门11对位于暗箱1内部的部件进行布置安装，在对滤线栅进行检测时，通过打开暗箱门11完成滤线栅5的放置及更换。暗箱1的内箱壁上设置有承托结构14，用于承托放置于暗箱1内的滤线栅。并且，可以根据不同的检测需求在暗箱1的内壁上设置多个承托结构14，以便于随时调节放置于承托结构14上的滤线栅相对于探测器3以及光源6的位置。可选地，该承托结构14可以为类似卡扣、凸缘以及凹槽类的结构。在本实施例中，暗箱1的尺寸为80cm*80cm*100cm。需要说明的是，暗箱1的尺寸不仅限于本实施例所公开的尺寸，可以根据具体需求进行设置。
[0051]
参照图1，光源6设置于暗箱1内且设置于暗箱1的顶端12，可以通过在暗箱1内的顶端中心设置挂钩，将光源6吊挂于暗箱1的顶端12的中心位置。为了使光源6形成锥形光源6向下发散，本实施例中的光源6周围还覆盖有光纤罩，光源6经光线罩把光汇总为锥形向下发散。可选地，光源6可以为led灯，该led等发射绿光。在其他实施例中，光源6也可以由其他的能够发射可见光的器件提供。
[0052]
参照图2，探测器3设置于暗箱1内，光源6发出的光线透过滤线栅5投射至探测器3上。在本实施例中，暗箱1内的底端13放置有升降装置2，探测器3放置于升降装置2的上表面。该升降装置2具有上下调节功能，以调节光源6、滤线栅5及探测器3之间的距离，使得光线有效通过滤线栅5透射至探测器3的表面。可选地，升降装置2沿暗箱1的底端13至顶端12的方向上依次包括底座23、升降机构22及置物台21，底座23与暗箱1的底端13贴合。升降机构22与底座23固定连接，并能沿暗箱1的底端13向顶端12往复移动。置物台21与升降机构22固定连接，并能够跟随升降机构22移动，探测器3放置于置物台21上。可选地，升降装置2整体的横截面积应小于暗箱1的横截面积，以便于将升降装置2放置于暗箱1内。
[0053]
需要说明的是，本实施例中的探测器3为平板探测器3，该平板探测器3也是现有已知的产品，例如，该平板探测器可以采用上海奕瑞光电子科技股份有限公司现有的高分辨率探测器，像素大于等于50μm。该探测器可以有效检测透过滤线栅的光并形成图像，通过对
图像的尺寸形貌对比分析，获得检测结果。升降机构22也为现有技术中能够实现上下调节功能的常见机构，本实施例在此不再过多的赘述。
[0054]
在本实施例的可选实施例中，为了防止置物台21的平面不够水平，导致滤线栅5透射至探测器3表面的形貌存在偏差，影响检测结果。参照图3，置物台21在靠近升降机构22的表面边缘还安装有高度微调装置7，以用于对置物台21的水平度进行微调。在本实施例中，置物台21呈长方形，高度微调装置7分别安装于置物台21的四个角上，当置物台21存在微小偏差时，可以对设置于四个角上的高度微调装置7，保证置物台21的水平度。
[0055]
需要说明的是，高低微调装置7的安装个数及安装位置可以根据需要进行设置，并不仅限于本实施例所公开的数量及位置。并且，本实施例所用的高度微调装置7为现有市面上的已知产品，其具体结构在此不再详述。
[0056]
在本实施例的可选实施例中，为了保证穿过滤线栅5的光不至于散射损耗，可以有效的达到探测器3表面。参照图2，探测器3的表面还覆盖有防散射装置4，该防散射装置4能够有效聚焦通过滤线栅的光线，减少光线的散射损失，以使得穿过滤光栅的光经防散射装置4后能够尽可能多的透射至探测器3上。可选地，防散射装置4为光纤板(fop)或平行光管(collimator)。
[0057]
当对本实施例所述滤线栅检测装置进行安装时，参照图1和2，包括以下步骤：
[0058]
1)提供一暗箱1，暗箱的周边由黑色材质包覆避免外界光引入，保证暗箱1完全避光。
[0059]
2)打开暗箱门11，将led灯安装于位于暗箱1的顶端12中心的挂钩上，将光线罩安装于led灯上，使其光源被光线罩所包覆，以形成向下发散的锥形光线。
[0060]
3)将升降装置2放置于暗箱1内的底端13，探测器3放置于升降装置2的置物台上；升降装置2对应光源6放置，以使得光源6能够对应探测器3的中心。
[0061]
4)将防散射装置4覆盖于探测器3的表面，由此，完成所述滤线栅检测装置的安装工作。
[0062]
当对滤线栅5进行检测时，参照图1和2，包括以下步骤：
[0063]
1)在将本实施例所述滤线栅检测装置进行上述安装之后，打开暗箱门11，将滤线栅5放置于暗箱1内的承托结构14上，调整升降装置2或滤线栅5的放置位置，以保证滤线栅5介于防散射装置4与光源6之间且探测器3、滤线栅5以及光源6在适当的距离，使得光线有效通过滤线栅5。
[0064]
2)参照图4，将led灯及探测器3通电，led灯发出的光源6透过滤线栅5，经防散射装置4产生平行的光线投射至探测器3表面，探测器3获得滤线栅5的形貌之后对其形貌图进行分析，检测出其是否符合生产要求；
[0065]
3)打开暗箱门11，将检测完成的滤线栅5的取出，放入下一个待检测的滤线栅5，执行步骤2)以对其他的滤线栅5进行检测。
[0066]
综上，本实用新型所述的滤线栅检测装置包括暗箱、探测器和光源，其中光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器放置于暗箱的内部，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。光源透过滤线栅后投射至探测器上，在探测器上形成清晰的滤线栅的形貌，进而快速有效的检测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况，避免了人工检测的误差，有效提高了检测效率，降低了人工成本。
[0067]
经统计，检测人员人工检测每片滤线栅的效率预计3～5min左右。本实用新型可以在30s内完成检测，检测效率大大提升。
[0068]
上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。