一种天线的测试治具的制作方法

1.本实用新型涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线的测试治具。


背景技术：

2.现有的带线缆的天线测试方式为，通过挂测治具将待测产品固定，使用网络分析仪和主机，通过测试线缆接测试头来进行测试。
3.不足之处是：待测产品固定不稳、接触不良，导致测试数据存在。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种天线的测试治具，可在测试时将待测产品更好的固定，提升了测试的稳定性和一致性。
5.为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：
6.一种天线的测试治具，包括：控制箱、驱动装置、测试模组，所述驱动装置固定安装于所述控制箱上并可驱动所述测试模组进行测试操作，所述测试模组包括：相对设置的上压模板组和下压模板组，所述驱动装置与所述上压模板组相连，并可带动所述上压模板组朝靠近或远离所述下压模板组的方向移动，天线与端子分别固定放置在所述下压模板组上，当所述上压模板组下压时，按压天线与测试基板接触以及按压端子与测试pin接触。
7.优选的，所述驱动装置包括：第一气缸、第二气缸，所述上压模板组包括：第一上压模板，第二上压模板，所述下压模板组包括：第一下压模板、第二下压模板，所述第一上压模板可在所述第一气缸的驱动下朝靠近或远离所述第一下压模板的方向移动，所述第二上压模板可在所述第二气缸的驱动下朝靠近或远离所述第二下压模板的方向移动。
8.优选的，还设置有用于按压天线测试点的定位柱，所述定位柱的一端固定连接在所述第二上压模板的压块上，所述定位柱的另一端沿所述第二上压模板的下压方向延伸。
9.优选的，所述第一下压模板上设置有端子限位槽，所述第二下压模板上设置有天线卡槽。
10.优选的，所述第一下压模板上还设置有线槽和凹槽部，所述线槽位于所述端子限位槽和所述凹槽部之间，并与所述端子限位槽和所述凹槽部相连。
11.优选的，还包括容置槽，所述容置槽的部分或全部与所述第二下压模板组成所述测试基板。
12.优选的，还设置有用于防止端子在端子限位槽内翻转的预压机构，所述预压机构为可翻盖的板状，当所述预压机构盖合时，其位于所述第一下压模板的上面。
13.优选的，所述控制箱包括程序控制板，所述程序控制板分别与主机和网络分析仪电连接。
14.本实用新型的有益效果在于：通过设置测试模组包括：相对设置的上压模板组和下压模板组，所述驱动装置与所述上压模板组相连，并可带动所述上压模板组朝靠近或远离所述下压模板组的方向移动，天线与端子分别固定放置在所述下压模板组上，当所述上
压模板组下压时，按压天线与测试基板接触以及按压端子与测试 pin接触。实现了在测试时将待测产品更好的固定，提升了测试的稳定性和一致性。
附图说明
15.图1为本实用新型实施例的立体示意图(已放置待测产品)；
16.图2为本实用新型实施例的测试模组的立体示意图；
17.图3为本实用新型实施例中定位柱压接天线的结构位置示意图；
18.图4为本实用新型实施例的第一下压模板的立体示意图。
19.说明书附图中的附图标记包括：
20.测试治具-100、控制箱-2、驱动装置-3、第一气缸-31、第二气缸-32、测试模组
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4、上压模板组-41、第一上压模板-411、第二上压模板-412、下压模板组-43、第一下压模板-431、端子限位槽-4311、线槽-4312、凹槽部-4313、第二下压模板-435、天线卡槽-4351、定位柱-45、容置槽-5、天线-61、端子-62、预压机构-7、测试基板
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8。
具体实施方式
21.本技术实施例通过提供一种天线的测试治具，解决现有技术中的待测产品固定不稳、接触不良，导致测试数据存在波动的技术问题。
22.本技术实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
23.设置测试模组包括：相对设置的上压模板组和下压模板组，所述驱动装置与所述上压模板组相连，并可带动所述上压模板组朝靠近或远离所述下压模板组的方向移动，天线与端子分别固定放置在所述下压模板组上，当所述上压模板组下压时，按压天线与测试基板接触以及按压端子与测试pin接触。实现了在测试时将待测产品更好的固定，提升了测试的稳定性和一致性。本技术实施例应用在天线测试领域，具体应用于各种带线缆天线的测试，例如用于带线缆lds天线的低频波段信号的测试。
24.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。
25.如图1至图2所示，为本技术实施例：
26.一种天线的测试治具100，包括：控制箱2、驱动装置3、测试模组4，所述驱动装置3固定安装于所述控制箱2上并可驱动所述测试模组4进行测试操作，所述测试模组4包括：相对设置的上压模板组41和下压模板组43，所述驱动装置3与所述上压模板组41相连，并可带动所述上压模板组41朝靠近或远离所述下压模板组43的方向移动，天线61与端子62分别固定放置在所述下压模板组43上，当所述上压模板组41下压时，按压天线61与测试基板8接触以及按压端子62与测试pin(未图示)接触。
27.通过将天线61与端子62分别固定放置在所述下压模板组43上，上压模板组 41下压时，按压天线61与测试基板8接触以及按压端子62与测试pin接触，实现了在测试时将待测产品更好的固定，提升了测试的稳定性和一致性。
28.其中，所述驱动装置3包括：第一气缸31、第二气缸32，所述上压模板组41 包括：第一上压模板411，第二上压模板412，所述下压模板组43包括：第一下压模板431、第二下压模板435，所述第一上压模板411可在所述第一气缸31的驱动下朝靠近或远离所述第一下压模板431的方向移动，所述第二上压模板412可在所述第二气缸32的驱动下朝靠近或远离所述第二下压模板435的方向移动。这样，可以根据待测产品的性质来设置具体的第一上压模板411和第二上压模板412的下压顺序，例如，可以第一上压模板411先下压，第二上压模板412后下压，或者第二上压模板412先下压，第一上压模板411后下压，或者第一上压模板411、第二上压模板412同时下压。
29.参见图3所示，还设置有用于按压天线61测试点的定位柱45，所述定位柱45 的一端固定连接在所述第二上压模板412的压块上，所述定位柱45的另一端沿所述第二上压模板435的下压方向延伸。示例性的，定位柱45可以卡入压块上的通孔进行固定，需要说明的是，定位柱45的另一端用来按压天线61的测试点，当进行测试时，第二上压模板412下压移动带动定位柱45下移，直至定位柱45稳固按压在天线61的测试点上。这样，可以保证天线61的测试点与测试基板8充分接触，从而有效识别所测试的信号。
30.如图3和图4所示，所述第一下压模板431上设置有端子限位槽4311，所述第二下压模板435上设置有天线卡槽4351。这样，在所述上压模板组41下压之前，端子62可以与端子限位槽4311内的测试pin预连接，天线61可以预先卡入天线卡槽4351进行固定。
31.再次参见图4所示，所述第一下压模板431上还设置有线槽4312和凹槽部 4313，所述线槽4312位于所述端子限位槽4311和所述凹槽部4313之间，并与所述端子限位槽4311和所述凹槽部4313相连。可以理解的是，端子62在端子限位槽4311中与测试pin电连接，线槽4312可以放置天线61的线缆。需要说明的是，凹槽部4313与控制箱2上的平板接合形成一个凹槽，该凹槽的深度比线槽4312更深，使得上压模板组41在下压过程中，天线61可以在凹槽内缓解按压产生的变形力，防止天线61变形。
32.如图1和图2所示，还包括容置槽5，所述容置槽5的部分或全部与所述第二下压模板435组成所述测试基板8。这样，容置槽5可以用来预先放置待测试的产品，而容置槽5的部分或者全部与所述第二下压模板435合并可以组成一个模拟的电子设备整机环境的金属板，即，测试基板8。如图4所示，即为将容置槽5的一部分与第二下压模板435组合形成一个模拟的电子设备整机环境的金属板的示例，通过将天线61直接设置在测试基板8上，可以进一步提高测试数据的准确性。
33.优选的，还设置有用于防止端子62在端子限位槽4311内翻转的预压机构7，所述预压机构7为可翻盖的板状，当所述预压机构7盖合时，其位于所述第一下压模板431的上面。举例说明盖合动作过程，预压机构7的翻盖盖板呈打开状态时，将端子62放置进端子限位槽4311，然后，将预压机构7盖合在端子62的区域上，可以防止端子62在端子限位槽4311倾斜翻转而引起的接触不良。
34.所述控制箱2包括程序控制板，所述程序控制板分别与主机和网络分析仪电连接。可以理解的是，网络分析仪用于分析待测产品的性能数据，主机用于控制测试的动作。
35.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
36.以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。