一种光学样品测试装置

本申请涉及实验室设备，尤其涉及一种光学样品测试装置。

背景技术：

1、太赫兹(thz)波是指频率在0.1thz到10thz范围的电磁波，在太赫兹成像、太赫兹雷达、医疗诊断、物质检测以及6g无线通讯等领域显现出广阔的应用前景。在太赫兹技术发展过程中，应用在太赫兹波段下的相关功能器件的匮乏是制约太赫兹技术进一步发展的主要因素之一。因此，寻找和开发在太赫兹波段工作的高性能的材料和相关器件是当前太赫兹技术领域内研究人员所追求的且迫切需要解决的问题。

2、目前，参照图1所示，在对相关材料的性能进行测试时，常需要通过测试支架对某一材料的待测试样进行固定，然后对待测试样施加电场、太赫兹波照射等，根据待测试样对太赫兹波的吸收情况和因电场变化引起的相关测试指标的改变，来推断该待测试样的性能。测试过程中，因施加的电场涉及大小和方向的变化、太赫兹波照射涉及角度和强弱的变化，测试支架往往也需要具有高度和角度调节功能，以提高材料性能测试的准确性和效率。然而，现有技术中的测试支架，多为固定高度支架或固定角度支架，无法实现对于待测试样高度和角度的同时调节。

3、此外，现有技术还存在一种兼具高度和角度调节功能的测试支架，该种测试支架为了确保待测试样的稳定性，一般通过夹具的设置来实现测试支架对于待测试样的夹持固定。但是，由于夹具仅能够对具有一定结构强度的待测试样(如硅晶片、石墨烯等)进行夹持，而对于那些结构强度较差或呈液态的待测试样(如液晶、石油等)则无法进行有效夹持，这就在一定程度上限制了测试支架的应用范围。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种光学样品测试装置，以解决现有测试支架无法对结构强度较差或呈液态的待测试样进行有效夹持的问题。

2、本申请实施例提供一种光学样品测试装置，所述光学样品包括具有第一导电电极的第一基体和具有第二导电电极的第二基体，以及位于所述第一基体和所述第二基体之间的待测试样，所述第一基体和所述第二基体交错设置，以使所述第一导电电极和所述第二导电电极分别具有部分暴露于外界的外露部；

3、所述测试装置包括沿第一方向依次设置的底座、转筒、升降柱和承载台，所述转筒的一端与所述底座转动连接，所述转筒的另一端套设于所述升降柱的外侧，且所述升降柱可沿所述第一方向在所述转筒内活动，所述升降柱在所述转筒的周向上固定不动，所述升降柱的顶端与所述承载台的底端相连接；

4、所述承载台表面设置有限位柱和弹性电极，所述限位柱与所述弹性电极之间形成有夹持位，在所述弹性电极的弹力作用和所述限位柱的支撑作用下，所述光学样品被固定于所述夹持位，且借由所述弹性电极与所述外露部之间的接触，以对所述待测试样加电。

5、在一些实施例中，所述承载台开设有安装孔，所述安装孔与所述限位柱相配合，以实现所述限位柱与所述承载台之间的可拆卸连接。

6、在一些实施例中，所述安装孔为多个，多个所述安装孔均匀布设于所述承载台，以使所述限位柱在所述承载台上具有多个不同的安装位置。

7、在一些实施例中，所述测试装置还包括锁紧件，所述转筒开设有与所述锁紧件相配合的锁紧孔，所述锁紧件穿过所述锁紧孔顶抵所述升降柱的外壁，以实现所述升降柱的固定。

8、在一些实施例中，所述转筒的外表面设置有刻度，所述底座朝向所述转筒的一侧设置有用于指示所述刻度的标识线。

9、在一些实施例中，所述底座中心设置有朝向所述转筒延伸的圆台，所述转筒套设于所述圆台的外侧，以实现所述转筒与所述底座之间的转动连接。

10、在一些实施例中，所述第一导电电极和所述第二导电电极的材质相同，且所述第一导电电极和所述第二导电电极为石墨烯或镀金光栅中的一种。

11、在一些实施例中，所述测试装置还包括外接电源，所述外接电源通过导线与所述弹性电极电连接。

12、在一些实施例中，所述弹性电极为镀铜金属丝。

13、在一些实施例中，所述光学样品还包括密封件，所述密封件设置于所述待测试样的两侧，且所述密封件分别与所述第一基体和所述第二基体相连接，以使所述光学样品形成用于夹持所述待测试样的空腔。

14、由于采用了上述技术方案，本申请所取得的技术效果为：

15、本申请提供的光学样品测试装置，一方面通过第一基体和第二基体的设置来对待测试样进行夹持，从而使得光学样品整体上的结构强度得以提升，使得那些结构强度较差的待测试样也能够被有效夹持，进而利于确保光学样品与测试装置之间的连接稳定性，以及扩大测试装置的应用范围。另一方面，测试装置通过底座、转筒和升降柱等结构的设置，使得与升降柱相连接的承载台不仅能够在竖直方向进行运动，还能够绕转筒的轴线转动，从而使得固定于承载台表面的光学样品在测试过程中具有不同的高度和角度。此外，承载台上设置有限位柱和弹性电极，弹性电极和限位柱之间形成有用于固定光学样品的夹持位置，且由于弹性电极与外露部之间弹性接触，相较于现有技术中通过夹具对光学样品进行夹持的方式而言，该种弹性接触的方式对光学样品产生的压力更加柔和，从而降低因夹具夹持力过大对光学样品造成损伤的可能性，进而利于改善光学样品性能测试的准确性和效率。

技术特征：

1.一种光学样品测试装置，其特征在于，所述光学样品(100)包括具有第一导电电极(111)的第一基体(110)和具有第二导电电极(121)的第二基体(120)，以及位于所述第一基体(110)和所述第二基体(120)之间的待测试样(130)，所述第一基体(110)和所述第二基体(120)交错设置，以使所述第一导电电极(111)和所述第二导电电极(121)分别具有部分暴露于外界的外露部；

2.根据权利要求1所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述承载台(240)开设有安装孔(243)，所述安装孔(243)与所述限位柱(241)相配合，以实现所述限位柱(241)与所述承载台(240)之间的可拆卸连接。

3.根据权利要求2所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述安装孔(243)为多个，多个所述安装孔(243)均匀布设于所述承载台(240)，以使所述限位柱(241)在所述承载台(240)上具有多个不同的安装位置。

4.根据权利要求1所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述测试装置(200)还包括锁紧件(250)，所述转筒(220)开设有与所述锁紧件(250)相配合的锁紧孔，所述锁紧件(250)穿过所述锁紧孔顶抵所述升降柱(230)的外壁，以实现所述升降柱(230)的固定。

5.根据权利要求4所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述转筒(220)的外表面设置有刻度(221)，所述底座(210)朝向所述转筒(220)的一侧设置有用于指示所述刻度(221)的标识线(211)。

6.根据权利要求1所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述底座(210)中心设置有朝向所述转筒(220)延伸的圆台(212)，所述转筒(220)套设于所述圆台(212)的外侧，以实现所述转筒(220)与所述底座(210)之间的转动连接。

7.根据权利要求1-6任一项所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述第一导电电极(111)和所述第二导电电极(121)的材质相同，且所述第一导电电极(111)和所述第二导电电极(121)为石墨烯或镀金光栅中的一种。

8.根据权利要求1所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述测试装置(200)还包括外接电源，所述外接电源通过导线(260)与所述弹性电极(242)电连接。

9.根据权利要求8所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述弹性电极(242)为镀铜金属丝。

10.根据权利要求1所述的光学样品测试装置，其特征在于，所述光学样品(100)还包括密封件(140)，所述密封件(140)设置于所述待测试样(130)的两侧，且所述密封件(140)分别与所述第一基体(110)和所述第二基体(120)相连接，以使所述光学样品(100)形成用于夹持所述待测试样(130)的空腔。

技术总结
本申请实施例提供一种光学样品测试装置，所述光学样品包括具有第一导电电极的第一基体和具有第二导电电极的第二基体，以及位于第一基体和第二基体之间的待测试样，第一基体和第二基体交错设置，以使第一导电电极和第二导电电极分别具有部分暴露于外界的外露部；测试装置包括沿第一方向依次设置的底座、转筒、升降柱和承载台，转筒的一端与底座转动连接，转筒的另一端套设于升降柱的外侧，且升降柱可沿第一方向在转筒内活动，升降柱在转筒的周向上固定不动，升降柱的顶端与承载台的底端相连接。本申请能够使得那些结构强度较差的待测试样也能够被有效夹持，进而利于确保光学样品与测试装置之间的连接稳定性，以及扩大测试装置的应用范围。

技术研发人员：孙会娟,王云志,张宁
受保护的技术使用者：北京联合大学
技术研发日：20221227
技术公布日：2024/1/11