一种基于白光共焦原理的高精度检测装置及方法与流程

文档序号:34021932发布日期:2023-05-05 02:05阅读:189来源:国知局
技术特征:

1.一种基于白光共焦原理的高精度检测装置,其特征在于,包括:

2.一种基于白光共焦原理的高精度检测方法,其特征在于,包括:

3.根据权利要求2所述的高精度检测方法,其特征在于,在控制所述测量探头的所述第一运动控制基准点从所述第三测量路径的第一端点运动到所述第三测量路径的第二端点以通过所述共焦测量光束测量所述第一表面的第一距离的步骤之前,还包括:

4.根据权利要求3所述的高精度检测方法,其特征在于,控制所述测量探头的所述第一运动控制基准点从所述第三测量路径的第一端点运动到所述第三测量路径的第二端点以通过所述共焦测量光束测量所述第一表面的第一距离的步骤具体包括:

5.根据权利要求3所述的高精度检测方法,其特征在于,基于所述第二曲线函数控制所述测量探头的所述第一运动控制基准点从所述第三测量路径的第二端点运动到所述第三测量路径的第一端点以测量通过所述共焦测量光束所述第二表面的第二距离的步骤具体包括:

6.根据权利要求3所述的高精度检测方法,其特征在于,基于所述第一曲线函数控制所述测量探头的光轴实时垂直于所述第一表面的步骤具体包括:

7.根据权利要求3所述的高精度检测方法,其特征在于,基于所述第二曲线函数控制所述测量探头的光轴实时垂直于所述第二表面的步骤具体包括:

8.根据权利要求2所述的高精度检测方法,其特征在于,根据所述第一距离和所述第二距离计算所述第一表面和所述第二表面之间的厚度的步骤具体包括:

9.根据权利要求8所述的高精度检测方法,其特征在于,根据所述第一目标测量点在所述第四曲线函数上确定第二目标测量点的步骤具体包括:

10.根据权利要求9所述的高精度检测方法,其特征在于,在判断所述第一直线是否与所述第四曲线在所述第一交点处的切线垂直的步骤之后还包括:


技术总结
本发明提出了一种基于白光共焦原理的高精度检测装置及方法,在透明待测物的表面确定第一测量路径和第二测量路径,在测量探头的光轴上确定第一运动控制基准点,控制所述第一运动控制基准点沿与所述第一测量路径、所述第二测量路径在同一个平面上第三测量路径来回运动以分别对所述透明待测物的两个表面的距离进行测量,测量过程中分别保持所述测量探头的光轴实时垂直于所述透明待测物的其中一个表面,从而根据测量得到的所述透明待测物的两个表面的距离计算两个表面之间的厚度。

技术研发人员:罗杰,肖仁义
受保护的技术使用者:深圳市华众自动化工程有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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