一种SOC测试系统快速校准装置及方法与流程

一种soc测试系统快速校准装置及方法
技术领域
1.本发明涉及一种soc测试系统快速校准装置及方法，属于集成电路自动测试设备领域。


背景技术：

2.现有soc测试系统的校准方案是利用外部高精度万用表，逐个校准系统内各个通道，由于高密度集成电路测试系统的通道数呈现几何级增加，并且每个通道内有不同的校准项目，每个校准项目里包含不同的档位，这样的话，整个系统的校准时间也将成倍的增加，校准所花费的时间将是衡量测试系统的一个重要指标，现有校准方案单通道校准时间30s，一台512通道的系统，单板64通道需要30min左右，那么整体校准所需要的时间大概是4.25h。
3.传统解决方法一，优化校准测试程序，提高测试效率，但是这种方法提高效率有限，由于读取外部万用表结果的时间是恒定的，并且对测试稳定性有更高的要求。
4.传统解决方法二，增加校准源，替代外部万用表，提高校准时间，但是这种方案还是测试系统通道数的增加，来增加测试时间，仅仅是优化了万用表的测试是时间。
5.上述两种解决方法均存在问题，传统测试方法一，每个通道都需要通过万用表校准，测试效率低的问题。传统测试方法二，通过校准源提高校准效率有限。总之，各个传统测试方案无法在高密度的测试系统中，明显的降低校准时间，校准时间的增加，就是成本的增加，现在的测试系统都在向低成本，高效率推进。


技术实现要素：

6.发明目的：为了克服现有校准方案对于校准系统的测试时间并没有本质的提高的问题，，本发明提供一种soc测试系统快速校准装置及方法，本发明充分利用校准源，并在每个板卡内引入负载和测量，这样每个单板内部通道可以独立校准，不同板卡的通道可以并行校准，而不是像传统方法那样需将测试系统内部通道逐个校准，因此可通过对各功能板卡间高速并行的校准，快速提高校准时间。
7.技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种soc测试系统快速校准装置，用于soc测试系统的校准，包括soc测试系统校准源板卡和万用表，所述soc测试系统安装有两块以上的功能板卡，每个功能板卡上设置有load&measure模块和两个以上的pmu模块，每个pmu模块设置有模块ext_f&ext_s输出端口，每个功能板卡上的所有的模块ext_f&ext_s输出端口连接到公共ext_f&ext_s总线上；所述soc测试系统校准源板卡分别与每个功能板卡的公共ext_f&ext_s总线、每个功能板卡的load&measure模块、万用表连接。
8.优选的：每个功能板卡上的所有的模块ext_f&ext_s输出端口通过继电器连接到公共ext_f&ext_s总线上。
9.优选的：所述soc测试系统安装有8块功能板卡，每个功能板卡上设置有64个pmu模
块。
10.一种soc测试系统快速校准方法，采用所述soc测试系统快速校准装置，包括以下步骤：步骤1，校准源校准：通过万用表校准soc测试系统校准源板卡，校准soc测试系统校准源板卡的方法：驱动soc测试系统校准源板卡的校准源pmu模块，soc测试系统校准源板卡的校准源测量模块测量soc测试系统校准源板卡的校准源pmu模块的参数，作为参数一，同时通过万用表测量soc测试系统校准源板卡的校准源pmu模块的参数，作为参数二，将参数一与参数二比较，得到校准源校准参数，根据校准源校准参数得到校准好的soc测试系统校准源板卡；步骤2，load&measure模块校准：以校准好的soc测试系统校准源板卡为基准，去校准各个功能板卡上的load&measure模块，校准各个功能板卡上的load&measure模块的方法：驱动第i个功能板卡上的任意一个pmu模块，将第i个功能板卡上的load&measure模块对第i个功能板卡上驱动的pmu模块进行测量，得到第一参数；同时校准好的soc测试系统校准源板卡也对第i个功能板卡上驱动的pmu模块进行测量，得到第二参数，将第一参数与第二参数比较，得到第i个功能板卡的load&measure模块校准参数，根据第i个功能板卡的load&measure模块校准参数得到校准好的第i个功能板卡的load&measure模块；各个功能板卡上的load&measure模块依次校准；步骤3，各通道pmu模块校准：各个功能板卡以各自校准好的load&measure模块为基准，通过公共ext_f&ext_s总线对功能板卡内的各个通道pmu模块依次校准；各个功能板卡以各自校准好的load&measure模块为基准，通过公共ext_f&ext_s总线对功能板卡内的各个通道pmu模块依次校准的方法：记第i个功能板卡上的第j个pmu模块为第ij个pmu模块，记第i个功能板卡上的load&measure模块为第i个load&measure模块,则驱动第ij个pmu模块，第i个load&measure模块通过公共ext_f&ext_s总线测量驱动的第ij个pmu模块，得到第ij个pmu模块的校准参数，根据第ij个pmu模块的校准参数完成对第ij个pmu模块的校准。
11.优选的：步骤3中的不同功能板卡同时进行校准。
12.优选的：步骤1中校准源校准参数包括负载电阻、mi和mv。
13.本发明相比现有技术，具有以下有益效果：本发明充分利用校准源，并在每个板卡内引入负载和测量，这样每个单板内部通道可以独立校准，不同板卡的通道可以并行校准，快速提高校准时间。
附图说明
14.图1为soc测试系统示意图。
15.图2为本发明的结构框图。
具体实施方式
16.下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本技术所附权利要求所限定的范围。
17.一种soc测试系统快速校准装置，如图1和2所示，用于soc测试系统的校准，包括
soc测试系统校准源板卡7和高精度的万用表6，soc测试系统校准源板卡7主要用于替代外部的高精度万用表，实现soc系统的快速校准，所述soc测试系统1安装有两块以上的功能板卡，每个功能板卡上设置有load&measure模块5和两个以上的pmu模块2，每个pmu模块2设置有模块ext_f&ext_s输出端口4，每个功能板卡上的所有的模块ext_f&ext_s输出端口4通过继电器连接到公共ext_f&ext_s总线3上。所述soc测试系统校准源板卡7分别与每个功能板卡的公共ext_f&ext_s总线3、每个功能板卡的load&measure模块5、万用表6连接。
18.本发明的实施例中，所述soc测试系统1安装有8块功能板卡，每个功能板卡上设置有64个pmu模块2。
19.一种soc测试系统快速校准方法，采用所述soc测试系统快速校准装置，包括以下步骤：步骤1，校准源校准：通过万用表6校准soc测试系统校准源板卡7，校准soc测试系统校准源板卡7的各个参数，如：负载电阻、mi、mv等，校准soc测试系统校准源板卡7设置有校准源pmu模块和校准源测量模，校准soc测试系统校准源板卡7的方法：驱动soc测试系统校准源板卡7的校准源pmu模块，soc测试系统校准源板卡7的校准源测量模块测量soc测试系统校准源板卡7的校准源pmu模块的参数，作为参数一，同时通过万用表6测量soc测试系统校准源板卡7的校准源pmu模块的参数，作为参数二，将参数一与参数二比较，得到校准源校准参数，根据校准源校准参数得到校准好的soc测试系统校准源板卡7。
20.步骤2，load&measure模块5校准：以校准好的soc测试系统校准源板卡7为基准，去校准各个功能板卡上的load&measure模块5，需要注意的是，这里会对机箱里的功能板卡都进行校准，从而为后面的并行校准做准备。校准各个功能板卡上的load&measure模块5的方法：驱动第i个功能板卡上的任意一个pmu模块2，将第i个功能板卡上的load&measure模块5对第i个功能板卡上驱动的pmu模块2进行测量，得到第一参数。同时校准好的soc测试系统校准源板卡7也对第i个功能板卡上驱动的pmu模块2进行测量，得到第二参数，将第一参数与第二参数比较，得到第i个功能板卡的load&measure模块5校准参数，根据第i个功能板卡的load&measure模块5校准参数得到校准好的第i个功能板卡的load&measure模块5。各个功能板卡上的load&measure模块5依次校准。
21.步骤3，各通道pmu模块2校准：各个功能板卡以各自校准好的load&measure模块5为基准，通过公共ext_f&ext_s总线3对功能板卡内的各个通道pmu模块2依次校准。各个功能板卡以各自校准好的load&measure模块5为基准，通过公共ext_f&ext_s总线3对功能板卡内的各个通道pmu模块2依次校准的方法：记第i个功能板卡上的第j个pmu模块2为第ij个pmu模块，记第i个功能板卡上的load&measure模块5为第i个load&measure模块,则驱动第ij个pmu模块，第i个load&measure模块通过公共ext_f&ext_s总线3测量驱动的第ij个pmu模块，得到第ij个pmu模块的校准参数，根据第ij个pmu模块的校准参数完成对第ij个pmu模块的校准。此时不同功能板卡可以同时进行校准。
22.本发明通过在功能板卡上对load&measure模块的使用，通过对多块功能板卡并行校准，快速提高了整机的校准效率，降低校准时间，这里的优化时间是非常明显的。比如一台512通道的测试机，单功能板卡64通道，需要8块板卡，现有方案需要8*单块板卡的时间，而本发明需要的时间仍然是单块板卡需要的时间。
23.本发明由于将校准功能放在功能板卡内部，脱离了校准板，减少了硬件板卡的种
类，节省了校准板的成本，提高设备成本的竞争力。
24.通过ext_f&ext_s总线输出，减少输出继电器的使用，减少继电器异常导致的问题，使设备便于维护，提高设备性能的稳定性。
25.本发明使用外用表、校准源、功能板卡的load&measure模块分级校准。通过ext_f&ext_s总线输出，减少输出继电器的使用。通过功能板卡的load&measure模块对功能板卡校准。多个功能板卡可以并行校准。对于校准效率的优化是非常明显的，仅需要花费校准一块功能板卡的时间，就可以将整个系统校准完成，就像现有的校准方案校准一块板卡需要30min，而本发明的校准方案是校准整个系统仅需要30min，真的是极大的优化了校准效率，节省校准时间。
26.本发明也节省了硬件成本，尤其是省掉了现有方案的校准板，以及校准板上的继电器有成百上千颗，这些都是很大的一笔成本，而本发明将降低整个测试机的成本，提高设备竞争力。
27.以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。