一种基于芯片探针的外观视觉检测方法与流程

本发明涉及视觉检测领域，特别涉及一种基于芯片探针的外观视觉检测方法。

背景技术：

1、随着科技的进步，机器逐渐取代人力成为工业发展的主流，在工业生产中很多需要人工操作的环节逐渐由机器完成。针对探针量产过程中，部分产品难免会出现原材不良、top间隙、异色等外观缺陷，工厂内部多采用人工进行检测，检测效率低、成本高且容易出现误检，给产品出厂后的使用带了很多隐患，任何细小的缺陷都可能会引起消费者的投诉和不满。

2、因此，借助缺陷检测技术，我们有必要提供一种检测精度和效率高、能替代人工检测，降低人力成本的芯片探针外观缺陷检测方法。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，旨在解决现有人工检测外观效率低的现状。

2、为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，包括以下步骤：

3、步骤1：通过取像工具对探针进行360°取像，获得原始图像；

4、步骤2:对照片进行预处理；

5、步骤3：通过分割操作得到原始图像中的物体信息；

6、步骤4：将物体信息制作大量的训练数据集；

7、步骤5：将训练数据集作为样本对神经网络进行训练；

8、步骤6：最后将获取的原始图像放入训练好的神经网络中进行识别。

9、进一步的，步骤2中，利用矫正畸变和模糊处理对原始图像进行预处理。

10、进一步的，步骤1中，将取像模组取得的图像数据归一化为1448x1228像素的原始图像。

11、归一化采用的是最大最小值法：x’为归一化之后的值，x为需要归一化处理的数值，输入图像每个像素值范围是0到255之间的数值，对于计算机来说这个数值太大了，所以像素值归一化处理一般是将像素值除以255，得到0到1之间的数值来进行计算。

12、本发明提供的一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，其优点在于：

13、本发明所述的基于芯片探针的外观视觉检测方法，可实现芯片探针外观的全自动化检测，可降低检测成本，减少检测时间，且可提高检测效率和检测准确率，有效推动半导体行业的智能制造。

技术特征：

1.一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，其特征在于：步骤2中，利用矫正畸变和模糊处理对原始图像进行预处理。

技术总结
本发明公开了一种基于芯片探针的外观视觉检测方法，包含如下步骤：获得探针产品圆柱外观的图像；原始图像进行预处理，补正图像；分割操作得到图像中的物体信息；将所述图像中物体信息制作大量的训练数据集；将数据集作为样本对神经网络进行训练；最后将获取的图像放入训练好的模型中进行识别。本发明可实现对不同类型芯片探针外观的全自动化检测，可降低检测成本，减少检测时间，且可提高检测效率和检测准确率，有效推动半导体行业的智能制造。

技术研发人员：陈威宇
受保护的技术使用者：苏州嘉展科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15