1.一种连接器焊接状态的测试方法，其特征在于，待测试连接器中第一pin脚与第二pin脚之间设置有预设阻值以上的目标电阻，所述目标电阻以及与所述待测试连接器对应的匹配连接器均焊接于子板上，所述待测试连接器设置于母板上；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试结果中测试到的阻值与所述目标电阻的阻值之间的对比结果，确定所述第一pin脚与所述第二pin脚之间的焊接状态，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述飞针测试机对应的飞针测试程序，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述飞针测试程序和所述母板上的所述待测试连接器为一一对应关系。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试连接器中包含两个以上的pin脚，多个所述pin脚之间分别各设置有一个所述目标电阻，多个所述pin脚之间对应的多个所述目标电阻均焊接于所述子板上；还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试连接器对应的文件确定所述第一pin脚与所述第二pin脚对应的测试点坐标，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，焊接有所述匹配连接器以及多个所述目标电阻的所述子板安装于所述待测试连接器上。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，多个所述目标电阻中的每个所述目标电阻后安装有led灯，所述led灯用于指示所述目标电阻对应的pin脚焊接状态是否异常。
9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述待测试连接器的数据中还包含所述待测试连接器的类型，所述子板为基于多种所述类型的所述待测试连接器的通用子板，所述通用子板上多个所述目标电阻的一端并接于同一个点，另一端与多个所述pin脚之间设置有开关。
10.一种连接器焊接状态的测试装置，其特征在于，待测试连接器中第一pin脚与第二pin脚之间设置有预设阻值以上的目标电阻，所述目标电阻以及与所述待测试连接器对应的匹配连接器均焊接于子板上，所述待测试连接器设置于母板上；包括：
11.一种电子设备，包括存储器、处理器，所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至9任一项所述的方法的步骤。
12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可运行指令，所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时，所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述权利要求1至9任一项所述的方法。