一种超导动态电感探测器KID的噪声功率谱密度测量方法及系统

文档序号:36479263发布日期:2023-12-25 07:57阅读:来源:国知局

技术特征:

1.超导动态电感探测器kid的噪声功率谱密度测量方法,其特征在于包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的噪声功率谱密度测量方法,其特征在于,步骤s1中所述整个测量系统在超导动态电感探测器谐振点附近的传输系数频率响应曲线s21通过所述矢量网络分析仪第二端口的测试接收机b2功率与第一端口的参考接收机a1功率的比值测得:

3.根据权利要求2所述的噪声功率谱密度测量方法,其特征在于,步骤s3进一步包括:

4.根据权利要求1所述的噪声功率谱密度测量方法,其特征在于,步骤s4中利用所述噪声点计算得出当前噪声功率谱密度psd(x)的表达式如下:

5.根据权利要求1所述的噪声功率谱密度测量方法,其特征在于,步骤s4中利用所述噪声点计算得出当前噪声等效功率nep的表达式如下:

6.一种超导动态电感探测器kid的噪声功率谱密度测量系统,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的噪声功率谱密度测量系统,其特征在于,所述矢量网络分析仪内置测量扫频单元,被驱动为测试整个测量系统在超导动态电感探测器谐振点频率附近的传输系数频率响应曲线。

8.根据权利要求6所述的噪声功率谱密度测量系统,其特征在于,还包括计算kid-psd的测量程序计算模块;所述测量程序计算模块包括拟合单元、采集单元、计算单元;

9.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序使计算机执行如权利要求1-5任一项所述的噪声功率谱密度测量方法。


技术总结
本发明提供了一种超导动态电感探测器KID的噪声功率谱密度测量方法及测量系统,使用VNA测试整个测量系统在KID谐振点附近的传输系数频率响应曲线;在频率响应曲线中拟合七参数得到单个超导动态电感探测器的频率响应曲线和谐振圆;利用VNA采集一段时间内整个测量系统在谐振点频率处和非谐振点频率处的传输系数随时间的扰动,利用七参数对该组扰动的传输系数进行校准;计算得出当前谐振点和非谐振点频率处的噪声功率谱密度和噪声等效功率。相较于现有的正交混频方法,本方法在达到同等功能的前提下无需做额外的IQ校准,易于实施;本方法功率噪声谱测试结果无杂波干扰,硬件良好的抗电磁干扰性保证更好的数据结果可读性。

技术研发人员:金骏达,张嘉文,支强,耿伟,李陟,彭昭航,李婧,史生才
受保护的技术使用者:中国科学院紫金山天文台
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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