用于金属样品性能测试的式样架、制作方法和应用与流程

文档序号:36710450发布日期:2024-01-16 12:05阅读:20来源:国知局
用于金属样品性能测试的式样架、制作方法和应用与流程

本申请属于腐蚀试验装置,尤其涉及一种用于金属样品性能测试的式样架、制作方法和应用,更具体的涉及一种用于金属样品性能测试的式样架材质和结构的设计方法。


背景技术:

1、目前,在高温高压环境下(1000℃、10mpa)对金属样品进行腐蚀测试时,夹持样品所用的式样架大部分以金属材质为主,使用后发现其存在以下几点弊端:

2、1)金属式样架结构设计较为复杂,安装方式较为繁琐,且需要对待测样品进行特殊处理,如加工固定孔;

3、2)金属式样架容易对样品表面造成划痕,影响样品测试结果;

4、3)金属式样架在高温高压环境下面临被腐蚀风险,使用寿命较低;

5、4)金属式样架在夹持待测样品后,式样架夹持部分与待测金属样品的接触面积占据待测金属样品的面积比例较大,造成待测金属样品不能完全与高温高压环境进行接触,进而也会影响测试效果。

6、基于上述问题,提供一种能够在高温高压环境下使用,且结构简单,对待测金属样品影响较小,使用寿命较长的式样架就尤为重要。


技术实现思路

1、鉴于上述问题,提出了本申请以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种用于金属样品性能测试的式样架、制作方法和应用。

2、本申请的实施例,提供了一种用于金属样品性能测试的式样架,包括:

3、陶瓷基板;

4、样品夹持单元,多个样品夹持单元相互平行且等间距阵列分布在陶瓷基板上,被构造成安装和固定待测金属样品;

5、定位标记,设置在陶瓷基板上且平行于样品夹持单元,每个样品夹持单元配置有唯一标识的定位标记,定位标记被构造成识别待测金属样品;以及

6、安放孔,设置在陶瓷基板的边缘,被构造成拿取和放置式样架。

7、本申请的实施例,还提供了一种制作上述实施例中式样架的方法,包括:

8、利用激光切割工艺,在陶瓷基板上切割出阵列分布的样品夹持单元,和在陶瓷基板的边缘切割出安放孔;

9、利用激光打标工艺,相对应每样品夹持单元,在陶瓷基板上刻蚀出定位标记。

10、本申请的实施例,还提供了一种金属样品腐蚀测试的应用,包括:

11、将待测金属样品安装在上述实施例中的式样架的样品夹持单元内;

12、将式样架放入反应釜内,进行腐蚀测试。

13、根据本申请的实施例,本申请选用陶瓷材料作为式样架,该式样架相较于普通的金属能够耐受较高的温度,而且采用非金属材料进行制作,避免了金属式样架对待测金属样品测试结果产生影响。另外,本申请提供的式样架结构简单,安装方便,无需借助专用工具的辅助即可完成待测金属样品的安装,且该式样架占待测金属样品本身的面积比例较小,使得待测金属样品与试验环境充分接触。此外,本申请提供的式样架可根据待测金属样品尺寸的需求,灵活调整式样架中样品夹持单元的大小和形状,避免了对待测金属样品进一步的加工。



技术特征:

1.一种用于金属样品性能测试的式样架,包括:

2.根据权利要求1所述的式样架,还包括:

3.根据权利要求1或2所述的式样架,其特征在于,所述样品夹持单元包括样品夹持孔,和设置在所述样品夹持孔两端的突出部,所述突出部与所述样品夹持孔相贯通。

4.根据权利要求3所述的式样架,其特征在于,所述样品夹持孔的结构选自正方形、长方形、圆形、菱形中任意一种。

5.根据权利要求1或4所述的式样架,其特征在于,所述陶瓷选自氧化铝陶瓷、氧化锆陶瓷中任意一种。

6.根据权利要求5所述的式样架,还包括:

7.一种制作权利要求1-6中任一项所述的式样架的方法,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,还包括:

9.一种金属样品腐蚀测试的应用,包括:

10.根据权利要求9所述的应用,其特征在于,所述腐蚀测试的温度为1000℃-1600℃。


技术总结
本申请的实施例提供了一种用于金属样品性能测试的式样架、制作方法和应用,属于腐蚀试验装置技术领域,其中该式样架包括:陶瓷基板、样品夹持单元、定位标记和安放孔。其中,多个样品夹持单元相互平行且等间距阵列分布在陶瓷基板上,被构造成安装和固定待测金属样品;定位标记设置在陶瓷基板上且平行于样品夹持单元,每个样品夹持单元配置有唯一标识的定位标记,定位标记被构造成识别待测金属样品;安放孔设置在陶瓷基板的边缘,被构造成拿取和放置式样架。

技术研发人员:杨万欢,乔鹏瑞,王景春,龚雪婷,杨文,朱庆福,周培德,钟巍华
受保护的技术使用者:中国原子能科学研究院
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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