1.一种相变微胶囊成核速率的测试装置，其特征在于：该装置由pdms微孔芯片、差示扫描量热仪和显微摄像仪组成。
2.根据权利要求1所述的一种相变微胶囊成核速率的测试装置，其特征在于：所述pdms微孔芯片是按照以下方法制备得到：使用制图软件绘制一个正方形平面，在正方形平面内部等间距绘制多个与微胶囊大小相同的圆形，并打印在菲林胶片上得到掩膜；接着，利用匀胶机在洁净的抛光硅片上抹平光刻胶，匀胶后进行前烘，使光刻胶固化；前烘完成后，在固化的光刻胶上面覆盖掩膜并在紫外光刻机上进行曝光；曝光完成后的光刻胶进行中烘，中烘完将硅片放在显影液中显影，并用异丙醇清洗掉残留的显影液；然后，将硅片放在加热平板上加热坚固模具，得到表面带有圆槽突起的硅片，即阳模；最后将聚二甲基硅氧烷和固化剂按质量比10：1混合，排干气泡后浇筑在阳模表面，烘干后既获得带有多个微孔结构的pdms芯片。
3.根据权利要求1所述的一种相变微胶囊成核速率的测试装置，其特征在于：所述pdms微孔芯片的圆形直径为70μm-2000μm，每个圆形间距0.1mm-0.3mm；所述光刻胶的厚度0.1mm-0.3mm，匀胶机转速500r/s-3000r/s，旋转时间15s-60s。
4.一种利用权利要求1或2所述的装置进行相变微胶囊成核速率的测试方法，其特征在于包括以下操作步骤：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：
6.根据权利要求1所述的相变微胶囊成核速率的测试装置在相变储能领域中的应用。
7.根据权利要求4所述的相变微胶囊成核速率的测试方法在相变储能领域中的应用。