一种线电阻检测电路、芯片及电子设备的制作方法

本申请涉及集成电路领域，尤其涉及一种线电阻检测电路、芯片及电子设备。

背景技术：

1、在芯片封装时会打上线电阻，而对应的线电阻检测电路是一种拆卸响应检测模块，当外部对芯片进行拆卸时，会造成线电阻阻值变化或直接断开，此时线电阻检测电路能够输出指示。目前的线电阻检测电路结构复杂，存在功耗过高等问题。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本申请提供了一种线电阻检测电路、芯片及电子设备。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种线电阻检测电路，所述电路包括：参考模块、比较模块、线电阻和电流镜模块；

3、所述电流镜模块，分别与所述线电阻和所述参考模块电连接；

4、所述参考模块，用于为所述比较模块提供所述线电阻对应的电阻参考范围；

5、所述比较模块，其检测端与所述线电阻和所述电流镜模块电连接，用于在所述线电阻未在所述电阻参考范围时输出检测信号。

6、在一实施方式中，所述比较模块，具体用于在所述线电阻所在线路的第一电压值未在参考电压范围时，确定所述线电阻未在所述电阻参考范围，所述电阻参考范围与所述参考电压范围对应。

7、在一实施方式中，所述参考模块包括串联的第一参考电阻单元和其他参考电阻单元；所述第一参考电阻单元的第一端接地，所述第一参考电阻单元的第二端经所述其他参考电阻单元与所述电流镜模块电连接；

8、所述比较模块的第一参考端与所述第一参考电阻单元的第二端电连接，所述比较模块的第二参考端与所述其他参考电阻单元和所述电流镜模块的公共端电连接；

9、所述比较模块，还用于在所述第一电压值超过第一电压阈值或者低于第二电压阈值时，输出检测信号，所述第一电压阈值为所述参考模块所对应的电压值，所述第二电压阈值为所述第一参考电阻单元所对应的电压值。

10、在一实施方式中，所述第一参考电阻单元包括第一电阻，所述其他参考电阻单元包括第二电阻和第三电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻电连接，所述第二电阻的第二端经所述第三电阻与所述电流镜模块连接；

11、可选地，所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的阻值相同。

12、在一实施方式中，所述电流镜的电流镜像比例为1:1。

13、在一实施方式中，所述电流镜模块包括：第一mos管和第二mos管；

14、所述第一mos管的栅极与所述第二mos管的栅极、所述参考模块以及所述第一mos管的漏极电连接；

15、所述第一mos管的源极和所述第二mos管的源极连接电源；

16、所述第二mos管的漏极和所述线电阻以及所述比较模块的检测端电连接。

17、在一实施方式中，所述比较模块包括：第一比较器和第二比较器；

18、所述第一比较器的同相输入端与所述第二比较器的反向输入端以及所述线电阻电连接；

19、所述第一比较器的反向输入端接入第一电压阈值；

20、所述第二比较器的同向输入端接入第二电压阈值，所述第一电压阈值大于所述第二电压阈值，所述第一电压阈值与电阻值a对应，所述第二电压阈值与电阻值b对应，所述电阻参考范围为[b，a]。

21、在一实施方式中，所述比较模块还包括：或门；

22、所述第一比较器的输出端和所述第二比较器的输出端分别连接所述或门的第一引脚和第二引脚，所述或门的输出端能够输出检测信号。

23、第二方面，本申请实施例提供一种芯片，所述芯片包括第一方面提供的线电阻检测电路。

24、第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括第二方面所提供的芯片，或者包括第一方面所提供的线电阻检测电路。

25、上述本申请提供的一种线电阻检测电路、芯片及电子设备，属于集成电路领域。其中所述线电阻检测电路包括：参考模块、比较模块、线电阻和电流镜模块；所述电流镜模块，分别与所述线电阻和所述参考模块电连接；所述参考模块，用于为所述比较模块提供所述线电阻对应的电阻参考范围；所述比较模块，其检测端与所述线电阻和所述电流镜模块电连接，用于在所述线电阻未在所述电阻参考范围时输出检测信号。本申请电路中设置有电流镜模块，电流镜模块相较于同尺寸的电阻，其阻值更大，因此能够相对降低电路电流，减小功耗。本方案整体电路结构简单，能够借助线电阻与参考电阻范围的变化，实现芯片的拆卸响应检测。

技术特征：

1.一种线电阻检测电路，其特征在于，所述线电阻检测电路包括：参考模块、比较模块、线电阻和电流镜模块；

2.根据权利要求1所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述比较模块，具体用于在所述线电阻所在线路的第一电压值未在参考电压范围时，确定所述线电阻未在所述电阻参考范围，所述电阻参考范围与所述参考电压范围对应。

3.根据权利要求2所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述参考模块包括串联的第一参考电阻单元和其他参考电阻单元；所述第一参考电阻单元的第一端接地，所述第一参考电阻单元的第二端经所述其他参考电阻单元与所述电流镜模块电连接；

4.根据权利要求3所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述第一参考电阻单元包括第一电阻，所述其他参考电阻单元包括第二电阻和第三电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻电连接，所述第二电阻的第二端经所述第三电阻与所述电流镜模块连接；

5.根据权利要求1所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述电流镜的电流镜像比例为1:1。

6.根据权利要求1至5任一项所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述电流镜模块包括：第一mos管和第二mos管；

7.根据权利要求1至5任一项所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述比较模块包括：第一比较器和第二比较器；

8.根据权利要求7所述的线电阻检测电路，其特征在于，所述比较模块还包括：或门；

9.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括如权利要求1至8任一项所述的线电阻检测电路。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求9所述的芯片，或者包括如权利要求1至8任一项所述的线电阻检测电路。

技术总结
本申请提供了一种线电阻检测电路、芯片及电子设备，属于集成电路领域。其中所述线电阻检测电路包括：参考模块、比较模块、线电阻和电流镜模块；所述电流镜模块，分别与所述线电阻和所述参考模块电连接；所述参考模块，用于为所述比较模块提供所述线电阻对应的电阻参考范围；所述比较模块，其检测端与所述线电阻和所述电流镜模块电连接，用于在所述线电阻未在所述电阻参考范围时输出检测信号。本申请电路结构简单，耗能较低，并能够及时检测出线电阻是否发生变化。

技术研发人员：曾祺琳,陈婷,康希,曾威,严冬梅,张渝升,汤雪川
受保护的技术使用者：湖南国科微电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15