一种高分子材料实体保持架新型测量方法与流程

本发明涉及轴承加工，尤其涉及一种高分子材料实体保持架新型测量方法。

背景技术：

1、目前特种装备领域及医疗器械领域所用高端微型轴承的实体保持架，已逐渐采用各类新型高分子材料。该类材料普遍具有抗压和抗冲击性；较小的线膨胀性和抗蠕变能力；优良的耐热性和耐低温性，且在一定温度以下有着优秀的机械性能和尺寸稳定性；部分高分子材料还具有良好的耐磨性、摩擦系数低、自润滑性等诸多优点。

2、微型轴承高分子材料实体保持架的特点为：

3、1.外径小：一般d＝φ2-7mm；

4、2.孔壁薄：一般l壁＝0.2-1mm；

5、3.径向孔孔径小：d兜＝0.35-2mm。

6、其中各径向孔中心高及孔间平行差的值是在生产过程中评价微型轴承高分子材料实体保持架其质量水平的重要的位置精度值，所需测量精度要求高。原测量方法采用千分表对厚度进行测量(图5、图6)，但由于其径向孔孔径已属微孔范畴，且外径小孔壁薄，待测面小，造成测量时受随机误差与粗大误差的影响大且效率低下，因在线不能提供及时准确的测量数据，严重制约了微型轴承高分子材料保持架大批量生产的效率，成为其生产制造过程中的问题。

7、因此，解决对微型轴承高分子材料实体保持架各径向孔中心高及孔间平行差的测量及效率显得尤为重要。

技术实现思路

1、本发明公开一种高分子材料实体保持架新型测量方法，旨在解决对微型轴承高分子材料实体保持架各径向孔中心高及孔间平行差的测量及效率的技术问题。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

3、一种高分子材料实体保持架新型测量方法，包括以下具体步骤：

4、s1：准备测量工装，其中测量工装包括底座，且底座的顶端通过第一夹具固定连接有千分表，千分表包括连接轴和测量头，且连接轴被第一夹具夹持，底座的另一侧通过第二夹具连接有芯棒，且保持架设置于芯棒上，保持架包括径向孔；

5、s2：置零千分表，其测量头平面与芯棒保持平行；

6、s3：抬起测量头，将被测保持架的径向孔放置于芯棒上；

7、s4：放下测量头，使其与保持架端面接触；

8、s5：小幅左右来回晃动保持架，同时观察千分表上指针的晃动，指针所示的最小值就是径向孔孔底部到端面的厚度h底，并进行测量数值记录；

9、s6：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下，然后对另一保持架的径向孔进行s2-s5的操作，记录测量数值，直至所有径向孔全部完成测量并记录测量数值；

10、s7：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下,然后换到另一端面重复s2-s5的测量，并记录测量数值；

11、s8：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下，然后对另一保持架的径向孔进行s2-s5的操作，记录测量数值，直至所有径向孔全部完成测量并记录测量数值；

12、所述s4中的不确定度为0.0005mm，且径向孔中心高h高＝h底+d兜/2，所述s5中，孔间平行差δl＝h高max-h高min,由h高＝h底+d兜/2推导出δl＝h底max-h底min，所述s7中，分别记录测量数值h底1、h底2、由h高＝h底+d兜/2推导出h高1、h高2，径向孔对称度t＝h高1-h高2/2，所述s8中，分别记录测量数值h底1、h底2、由h高＝h底+d兜/2推导出h高1、h高2，径向孔对称度t＝h高1-h高2/2，

13、通过设置有测量工装，为了达到微型保持架的精准测量，一般可使用万能工具显微镜来提高测量精度，但采用万能工具显微镜测量，虽是非接触式无损测量，但设备成本高，设备对测量环境要求高，测量尺寸项单一，测量效率低，受测量人员技术水平影响大，本发明相比于旧型测量工装上，微型的保持架在检测平面上难以保持稳定，影响到保持架的测量精度，本测量工装的测量方式更有利于测量精度以及测量效率的提高，由此，通过利用简单的测量结构来优化测量精度、测量效率以及测量难度，可保障保持架的大批量生产。

14、在一个优选的方案中，所述s2中，芯棒可根据径向孔孔径的大小进行更换，且芯棒的直径大小取径向孔孔径的40％-75％，所述s4中，受径向孔壁曲面弧度的引导、测量头所施加的测力及自身的重力的共同作用，来找正径向孔孔底。

15、通过设置有芯棒，芯棒的直径可根据保持架径向孔的大小进行更换，更换芯棒后，在主结构不便的情况下，可对多种尺寸的保持架精度进行测量，从而优化该测量工装的适应性。

16、由上可知，一种高分子材料实体保持架新型测量方法，包括以下具体步骤：s1：准备测量工装，其中测量工装包括底座，且底座的顶端通过第一夹具固定连接有千分表，千分表包括连接轴和测量头，且连接轴被第一夹具夹持，底座的另一侧通过第二夹具连接有芯棒，且保持架设置于芯棒上，保持架包括径向孔；s2：置零千分表，其测量头平面与芯棒保持平行；s3：抬起测量头，将被测保持架的径向孔放置于芯棒上；s4：放下测量头，使其与保持架端面接触；s5：小幅左右来回晃动保持架，同时观察千分表上指针的晃动，指针所示的最小值就是径向孔孔底部到端面的厚度h底，并进行测量数值记录；s6：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下，然后对另一保持架的径向孔进行s2-s5的操作，记录测量数值，直至所有径向孔全部完成测量并记录测量数值；s7：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下,然后换到另一端面重复s2-s5的测量，并记录测量数值；s8：抬起测量头，将被测保持架的径向孔从芯棒上取下，然后对另一保持架的径向孔进行s2-s5的操作，记录测量数值，直至所有径向孔全部完成测量并记录测量数值。本发明提供的高分子材料实体保持架新型测量方法具有通过利用简单的测量结构来优化测量精度、测量效率以及测量难度，可保障保持架的大批量生产的技术效果。

技术特征：

1.一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，包括以下具体步骤：

2.根据权利要求1所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s2中，芯棒(7)可根据径向孔孔径的大小进行更换，且芯棒(7)的直径大小取径向孔孔径的40％-75％。

3.根据权利要求1所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s4中，受径向孔壁曲面弧度的引导、测量头(5)所施加的测力及自身的重力的共同作用，来找正径向孔孔底。

4.根据权利要求3所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s4中的不确定度为0.0005mm，且径向孔中心高h高＝h底+d兜/2。

5.根据权利要求1所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s5中，孔间平行差δl＝h高max-h高min。

6.根据权利要求1所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s7中，分别记录测量数值h底1、h底2，径向孔对称度t＝(h高1-h高2)/2。

7.根据权利要求1所述的一种高分子材料实体保持架新型测量方法，其特征在于，所述s8中，分别记录测量数值h底1、h底2，径向孔对称度t＝(h高1-h高2)/2，

技术总结
本发明公开了一种高分子材料实体保持架新型测量方法包括以下具体步骤：S1：准备测量工装，其中测量工装包括底座，且底座的顶端通过第一夹具固定连接有千分表，千分表包括连接轴和测量头，且连接轴被第一夹具夹持，底座的另一侧通过第二夹具连接有芯棒，且保持架设置于芯棒上，保持架包括径向孔；S2：置零千分表；S3：抬起测量头，将被测保持架的径向孔放置于芯棒上；S4：放下测量头，使其与保持架端面接触；S5：小幅左右来回晃动保持架，同时观察千分表上指针的晃动，本发明公开的高分子材料实体保持架新型测量方法具有通过利用简单的测量结构来优化测量精度、测量效率以及测量难度，可保障保持架的大批量生产的效果。

技术研发人员：顾金芳,姚文俊,任卓道,卞显军,章伟杰,张云,唐晓峰,迟振方
受保护的技术使用者：上海天虹微型轴承有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/17