一种新型HTRB老化PCB测试板的制作方法

本技术涉及封装老化测试板，更具体地说，它涉及一种新型htrb老化pcb测试板。

背景技术：

1、随着现代化电子科学技术的迅猛发展，电子产品细致化程度不断升高，结构逐渐细化、工序逐渐增加、制造工艺逐渐复杂，由此在生产制造环节埋下了一系列隐患。一个良好的电子产品，不仅需要在性能层面具备较高的指标，同时还需要拥有较好的稳定性能，当前国内外普遍应用高温老化工艺，提高电子元器件的可靠性以及稳定性。目前，电子产品在应用环节会面临诸多不同的温度、环境条件，一旦受到热胀冷缩的影响，电子元器件的热匹配性能就会降低，导致电子产品产生故障，并在经济、人力层面造成较大损失。电子元器件的老化测试工作主要是剔除一些不符合标准的元器件，从而提升电子产品的质量。所以，当前针对电子元器件的老化测试，以及最新设备研究进行分析以及探讨，就目前现状而言，拥有极其重要的现实意义。

2、如申请号cn201911321270.1公开了一种老化测试板，包括基座，基座的上表面设置有容纳槽；若干测试座，设置在容纳槽内，用于对待测试件进行老化测试；导电连接件，设置在容纳槽内，用于将若干测试座电连接；盖板，盖设在基座的上表面，且设置有供若干测试座的部分伸出的通孔。可以避免避免使用传统的焊锡工艺，使得老化测试板可以耐高温，且安全可靠。

3、但是目前已有的htrb老化板一般尺寸为280mm*590mm，受尺寸限制，采用固定封装类型的socket测试底座，测试工位少，一般为40单工位，一个周期内测试考核的样品数量较少，且只能测试单一的封装样品。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种新型htrb老化pcb测试板，解决上述的一个或多个问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

3、一种新型htrb老化pcb测试板，包括

4、分路针脚，其设于测试板一端，通过分路引线连接部件；

5、合路针脚，其设于测试板一端，通过合路引线连接部件；

6、主要功能区，其设于测试板中央，连接所述分路引线和合路引线；

7、其中，所述主要功能区包括若干排平行设置的socket测试单元，所述socket测试单元之间并接，每个socket测试单元分别接入单独的分路引线和合路引线。

8、进一步地，所述socket测试单元包括若干并行设置的socket测试模块，所述socket测试模块之间并接，每个socket测试模块分别接入对应的分路引线和合路引线。

9、进一步地，所述socket测试模块包括两个socket测试组块，所述socket测试组块之间并接，每个所述socket测试组块分别接入对应的分路引线和合路引线。

10、进一步地，每个所述socket测试模块内串接单独的保险丝socket。

11、进一步地，所述测试组块的栅极与漏极和源极中的一个短接。

12、进一步地，所述主要功能区尾部设有两个测试点，两个测试点分别接入分路引线和合路引线。

13、综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

14、1、通过加设一组通用型野口socket，将测试版由原本的40单工位增加成80单工位，提高测试效率；

15、2、串接保险丝socket，防止测试板或元器件烧毁；

16、3、加入测试点，方便确认电路是否运行正常。

技术特征：

1.一种新型htrb老化pcb测试板，其特征在于，包括

2.根据权利要求1所述的新型htrb老化pcb测试板，其特征在于：所述socket测试单元包括若干并行设置的socket测试模块，所述socket测试模块之间并接，每个socket测试模块分别接入对应的分路引线和合路引线。

3.根据权利要求2所述的新型htrb老化pcb测试板，其特征在于：所述socket测试模块包括两个socket测试组块，所述socket测试组块之间并接，每个所述socket测试组块分别接入对应的分路引线和合路引线。

4.根据权利要求2所述的新型htrb老化pcb测试板，其特征在于：每个所述socket测试模块内串接单独的保险丝socket。

5.根据权利要求3所述的新型htrb老化pcb测试板，其特征在于：所述测试组块的栅极与漏极和源极中的一个短接。

6.根据权利要求1所述的新型htrb老化pcb测试板，其特征在于：所述主要功能区尾部设有两个测试点，两个测试点分别接入分路引线和合路引线。

技术总结
本技术公开了一种新型HTRB老化PCB测试板，包括分路针脚，其设于测试板一端，通过分路引线连接部件；合路针脚，其设于测试板一端，通过合路引线连接部件；主要功能区，其设于测试板中央，连接分路引线和合路引线；其中，主要功能区包括若干排平行设置的socket测试单元，socket测试单元之间并接，每个socket测试单元分别接入单独的分路引线和合路引线。本技术通过并接一组新的野口socket接口，实现测试考核器件单工位由40变为80的翻倍；增加保险丝使得老化测试中电路和器件均能被保护，不再有烧毁的风险；增加对应的测试点，方便监测检测考核电压。

技术研发人员：李小建,杨芹,侯辉,钱凌峰,金星宇
受保护的技术使用者：江苏捷捷微电子股份有限公司
技术研发日：20230524
技术公布日：2024/1/15