本技术涉及一种对纸质样品进行无损元素分析的装置,涉及元素分析。
背景技术:
1、在司法鉴定领域,需要对合同、票据、档案、书画样品等纸质样品进行元素分析,判断纸质样品的真伪及来源。目前对纸质样品进行元素分析的仪器主要是能量色散x射线光谱仪(energy dispersive x-ray spectroscopy,edx),其原理是借助x射线对待测纸质样品进行照射,待测纸质样品所含有的元素会发出特征x射线,通过检测发出的特征x射线的波长和强度实现待测纸质所含元素的测定,因此,纸质样品下方设置有通孔,以保证x射线能够照射到待测纸质样品的表面。
2、为了保证测量结果的准确性,该仪器在工作过程中需要保持真空环境,因此,该通孔还兼具气体通道的作用,当待测纸质样品放置在该通孔上时,在抽真空过程中待测纸质样品会被真空泵吸入通孔内,导致纸质样品表面出现折痕,对于贵重且较易损坏的纸质检材,例如票据、档案、书画样品等并不友好。因此,如何对纸质样品进行无损元素分析,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本实用新型提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置,用于对纸质样品进行无损元素分析。
2、本实用新型第一方面提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置,所述装置为能量色散x射线光谱仪,所述能量色散x射线光谱仪包括样品放置单元和位于所述样品放置单元下方的x射线发生单元;
3、所述样品放置单元内部设置有样品支撑单元,所述样品支撑单元包括支撑面和至少两个支撑部,所述支撑面远离支撑部的表面用于放置待测纸质样品,所述至少两个支撑部间隔设置在所述支撑面的下方;
4、所述样品放置单元和所述支撑面分别设置有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔和第二通孔对应,使所述x射线发生单元发出的x射线穿过所述第一通孔和第二通孔抵达待测纸质样品表面。
5、在一种具体实施方式中,沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向,所述支撑部的高度不大于2cm。
6、在一种具体实施方式中,沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向,所述支撑面的高度不大于0.5cm。
7、在一种具体实施方式中,所述支撑面的长度和宽度均大于所述第一通孔的直径。
8、在一种具体实施方式中,所述支撑面的长度大于等于20cm;和/或,所述支撑面的宽度大于等于20cm。
9、在一种具体实施方式中,所述第一通孔的直径小于等于所述第二通孔的直径。
10、在一种具体实施方式中,所述支撑部之间的距离大于等于10cm。
11、在一种具体实施方式中,所述第二通孔的圆心与所支撑面任一侧边的距离大于等于5cm。
12、在一种具体实施方式中,所述支撑面远离支撑部的表面设置有刻度。
13、在一种具体实施方式中,所述刻度的单位长度为0.1-0.5cm。
14、本实用新型提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置,通过设置样品支撑单元,使得待测纸质样品与第一通孔之间间隔一定距离,为气体提供了流通通道,避免待测纸质样品被真空泵吸入通孔内,避免了元素分析过程对纸质样品的损坏,实现了纸质样品的无损元素分析,适用于字画、档案、票据等贵重且较易破损的纸质样品的分析检测。
1.一种对纸质样品进行无损元素分析的装置,其特征在于,所述装置为能量色散x射线光谱仪,所述能量色散x射线光谱仪包括样品放置单元和位于所述样品放置单元下方的x射线发生单元;
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向,所述支撑部的高度不大于2cm。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向,所述支撑面的高度不大于0.5cm。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述支撑面的长度和宽度均大于所述第一通孔的直径。
5.根据权利要求1或4所述的装置,其特征在于,所述支撑面的长度大于等于20cm;和/或,所述支撑面的宽度大于等于20cm。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一通孔的直径小于等于所述第二通孔的直径。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述支撑部之间的距离大于等于10cm。
8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二通孔的圆心与所支撑面任一侧边的距离大于等于5cm。
9.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述支撑面远离支撑部的表面设置有刻度。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述刻度的单位长度为0.1-0.5cm。