专利名称:印刷电路板功能测试系统以及使用上述系统的方法
本发明涉及一种印刷电路板功能测试系统，这种系统把被测印刷电路板的一组数据和从实际进行的装置中的功能正常的电路板上获得的一组基准数据加以比较，并以此判断出被测印刷电路板的质量是否合格。更具体地说，上述比较是分别在被测印刷电路板和基准印刷电路板上的大量的一一对应的测试点之间进行的。
近来，用来插装电子元件的印刷电路板在许多技术领域：
中被广泛地使用，如用于计算机、家用电器及各种类型的空调器中。因此对大批量生产的印刷电路板进行迅速、可靠的功能测试是极其必要的。
在现有的功能测试器中，先根据预期功能对众多电路块进行挑选，并决定测试点。然后根据电路设计对上述测试点上的电流、电压、波形、频率等额定特性进行分析计算，并将这些额定特性编成计算机使用的程序。编制这种程序需要许多技术熟练的工程师和很长的工作时间。程序编制完毕后，被测印板通过通用信息总线(GP-IB)与一个假负载相连，以便在计算机程序的指令下模拟实际操作。同时，把一个信号检测装置这样放置，使得被测印板背面的所有测试点都与同样数量的探针相接触，但这些探针使得整个装置体积庞大。这些探针通过同样数量的继电器与一台存有检测信号的重负载的电子计算机(常常非常昂贵)相连。存贮的被测数据接着和程序数据进行比较以进行质量检验。
在先有技术中，准备基准数据和程序不仅需要很长的时间而且需要熟练的工程师，从而导致成本很高，并有可能延误生产计划。先有技术的另一个缺点是有这些的情况模拟测试中质量已经合格的被测印板在实际装置中工作不合格。这就不仅需要进行重新测试还需要更正程序，这样就进一步延误了生产计划和引起额外费用的增加。因此，先有技术中的功能测试器就相当昂贵因为它需要大容量计算机和体积庞大的探测装置，使用这种测试器由于上述原因成本就很高。
在本发明提出的功能测试系统和它的使用方法中，不借助使用假器件来模拟实际操作的程序而同样实现功能测试，从而省去了需技术熟练的工程师干的工作又不再需要大容量计算机和庞大的检测装置，这样就能减少系统的成本。
因此，本发明的一个目的是提出一种系统，该系统先从与实际运行中的装置连接的印板(基准印板)上获得基准信号，从也与实行运行中的装置相连的被测印板上获得被测信号，并将这两个信号在CPU(中央处理单元)中进行比较，以判断被测印板的质量是否合格。
本发明的另一个目的是提出一种通过一根单独的探针获得模拟波形信号的装置，该探针的X方向、Y方向、Z方向的运动由中央处理单元的座标信号控制，中央处理单元存贮了大量座标测试点以及测试顺序。探针依次和基准印板上的测试点以及它在受测印板上的对应测试点相接触;众多测试点的〔X-y〕坐标和接触顺序都已经存贮在中央处理单元中。
本发明另一个目的是提出波形变换和存贮装置，依靠它们可以在CRT(阴极射线管)上监视从上述的对应测试点上得到的两个模拟信号，以及将它们处理成包括数字信号的容易比较的基准数据和被测数据。
本发明还有一个目的是提出一种测试系统，系统中存贮并比较基准数据和被测数据以检验印板质量的中央处理单元由一键盘上的键操作所控制。该测试系统将测试结果以数字形式打印出来，显示出被测数据是否在基准数据事先规定的范围之内，并把测试结果存贮在软盘中。在每一测试点的比较结果以模拟波形的形式显示在阳极射线管上以进行目测。
简单地说，本发明设想了一个实现上述目的的测试系统一个键盘和一个小型中央处理单元(CPU)例如一个微型计算机相连，一个用来显示基准数据和被测数据以供目测的阴极射线管(CRT)、一个软盘驱动器和一个打印机也与该CPU相连。同时，这个CPU和一个座标检测装置相连，这个座标检测装置有一个数字转换器，用来为各测试点记忆和传送座标信号。用来提示各测试点的x-y座标和跟踪序号的一块穿孔板或者一块测试点指示板被放在座标检测装置中的适当位置上，以确定各座标值。CPU也和一个波形检测装置相连，从CPU来的座标指令信号驱动装置中的探针在xyz三方向进行检测操作。从工作中的装置中取出的基准印板或被测印板被放置在波形检测装置中，该印板通过一根外接电缆仍与原装置相连。波形检测装置与一波形转换和记忆装置相连，这个波形转换和记忆装置还与CPU相连。上述的波形转换和记忆装置用以处理和转换模拟信号将它转换成数字信号。这样获得的基准数据和被测数据的两个数字信号被送入CPU进行比较和评价，然后，显示出比较结果。
在其构成如上所述的本发明的测试系统中，通过座标检测装置从众多测试点获得座标信号，这样获得的信号被CPU作为驱动指令信号送出，以驱动波形检测装置中的一根单独的探针，这根探针跟踪着与运行中的装置相连的基准印板上的各测试点。这样就能从各测试点获得模拟信号，这些模拟信号被送到波形转换和存贮装置中，这个装置将这些信号加以处理并转换成数字信号，接着这些数字信号被作为基准数据贮存在CPU中。上述的波形转换和存贮装置由条件指令信号控制。所有地址的座标信号以同样的方式加以处理和存贮。根据上述的座标指令信号从被测印板的各测试点上获得的信号用与处理基准数据同样的方式加以处理并存贮在CPU的存贮装置中。上述的基准数据被转换成一个测试范围值，它是双值数(dual leuel data)，它有两个值，上值和下值，上、下值中间的范围定为质量合格范围，这样可以检查来自被测印板上的信号是否落在质量合格的范围中。
本发明的优点在于基准数据是在正常工作的装置中正常工作的印板的工作状态下取得的而不必准备测试程序;波形传感装置中的单根探针也是在这样的条件下在测试点上获得模拟信号的。上述的驱动指令信号控制着探针跟踪测试点。上述的模拟信号接着被送入波形转换和存贮装置，这个装置根据条件指令信号的指示将它们处理成数字信号，这些数字信号作为基准数据被存贮在上述的CPU的存贮装置中。所有地址的座标信号用同样方式加以处理和存贮。在座标指令信号的控制下在被测印板各测试点上检测到的信号，用同处理基准数据一样的方式加以处理并存贮在CPU的存贮器中。上述的基准数据被转换成一个测试数据范围值，它是一个双值数(dVual level dVata)，有两个值，上值和下值，上、下值中间的范围定为质量合格的范围，以便检查来自被测印板的信号是否在质量合格范围中。
本发明的一个优点是基准数据是在实际工作中工作正常的装置中的工作正常的印板的工作状态下取得的，而不是象先有技术那样准备测试程序，准备程序需要许多技术熟练的工程师和很长的工作时间。
本发明的另一优点是用一根探针取代了昂贵，笨重的多根探针。
本发明的另一优点是波形转换和存贮装置不采用很多先有技术，而这些技术需要许多技术熟练的工程师和很长的工作时间。
本发明另一优点是用单根探针装置代替了笨重昂贵的多探针装置。
本发明的又一优点是波形转换和存贮装置不需要大规模的中央处理单元，而只使用小型，廉价的微机，这样整个功能测试系统结构紧凑，价格便宜。
本发明还有一个优点是测试结果正确可靠能在测试装置中实时使用，这是因为测试基准数据的来源是与上述装置相连的实际工作中的印板。
图1.是本发明的整个系统的方框图。
图2.表示了波形转换和存贮系统的方框图，这个系统包括一个预置条件器和一暂存器。
图3.是一个显示在阴极射线管(CRT)上的基准数据和一个来自被测印板的波形的例子。
图4.是处理一个测试点上的基准数据的流程图。
图5.是处理被测印板上的一个测试点的数据的流程图。
图1表示本发明的印刷电路板功能测试系统的一个优选实施例。上述系统10中，有许多键11a的键盘11连接到中央处理单元(CPU)12上，通过这个键盘11输入测量条件、设置指令和操作指令。座标信号检测装置13包括一个矩阵传感和光标13b的座标板13a，并且与CPU12相连。一块上面标出许多测试点的穿孔板14或一块测试指示板事先放在上述座标板13a的适当位置上。穿孔板上的众多测试点由光标13b测定其座标及序号，这些座标和序号存贮在CPU12的软磁盘或硬磁盘15中。光标13b上有一块透明板，在其中心有一瞄准点13c和环绕它的线圈。当中心点对准某个测试点时，合上开关13d就能使磁通沿瞄准点的中心轴发射出来。磁通击中穿孔板14上的某个点，这个点决定了该测试点的座标。当穿孔板14上的两个基本点、(左下角的x-y原点14a和右下角的一个点)被初步确定后，CPU自动计算出正确的x-y座标，并将它们和跟踪序号一起存贮起来。所以穿孔板14上的定位对准并不要求十分严格。由CPU12存储的座标能传送到软盘上或在阴极射线管16上加以监视。
CPU12中存贮的座标信号被馈送到波形探测装置18中，这个装置通过外接总线单元17联接到CPU上，波形检测装置被来自CPU的输入命令一个测试点接一个测试点依次驱动，上述的输入指令是从许多键11a输入的。波形检测装置包括一个x-y-z驱动器18a和一块x-y-z板18b。工作正常的印板(基准板)20放在x-y-z板18b中的上盖板18c的定位框18d中，该印板还与实际工作中的装置19相连。
x-y-z板18b呈盒子形状，在其底部有导板18e，导板18e上沿y方向装有轴18f，轴18f沿x方向被x轴驱动马达18g所驱动。一个滑动部件沿上面说过的轴18f被y轴驱动马达18h所驱动，该滑动部件上装有一探针18i，该探针可以垂直(即z轴方向向)移动。驱动装置如一个电磁线圈或一个驱动马达18j通过联动装置18k将探针18i提起，这样就构成了一个三维跟踪机构。
从工作正常的装置19中取出的基准印板放在x-y-z板18b上，并通过电缆19a与上述装置19相连，电缆19a的两端有连接器19b和19c。
上述装置19使基准板进入正常工作状态，同时通过键盘指示CPU输出座标信号驱动x-y-z驱动器。x轴和y轴驱动马达18g和18h将探针指向与穿孔板标出的某个测试点相对应的一个座标点，z轴驱动马达18j接着使探针升起。探针不断地根据穿孔板14的指示跟踪印板上的测试点，直到获得了所有预定的测试点上正常功能模拟信号为止。
上面说到的在x-y-z板18i上根据座标信号驱动探针的机械结构是广为人知的技术，它的特殊结构并不限制在前面说到的实施例中。
波形传感装置与波形转换和存贮装置23相连被装置23包括一个预置条件器21(pre-conditioner)和一个暂存器22(transient memory)，这些名称都是川崎电子株式会社(K awasaki E lectonica)起的器件标记名称，它们一般被称之为数字存贮器正象本说明书中和后附的权限中所命名的那样。预置条件器21用来处理输入的模拟信号，暂存器22也是一样，且最好在CPU处理之前对输入的模拟信号加以处理。预置条件器21和暂存器22可以装在一个单元内。预置条件器21包含一个交流/直流选择器21b、一个衰减器21c和一个放大器21d。所有这些器件按上面的介绍顺序相互连接，如图2所示。它们还通过一个控制电路21a与CPU相连，操纵键11a还能使它们接收波形处理指示信号。波形检测装置18接收到的模拟信号流过波形转换和存贮装置到达CRT(阳极射线管)，并被显示出来;这样，通过观察显示情况就能选择交流/直流、调整衰减器21c以调整电压电平以及用放大器21补偿偏置电平。
放大器21d送出的经处理过的模拟信号被送至暂存器22中的A/D模数转换器，同时也通过一根支线被送至触发脉冲发生器22e。这个触发脉冲发生器22e与一个取样时钟电路22g相连，这个取样时钟电路22g还与A/D转换器和IC(集成电路)存贮器相连，A/D转换器和IC存贮器也互相连接着。与此同时，取样时钟电路22g和触发脉冲发生器22e分别通过控制电路22d和CPU相连。当模拟信号送入A/D转换器22a中时，通过键11a输入的指令将具有指定的座标地址数的条件指令信号从CPU送入触发脉冲发生器22c。触发脉冲发生器22e来的有关对模拟信号的触发位置和时刻的指令通过取样时钟电路送至A/D转换器。触发指令包括触发电平、触发时刻和选定的触发沿(是上升沿还是下降沿)。模拟信号在触发点上被数字化，数字化后的信号存贮在IC存贮器22b中。A/D转换器22a的取样时刻设置通过键盘11a输入到CPU中，并通过取样时钟电路22g实现对A/D转换器的指示。取样时刻对数字存贮器来说是一段时间，本实施方案的取样时间是一个范围，从50毫微秒一直到50秒，取样时间长短在这个范围内可以调节。存贮器在触发脉冲发生器产生触发的时刻起的一段预定时间内被触发。数字信号存贮在IC存贮器22b中。A/D转换器和IC存贮器均与同一取样时钟电路22g同步，以保证准确同步的存贮。
上述的IC存贮器22b在存贮数字化信号时相当于一个缓冲器，当预定的存贮量被充满后，IC存贮器22b将它的存贮内容通过扩展总线单元17传送到CPU的随机存取存贮器RAM1。如果需要的话，上述RAM1中的存贮内容也可传送到一个硬磁盘或转磁盘15a上。
一个D/A(数/模)转换器22f与上述IC存贮器22b的输出端相连。被上述D/A转换器22f转换成模拟波形形式的基准数据通过CPU被送至CRT16以供监视器显示。操作人员参照监示器的显示情况通过键盘向波形转换和存贮装置23输入指令信号的条件。指令的条件是交/直流选择。电压电平调整、偏置补偿、触发起始时刻和取样时间，这些都由工作人员选定。
当CPU12的RAM1中的基准数据被读出并被送入CPU中的一个比较器中时，质量合格范围的限值由从键11a输入的命令所给出，这个范围的大小取决于基准印板上该测试点代表的操作。形成印板电平范围的上、下限作为测试基准数据被写入硬磁盘中，这些测试基准数据也可以存贮在一软磁盘中，或者通过与该比较器相连的D/A转换器以模拟信号的形式显示在CRT上。
前面对本发明各部分的描述，以及对测量记录、显示程序的描述只针对一个测试点而言。因此要测量的记录n个测试点就必须根据座标信号的地址序号将上述程序重复n次。
下面将对检测的步骤，对检测数据的处理和被测印板20a运行功能的显示加以描述取出基准板20，在它的位置上放上被测印板20a，印板20a通过电缆19a与实际工作的器件19相连。
测试基准数据先被从硬磁盘或软磁盘中传送到CPU的RAM1中，然后通过键11a输入某个测试点(通常是第一个测试点)的编码座标信号的一个地址数，探针18i即被键入指令驱动至上述地址数指示出的相应的那个测试点。获得模拟信号的方式与获得基准信号的方式一样。来自波形检测装置18的模拟信号流过波形转换和存贮装置，并被转变为数字信号。这个数字信号作为被测信号送入CPU的RAM2中贮存起来。
RAM1和RAM2均与CPU12的比较器相连，被测数据在这个比较器中和测试基准数据进行比较。比较结果被打印机24用文字和数字打印出来。在通过D/A转换器与比较器相连的CRT16上对被测数据和基准数据进行视觉比较也是可能的。图3显示了视觉比较的一个例子，图中的被测信号和基准信号都是正弦波。图3中，y轴表示电压电平，x轴表示时间，点划线25和26分别是加给基准数据的上限和下限，实线27是被测数据。在这个例子中，被测印板质量不合格，因为它的波形不在质量合格范围之中。
本发明的优选实施方案在流程图4和5中被表示了出来。其中(1)图4第1步将穿孔板14放在上述数字转换电路13的座标板上，把光标13b放在穿孔板14的两个下角点上并按下1号开关，以确定座标基点，然后在各点上按下2号开关来决定测试点的座标(xi，yi)(i＝1，2，……n)。
图4第2步按地址数的顺序将座标进行编码并存贮在CPU的硬磁盘或转磁盘中。
(2)图4第3步接下去把基准印板20安放在波形检测装置118的x-y-z板18b的适当位置上，基准印板20还与实际运行中的装置19相连以进入实际工作状态，然后从软磁盘15a中将编码座标的第一个地址数的指令信号通过CPU送到波形检测装置18，以移动探针18i和测试点N1相接触。
图4第4步通过探针与测试点N1的接触从测试点N1上获得模拟信号。
图4第5步这个模拟信号通过预置条件器21被送至暂存器22，并被转换成数字信号，这个数字信号被一支路导至D/A转换器22f，以便在CRT16上进行监视显示。显示提供有关波形形状和特性的信息，因此预置条件器21的交/直流选择以及偏置电平补偿都是由从键11a输入的指令来实现的。
图4第6步通过键11a输入的触发与取样时刻指令将暂存器222中的部分数字信号暂时存贮在IC存贮器22。
图4第7步在第6步得到处理并存贮起来的信号被作为基准数据传送到CPU的RAM1中贮存起来，然后给它加上有上下限的质量合格范围，使之成为一个测试基准数据，并将它存贮硬磁盘或软磁盘15上。
图4第8步当在测试点N1上已完成上面描绘的所有步骤时，对第二个测试点N2重复执行第4步到第7步，并对所有剩下的测试点N3至Nn也重复同样的步骤。
图4第9步如果所有的测试点没有全部被测试完，在CRT上会出现“NO(未完)”显示，要求从第4步起重新执行。
当所有的测试点被检查完之后，在CRT会显示出“Yes(完毕)”，同时基准印板的型号、制造序号、各测试点Ni的编码地址数、测试基准数据(上下限)和设定的测试条件(模拟信号的电压电平、交/直流选择器位置和取样时间)等被自动写入软盘中。
(4)被测印板20a的测量操作将在下面加以描述图5第10步从软盘中读出测试基准数据并将它们移到RAM1中中。
图5第11步然后将被测印板放置在x-y-z板上，并将它和实际工作中的装置19相连。
图5第12步接着通过键11a输入指令，使来自CPU的指令将探针移到测试点N1的座标点上，这个座标点也就是上述的被测印板上第一个测试点的所在位置，探针与这个测试点接触。
图5第13步与此同时，预置条件器21和暂存器22从CPU收到与检测基准印板时相同的指令，波形检测装置18从第一个测试点上获得模拟信号。
图5第14步这样获得的模拟信号流过预置条件器到达暂存器，接着作为数字被测数据到达IC存贮器中贮存起来。
图5第15步对被测数据进行编码，并存贮在CPU12中的RRAM2中。
图5第16，17步当被测印板上的测试点N1上的测试操作完成之后，对下一点测试点N2执行同样的测试步骤。然后再对所有剩下的测试点Ni(i＝3，4，…n)重复同样的步骤。
图5第18步操纵按键11a输入座标信号的编码数，分别从RAM1和RAM2中读出测试基准数据和被测数据，并将它们送至CPU的比较器中。然后在比较器中对某测试点的被测数据进行检查，看它是否落在相应测试点的测试基准数据范围内。
图5第19步接下去由比较结果决定被测印板质量是否合格。
图5第20步被测印板质量是否合格的测试结果，由与比较器相连的打印机24打印出来。
打印结果显示出被测印板类型、印板号数、编码测试点数、每个测试点的测试基准数据的上下限、用实数表示的被测印板各测试点的数据和用文字表示的质量是否合格。任何测试点上标为“不合格”的模拟波形可以和模拟测试基准数据一起显示在CRT16上。对有故障点的视觉观察能使操作人员在将印板送回修理或返工时提出具体意见。
比较波形的CRT显示也可用来对被测印板上的调整电位器进行即时更正和调整。
权利要求
1.一种印刷电路板功能测试系统，上述系统带有CPU，上述CPU装有数据显示装置，用来显示通过键盘操作(包括设置控制和执行测量条件)获得的信号，包括·座标信号检测装置，该装置与上述CPU相连，用来决定事先在一块印刷电路的穿孔板上确定的许多测试点的x-y座标和地址号，·波形检测装置，该装置与上述的CPU相连，并从上述CPU接收上述的座标信号；上述装置还装有跟踪机构，用于将一根探针驱动到与上述测试点相对应的x-y座标点上，并在该座标点上升起该探针，使该探针与基准印板和被测印板上的上述测试点相接触，上述基准印板和上述被测印板被安放在上述机构的适当位置上，上述探针升起时能与上述测试点相接触，当上述探针和上述测试点相接触时就能获得模拟信号，·波形转换和存贮装置，该装置与上述的波形检测装置相连；为便于在CPU中处理和解释上述的模拟信号，上述波形转换和存贮装置在CPU命令下将上述模拟信号加以处理并转换成数字信号，而且临时贮存上述数字信号，·上述的显示装置显示评价结果，上述评价结果是上述CPU中的一个比较器把每个测试点上的基准数据和被测数据加以比较而取得的，上述基准数据和被测数据分别存贮在上述CPU中，上述的波形转换和存贮装置与上述的CPU相连。
2.根据权项1的印刷电路板功能测试系统，其中上述的座标信号检测装置包含一个矩阵传感器和光标的座标板，当一开关被按下时，就有磁通沿上述光标的圆形透明板的垂直轴发射出来。
3.根据权项1的印刷电路板功能测试系统，其中包括测试点指示板的实际尺寸的测试点指示器被放置在上述的座标信号检测装置中的一板座标板上。
4.根据权项1的印刷电路板功能测试系统，其中的组成部分是·上述的跟踪机构带有上述波形传感装置的探针，该探针接触工作中的印刷电路板背面上的预定的各测试点，上述机构还与CPU相连，为的是从x-y-z驱动器接收座标指令输出信号，·y轴取向的轴杆，它由x轴驱动马达所驱动，·上述轴上的滑动部件，由y轴驱动马达沿y轴驱动，·装在上述滑动部件上的探针，该探针沿z轴被联动装置和驱动装置(如螺线管或马达)垂直驱动。
5.根据权项1的印刷电路板功能测试系统，其中上述的波形转换和存贮装置包括互相连接的一个预置条件器的一个暂存器。
6.根据权项1的印刷电路板功能测试系统，其中上述的预置条件器包括一个衰减器和一个放大器以进行电压电平调整，还包括一个交流直流选择器以选择交流或直流或上述模拟信号，上述这些调整和选择是由来自CPU的预先通过键盘输入的条件命令信号来完成的。
7.根据权项5的印刷电路板功能测试系统，其中上述的暂存器包括一个A/D转换器、一个IC存贮器、一个触发脉冲发生器和一个取样时钟电路，上述A/D转换器用来将模拟信号转换成数字信号，上述的IC存贮器根据来自上述的触发脉冲发生器和上面的取样时钟电路送出的起始时间和取样时间(测量持续时间)的指令，暂时地存贮数字信号，上述起始时间和取样时间在上述的键盘上选定。
8.根据权项5和权项7所述的印刷电路板功能测试系统，其中上述的IC存贮器在其输出端和一个D/A转换器相连，用来在CRT上显示它的输出。
9.根据权项7所述的印刷电路板功能测试系统，其中上述的IC存贮器与CPU中的一个软磁盘和/或一个硬磁盘相连。
10.根据权项1所述的印刷电路板功能测试系统，其中装在CPU中的RAM1和RAM2用来存贮从IC存贮器通过一个I/O电路和一根扩展总线传送到RAM1和RAM2的基准数据和被测数据，RAM1和RAM2还均与一个比较器相连，以比较存贮在各个RAM中的数据。
11.根据权项10的印刷电路板功能测试系统，其中上述打印机与上述CPU中的上述比较器相连。
12.根据权项10的印刷电路板功能测试系统，其中上述比较器通过D/A转换器与上述显示装置中的CRT相连。
13.使用印刷电路板功能测试系统的方法，其中设定、控制和执行测量条件的操作通过键盘上的许多键来实现，上述系统带有上面说过的中央处理单元CPU，该CPU装有用来显示包括从上面操作中获得的信号的数据的显示装置，上述方法包括·在检测预定测试点的x-y座标点之后，将印刷电路板的编码座标信号和地址号存贮起来，CPU发出的存贮指令信号沿x-y-z轴驱动探针跟踪，接着把实际工作中的装置中的印板(基准印板)放在上述探针的上面，并使将印板进入实际工作状态;其下一步使上述探针与上述基准印板上的测试点相接触以便在该测试点上获得模拟信号，为便于CPU的处理先对上面获得的模拟信号进行处理，数字化转换的起始时间和测量持续时间由键盘命令所指定，上述数字信号被暂时地存贮起来，接着这个数字信号被送往CPU存贮起来;接着从带探针的跟踪装置中取出上述基准印板，并在上述的基准印板的位置上放上一个被测印板，同时使该受测印板进入实际工作状态，接下去根据座标指令信号使上述探针开始跟踪，这样就能获得模拟信号形式的测试点的工作情况，然后将测试点上的模拟输出信号加以处理并转换成数字形式的被测数据，其处理和转换方式和处理和转换基准信号的方式一样，上述被测数据先被临时存贮，然后被送到OPU，存在OPU中的基准数据和被测数据被CPU中的比较装置加以比较和评价，上述比较和评价提供对质量合格或不合格的判断，这个判断还被显示装置显示出来。
专利摘要
本发明是印刷电路板功能测试系统，它有一CPU，该CPU连接一CPT、一打印机和一软盘驱动器，还与一坐标检测装置相连，该装置检测和存贮印板上各测试点的坐标和地址号。该CPU还连接一波形检测装置。该装置用一个探针在测试点上获得模拟信号，该探针由坐标指令信号驱动跟踪并接触各测试点。该波形检测装置和波形转换和存贮装置相连，该装置将模拟信号处理成基准数和被测数据，并将它们送入CPU存贮起来以便对它们进行评价和显示。
文档编号G01R31/28GK86102660SQ86102660
公开日1986年10月15日 申请日期1986年4月18日
发明者千叶幸正 申请人:川崎电子株式会社导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan