至少使用一个带有随机相位屏的压电传感器的超声深度记录仪以及利用该回声深度记录...的制作方法

文档序号:6082020阅读:234来源:国知局
专利名称:至少使用一个带有随机相位屏的压电传感器的超声深度记录仪以及利用该回声深度记录 ...的制作方法
技术领域
本发明涉及到一种至少包括有一个发射和/或接收超声波扫描束的压电传感器的超声波回声深度记录仪;本发明还涉及到一种利用该超声波回声深度记录仪对物体进行扫描的方法。
本发明特别适用于医学领域,更具体地说是器官成象和鉴别该器官的组织特性;本发明还适用于弥散材料的无损检测领域,如果涉及到的是一些硬的弥散材料,那么这些材料通常具有粒状结构或纤维结构,更具体的是由大的钛晶粒组成的复合材料;如果涉及到的是一些软的弥散材料,这些材料可能是如干燥果实等农产品以及乳酪和肉类在医学领域中,对于如上所述的超声波回声深度记录仪来说,要解决二个问题1.必须能获得一个尽可能精确的被扫描物体的象,包括它的轮廓线和它的定向反射壁(例如存在于器官中的血脉)两者在内的成象;
2.必须能够通过精确测量同一器官内的不同组织的超声波衰减系数的方法,以便可靠地对同一器官的组织进行病理学研究。
与在医学领域相类似,在无损材料检测领域中,也要解决二个技术问题1.要根据弥散材料的回声深度记录的噪声将多孔区域和剥离缺陷区别开来,以便检测象剥离裂纹等不均匀性的存在;
2.必须能够通过精确测量超声波衰减系数来完成对无损检验来说具有重要意义的定量分析。
为了解决这些一般的技术问题,已有人提出了几种解决方案,值得注意的是发表在期刊《JournaldePhysiqueAppliqee》18(1983)PP527-556上的详尽地分析了回声深度记录成象的M.Fink的文章“Imagerieultrasonore”,和涉及到衰减系数测量这方面的被引证的法国专利说明书No2514910(PHF81.595)。
尽管采用这些已有的技术解决方案有时也能得到令人满意的结果,但也暴露出其缺点和局限性。
首先,在对器官的轮廓的测定或对材料中的缺陷的检测时,更一般地说是对固定的定向反射壁的检测时遇到与由压电传感器发射的超声波的干涉特性相连系的,由包含在所研究的物体内的多个弥散体产生的回声相消干扰的影响。在声学领域里的这种寄生现象是与在激光传输中常常遇到的导到“光斑粒”-在光学领域被称为“散斑”相类似。
其次,由于根据对随机分布在被测物体中的多个弥散体产生的回声深度记录信号分析所进行的衰减系数的测量,需要记录大量的回声深度记录线和根据由包含在一个相当大的体积中的多个弥散体产生回声而得到的多个频谱,所以在测量过程中必须移动压电传感器,而移动传感器将使空间分辨率大幅度地降低。同时,在被扫描物体内部的定向反射壁的存在,对多个弥散体产生的回声也有相当大的影响,因而对衰减系数的测定也有相当大的影响。只要对定向反射体进行精确的空间定位,就能够降低它们对多个弥散体所发射所发射的信号分析中的不良影响。
本发明要解决的另一个技术问题是提供一种至少包括有一个发射和/或接收超声波扫描束的压电传感器的超声波回声深度记录仪,它改散了被扫描的物体的回声深度记录成象的质量和衰减系数的测定精度,没有“散斑”,不用移动压电传感器,因而不会降低空间分辨率。
为了解决这个技术问题,本发明采用了带有至少一个与配置在超声波扫描束中并可相对该超声波扫描束的轴线移动的随机相位屏的压电传感器,和采用用于记录该随机相位屏的每一位置的回声深度记录线的组件。“可相对于超声波扫描束的轴线移动”这个短语在这儿应理解为它可以在与其有关平移,转动或平移/转动的作用下相杂诔ㄊ硕E渲迷诔ㄊ吨械乃婊辔黄恋闹饕饔迷谟谒苤卸贤ü闷恋某ǖ母缮妗 具体的随机相位屏是由至少有一个无规律粗糙度表面的某种材料制成的板组成的,对组成该板材料的要求是应使声波通过它时的速度和水中不同,以便使声波产生与该板粗糙表面的颗粒分布有关的随机相位差,最好能产生最大相位差。众所周知,与传感器接触的物体的声学特性是与水相同的,所以为了确保适当的灵敏度,用于制造随机相位屏的材料的声学阻抗最好与水的接近。
按照本发明的方法,其特征在于将相应于随机相位屏各个位置记录的回声度曲线的各包络线叠加,以便确定定向反射区域。与定向反射区相关的各最大值总是出现在这些包包络线的相同位置上;而与多个弥散体相关的各最大值在这些包络线上的位置却是随机变化的。这样一来,将很多次记录的各包络线叠加,就会大大地增加了与定向反射区相关的最大值,从而使器官壁、材料缺陷以及其它的定向反射壁的定位精确。从这个意义来说,本发明提出了一种新型的回声深度记录成相法,它与本领域的现有技术相比有降低回声深度记录“散斑”的特点。
这样一来,在无损材料检测领域中可以将剥离缺陷和真的气孔区分开来。
在用传统方法确定缺陷的位置之后,再将相应于随机相位屏的不同位置的回声深度记录曲线的各包络线叠加,从而增加了相应于剥离缺陷(定向反射体)的最大值;而对于真正的气孔(大量的弥散体)形成的缺陷的情况却不是这样。
这种超声波回声深度记录仪及其方法的另一个优点对被扫描物体的衰减系数β的测定很重要,它是由α(F)=βF定义的,其中α(F)为衰减量,β是衰减量的斜率,是频率的函数,众所周知,对于每一给定的扫描深度Z,系数β的数值根据平均功率谱A2ZF来计算,A2ZF对于一个给定的扫描深度提供回波深度记录信号的幅度,它是超声频率的函数。当相应于某一深度Z的A2Z(F)的中心频率F(Z)已知时,β可以用试验的方法,根据下关系式将F(Z)对Z求导数得出(参见法国专利说明书No2514910)。
其中σ(Z)为相应于深度Z的A2Z(F)的谱宽度,实际上σ(Z)随Z的变化很小,因此β与F(Z)的斜率有关,是Z的函数。
这种测量参数β的方法需要记录大量的回声深度记录曲线,本发明满足了这一要求。将相应于随机相位屏的各个位置的回声深度记录曲线通过一沿着该回声深度记录曲线移动的分析窗口进行叠加分析,以便推导出作为中心频率F(Z)的函数的被扫描物体的衰减系数β,和平均功率谱A2Z(F)的宽度σ(Z),其中的平均功率谱A2Z(F)确定了某一给定的探测深度Z的,相当于在该分析窗口内的回声深度记录信号的幅度。这种分析窗口隔离出一个以点t(与深度的关系为Z= (Ct)/2 )为中心的,具有回声深度记录线e(t)的宽度△t(与厚度的关系为△Z=C△t/2)的时间区域,其中C为超声波的速度。
随机相位屏能使得测量点的数量倍增,而特别重要的是,相应于它的每一个位置,可以设想多个弥散体相互间作随机移动。因此不再需要移动压电传感器,这样就改进了平均功率谱测定的空间分辨率。
因为沿着回声深度记录线上的定向反射区域的位置已经确定,所以很容易消除它们对F(Z)和σ(Z)数值的测定时产生的寄生效应,可以使分析窗口沿着该回声深度记录线移动,以避开定向反射区域。
按照本发明的方法的一种具体方案,对于随机相位屏的每一位置的回声深度记录线e(t)的单元功率谱,可以用傅利叶变换法求出,然后在该分析窗口内相对于随机相位屏的所有位置进行叠加,以获得平均功率谱A2Z(F)。
在一种比较简单的方案中,对于某一给定的分析窗口的位置,回声深度记录曲线的频谱的中心频率F(Z)是对于一给定的分析窗口根据相应于随机相位屏的所有位置叠加的零交叉的数目平均值来确定的;而谱宽度σ(Z)是根据对来自传送超声波信号的平面反射体的回声测定,将这些回声对随机相位屏的所有位置叠加。这种引人注意的方案是考虑到了σ(Z)基本上与Z无关和零交叉的数目正比于中心频率F(Z)这二个事实〔参见“Attenuation estimation with the Zeno-Crossing technic phantom studies”《Ultrasonic Imaging》Vol7,PP122-132(1985)〕。
在另一种方案中,将回声深度记录曲线通过中心频率为F的窄带带通滤波器滤波,为了求出衰减量α(F)而对这个频率F的各包络线的进行对数变换,根据α(F)=βF的关系,用频率F去除已得到的α(F)即可得到衰减系数β。众所周知,在这种情况下计算得到的包络线为exp(-α(F)ct/z。)为了更清楚理解和完成本发明,下面结合附图对本发明作非限定性的描述。


图1是按照本发明给出的超声波回声深度记录仪的传感器部分的原理性示意图。
图2a、2b和2c示出了如何根据本发明的回声深度记录仪的回声深度记录曲线确定定向反射区位置的。
图3a、3b、3c和3d示出了如何根据本发明的回声深度记录仪的回声深度记录曲线求出衰减系数β。
图4给出了本发明的回声深度记录仪的用来检测回声深度曲线这部分的原理图。
图5a和5b给出出了本发明的回声记录仪的用于确定衰减系数的两个实施例的原理图。
图6和图7是本发明的回声深度记录仪的两个实施例的原理图。
在图1中示出了正在对一个物体(器官或材料)21的超声波回声深度记录仪的传感器部分的原理性示意图,其中,被扫描物体21包括有壁22,例如血脉或缺陷等定向反射体23和分布物体21中多个弥散体24。本发明的这种回声深度记录仪包括有一个发射和接收超声波扫描束20的压电传感器10。正如在图4和图5中进一步所示的那样,压电传感器与超声波信号的发射单元100和接收单元200相连接,在图1中的压电传感器10是固定不动的,它带有一个安排在超声波扫描束20中并可以相对于超声波扫描束20移动(在这里是以旋转方式移动)的随机相位屏11。在图1所示的这种情况下,随机相位屏11可以绕着它的轴线旋转,它的所有位置(比如说100个)中的每一个都包围一个角度α;对于随机相位屏的每一个位置都要作回声深度曲线记录。通常,随机相位屏11是至少有一个表面具有随机粗糙度的某种材料制成的板,对组成该板的材料的要求是应保证声音在其中传播的速度和水不同。为了确保合适的灵敏度,应从满足上述要求的材料中最好选择声学阻抗和水相接近的材的材料,就这点来说,较合适的材料应是其声波在该材料中的速度比在水中低,但密度比水大的橡胶材料。然而这类材料却不是很硬,因此会引起信号的相当大的衰减。本发明推荐的材料是刚性较大和对声波衰减小的材料,特别是在商业上被称为TPX材料和那些声波在其中的传播速度比在水中高,但密度比水低的材料。就材料的粒度而言,颗粒的尺寸最好是能使其相干长度超过超声波的波长,即为几十个毫米,对颗粒厚度的要求应充分保证使声波通过它时产生的相位差等于π。
因此本发明的突出优点在于使抗相关的测量点的数量倍增了等于随机相位屏11的位置数那么多倍,由于不需要移动压电传感器10,所以不会降低空间分辩率。
图2a、2b和2c示出了如何根据本发明仪器测得的回声深度记录曲线的包络线的分析来精确地测定图1中所示物体21的包括它的壁22和定向反射体(在壁内部)23两者在内的象。图2a示出了相应于随机相位屏一给定位置α记录的回声深度记录曲线e(t)该回声深度记录曲线包括由多个弥散体24产生的回声31和由来自壁22和23类型的障碍物的定向反射体产生的回声30。该回声深度记录曲线的包络线E(t)包含有若干个最大值,其中一些与多个弥散体有关,它们的幅度却是如此的大,以至于干扰了定向反射区30的测定。如果在现阶段就对该包络线进行分分析,那么势必造成被扫描物体回声深度记录象21的明显的精度损失。图2b示出了相应于随机屏11的另外一个位置α+△α的回声深度记录曲线,其中的△α,例如是随机相位屏11每个步进转过的角度。尽管这个回声深度记录曲线从结构上看是与图2a中所示的相似,但是二者的包络线E(t)中与多个弥散体相关的最大值在回声深度记录曲线上的位置不同,而E(t)中与定向反射体相关的最大值却出现在同一位置上。正如图2c所示,如果将记录的相应于随机相位屏的所有位置的回声深度记录曲线的包络线E(t)叠加起来,则与定向反射体相关的各最大值被线性叠加,而与多个弥散体相关的最大值由于其分布的随机性,仅仅按平方律叠加,对于随机相位屏的100个特定的位置,定向反射区域30的测定精度提高100]]>=10倍,这对器官成象的质量来说是一个引入注目的改进。
图3a、3b和3d示出了如何根据回声深度记录线e(t)用傅利叶变换的方法确定衰减系数β。
如图3a所示,记录相应于随机相位屏11的每一位置α的回声深度记录曲线通过沿着回声深度记录曲线e(t)移动的分析窗口40进行叠加分析,分析窗口40限定了一个相应于组织厚度△Z=C△t/2的宽度△t的时间间隔,根据对分布在被扫描物体21内部的多个弥散体24发出的回声31的分析来确定衰减系数。从这种意义上来讲,定向反射区发出的信号同寄生信号相关,利用图2a、2b和2c所描述的处理程序能够消除定向反射区的不良影响。实际上正如图3a所示,因为定向反射区域30在这些回声深度记录曲线上已精确的定位,所以只要使分析窗口40沿着回声深度记录线移动时要避开已知的定向反射区30时就可以了。
在图3中示出了用傅利叶变换的方法对于沿回声深度记录曲线e(t)上的分析窗口内的,由时间t来表征的某一给定位置(即深度Z=Ct/2)和对于随机相位屏11的某一给位置α计算功率谱A2Z(F),功率谱A2Z(F)本身通常是一个无价值的量,很难用来精确确定衰减系数,这是因为在分析窗中来自多个弥散体发出的回声,使它含有许多无规律的因素。然而,本发明的一个最重要的优点就在于把同一分析窗口40内对于随机相位屏11的所有位置α计算出的单元功率谱A2Z(F)叠加起来,就得到了高质量的平均功率谱A2Z(F)(参见图3c)。从而能方便地精确确定相应于每个深度Z的平均功率谱A2Z(F)的谱宽度σ(Z)和中心频率F(Z),应该指出的是,这一改进是在不需要移动压电传感器10的条件下取得的,也就是说没有降低空间分辨率。
由于作为Z的函数F(Z)和σ(Z)已经得到(参见图3d),所以根据关系式
就可以求出所需的衰减系数β。
F(Z)和σ(Z)也可以不用傅利叶变换的方法来计算,而是根据接收的相应于随机相位屏所有位置α的,在以t(或Z=Ct/2)为中心的分析窗口40中的各回声深度记录曲线的零交叉点的数的平均值来确定中心频率F(Z)。众所周知零交叉点的数目正比于中心频率F(Z)。从谱宽度σ(Z)几乎不随Z变化这一点出发,可以根据从反射体发射超声波信号的表面发出的回声的记录中一次计算出来,其中的回声信号是相应于随机相位屏11所有位置的上被叠加过的。
所有的有关实施例中的衍射效应,可以根据法国专利说明书No2554238(PHF83,589)中所描述的方法来考虑,特别重要的是,该方法包括先对于每一个扫描深度Z记录带有随机相位屏11的压电传感器的平均衍射曲线D2Z(F),然后对相应于随机相位屏11的所有位置α的D2Z(F)进行叠加。
图4示出了本发明的一个超声波回声深度记录仪的测定回声深度记录曲线e(t)平均包络线E(t)部分的原理图。如图4所示,传感器10分别和发射单元100和接收单元200相连接,发射单元按传统的方式包括有一电激励信号发生器,接收单元200包括有输入端接有一个作为深度函数的增益补偿的射频放大器201,放大器201的输出端连接两个并联通道,其中一个同包络线测定单元210相连,另一个同衰减系数β的测定ピ 20相连。包络线测定单元210包含有一个连接有低通滤波器212的整流器211,经整流滤波后的信号相应于随机相位屏的某一位置的回声深度记录曲线e(t)的包络线E(t)。为了得到作为相应于随机相位屏所有位置的测量值的叠加结果E(t),由低通滤波器212输出的包络线信号E(t)经加法器213叠加,加法器213包括有一A/D转换器214和一数字存储器215,由转换器214输出的各个个数字信号在存储器215中被叠加。最后,已得到的数字形式的包络线E(t)经D/A转换器转换成模拟信号。
图5示出了在图4中所示的超声波回声记录仪中的衰减系数β测定部分220的两种方案的示意图。在与图3a-3d相关的方案中(参见图5a),相应于随机相位屏的每一位置,包络线e(t)在由窗口发生器221产生的移动窗口40中进行分析。先用快速傅利叶变换单元222计算出单元功率谱A22(F),再用与图4中所示的加法器215对相应于随机相位屏的所有位置α的单元功率谱A2Z(F)叠加,然后经处理单元224对加法器223输出的平均功率谱A2Z(F)进行计算而得到参数σ(Z)和F(Z),最后根据作为Z的函数σ(Z)和F(Z)求出β。
在图5b所示的方案中,由放大器201提供的回声深度记录信号被一中心频率为F的窄带带通滤波器225滤波。这一滤波后的信号平均均包络线被与图4中所示的相类似的检测组件226计算出。由此得出的平均包络线是一个衰减的对数曲线exp(-α(F)ct/2),其中α(F)为频率F时的衰减量,对数放大器227将这一指数曲线转换为斜率为-α(F)ct/2的直线,利用微分单元228测定这一斜率,则可得出衰减量α(F)。用改变带通滤波器225的中心频率F的方法,可以对函数α(F)随F的变化进行研究,并可由β=α(F)/F求出β。
图6是本发明仪器的具体实施例的剖视图,其中的压电传感器10带有两个随机相位屏11、12。更具体地说,固定不动的第一随机相位屏构成了容器50的窗口,该容器充有声学匹配的液体51并封包住带有第二随机相位屏12。压电传感器10和随机相位屏12可借助电机的驱动绕它们的轴转动,采用彼此可以相对运动的两个随机相位屏的优点是能够减少为获得抗相关的回声深度记录曲线所需要转动角度,从而可以使用移动步距更小和更轻便的随机相位屏,这样能使抗相关的测量点的数目进一步增加。另一个可能的方案是采用固定不动的传感器10和与传感器10分开的可转动的随机相位屏12,并始终保持随机相位屏11固定不动。
与图6中的采用一个发射和接收超声波束20的压电传感器10的例子不同,在图7中示出的装置中包含有两个压电传感器13、10,其中传感器13用于发射超声波束20的入射部分24,而传感器10则用于接收该超声波束20的反射部分25。为了防止由于布置在超声波束通路上的随机相位屏引起入射波24的衰减,仅仅对上述的第二压电传感器10配置可以在超声波束的反射部分25中移动的随机相位屏11。正如图7所示,相对于反射波束静止的第二随机相位屏12也可以同压电传感器10相连接,在图中所示的实施例中,压电传感器10和随机相位屏都是环状的。同样的原则只适用于安排在传感器13前面随机相位屏,但不适用于传感器10前面的随机相位屏。
当然,传感器13和10可以是偏平状的,也可以制成球状的聚焦式的。
权利要求
1.一种至少包括有一个发射和/或接收超声波扫描束(20)的压电传感器(10、13)的超声波回声深度记录仪,其特征在于它还具有至少带有一个布置在超声波扫描束(20)中并可以相对于该超声波扫描束的轴线移动的随机相位屏(11)的压电传感器(10),还装有用于记录该随机相位屏(11)的每一位置(a)的回声深度记录曲线e(t)的组件。
2.如权利要求1所述的回声深度记录仪,其特征在于所述的随机相位屏(11)是由至少有一个无规律粗糙度表面的某种材料制成的板组成的,对组成该板的材料的要求是,应使声波通过它时的速度和水中不同。
3.如权利要求2所述的回声深度记录仪,其特征在于,随机相位屏的颗粘度能引起等于π的最大相位差。
4.如权利要求2或3所述的回声深度记录仪,其特征在于随机相位屏(11)的颗粒尺寸应使其相干长度超过超声波束(20)的波长。
5.如权利要求1-4中所述的任何一个回声深度记录仪,其特征在于传感器(10)是固定不动的,而随机相位屏(11)是可以在超声波束(20)中移动的。
6.如权利要求1-5中所述的任何一个回声深度记录仪,其特征在于所述的压电传感器(10)带有两个随机相位屏(11、12),其中的一个(12)相对于超声波扫描束是固定不动的。
7.如权利要求6所述的回声深度记录仪,其特征在于它包括有一充有声学匹配液体(51)的容器(50),作为窗口的第一随机相位屏(11),装有第二随机相位屏(12)的压电传感器(10)和一个驱动压电传感器(10)与第二随机相位屏(12)绕它们的轴转动的电动机。
8.如权利要求1-6中所述的任何一个回声深度记录仪,其特征在于它包括有一个用于发射超声波扫描束(20)的入射部分(24)的第一压电传感器(13),以及一个用于接收超声波扫描束(20)的反射部分(25)的第二压电传感器(10),只有第二压电传感器带有可以移动的随机相位屏(11)。
9.如权利要求1-8中所述的任何一个回声深度记录仪,其特征在于它包括有用于检测记录相应于随机相位屏(11)的各个位置(α)的记录曲线〔e(t)〕的包络线〔E(t)〕的组件(211、212)和用于为测定定向反射区而叠加各包络线的组件(213)。
10.如权利要求9所述的回声深度记录仪,其特征在于它包括有对记录相应于随机相位屏(11)的各个位置(a)的回声深度记录线〔e(t)〕通过一沿着该回声深度记录曲线移动的分析窗口(14)进行叠加分析的组件(221);它还包括有用于从中求出作为中心频率F(Z)函数的被扫描物体的衰减系数β的和求出代表相应于-给定扫描深度Z的在所述的分析窗口内的回声记录信号幅度的平均功率谱A2Z(F)的谱宽σ(Z)的组件(222、223、224)。
11.如权利要求10所述的回声深度记录仪,其特征在于它包括有一用于计算相应于随机相位屏的每一位置的回声深度记录曲线〔e(t)〕的单元功率谱的快速傅利叶变换单元(222),还包括有用于对随机相位屏(11)的所有位置(a)的在所述的分析窗口(40)内的单元功率谱进行叠的加,以便得到平均功率谱A2Z(F)的加法器(223)。
12.如权利要求9所述的回声深度记录仪,其特征在于它包括有一个对回声深度记录曲线〔e(t)〕滤波的中心频率为F的窄带带通滤波器(225),以及接在它后面的包括加法器(226),对数放大器(227)和微分单元228在内的用于测定相应所述的频率F的衰减量α(F)的包络线检测器以及为了求出衰减系数β而将所述的衰减量作除以F运算的组件。
13.一种利用如权利要求1-12中所述的任何一个超声波回声深度记录仪对物体进行超声回波深度记录扫描方法,其特征在于为了测定定向反射区域(30)将记录相应于随机相位屏(11)的各个位置(α)的回声深度记录曲线〔e(t)〕的各包络线〔E(t)〕叠加起来。
14.如权利要求13所述的方法,其特征在于为了求出作为中心频率F(Z)函数的衰减系数β和代表一给定扫描深度Z的在所述的分析窗口内的回声深度记录信号幅度的平均功率谱的宽度σ(Z),将相应于随机相位屏(11)的各个位置记录的回声深度记录曲线〔e(t)〕通过沿着该曲线〔e(t)〕移动的分析窗口进行叠加分析。
15.如权利要求14所述的方法,其特征在于为了避开定向反射区(30)而使分析窗口(40)沿着所述的回声记录曲线〔e(t)〕移动。
16.如权利要求14或15所述的方法,其特征在于为了得到平均功率谱A2Z(F),对相应于随机相位屏的(11)的所有位置的回声深度记录曲线的单元功率谱〔A22(Z)〕用傅利叶变换的方法进行叠加。
17.如权利要求14或15所述的方法,其特征在于回声深度记录曲线〔e(t)〕频谱的中心频率F(Z)是根据相应于分析窗口(40)的一给定位置,借助于对随机相位屏11的所有位置(α)叠加的零交叉点的数目平均值来确定的;频宽度σ(Z)是根据将来自用于发射超声信号的反射体的表面的回声对随机相位屏的所有位置α进行叠加而测量的。
18.如权利要求13所述的方法,其特征在于回声深度记录曲线〔e(t)〕经一中心频率为F的窄带带通滤波器滤波,相应于该频率F的所述的若干包络线的和经过对数转换以便从中得出衰减量α(F),将它除以频率F即得到衰减系数(β)。
19.如权利要求13-18中所述的任何一个方法,其特征在于首先对相应于每个扫描深度Z对带有所述的随机相位屏(11)的压电传感器的衍射曲线D2Z(F)作记录,然后相对于随机相位屏(11)的所有位置α作叠加。
全文摘要
本超声波回声深度记录仪包括至少一个发射和/或接收超声波扫描束(20)的压电传感器(10,13),至少有一个压电传感器(10)带有一个配置在超声波扫描束(20)中并可以相于该超声束的轴线移动的随机相位屏(11)。还装有用于记录相应于所述的随机相位屏的每一位置(α)的回声深度记录曲线的组件。配置在超声波束通路中的随机相位屏的主要技术作用中断通过该屏的声波的干涉。
文档编号G01S7/52GK1030302SQ8810425
公开日1989年1月11日 申请日期1988年6月1日 优先权日1987年6月4日
发明者马菲亚斯·亚历山大·芬克 申请人:菲利浦光灯制造公司
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