专利名称：轴键槽对称度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种轴键槽对称度测量仪。
在实际生产中用于轴键槽对称度检测的方法，其测量原理是以装在轴键槽中的定位块模拟被测键槽中心平面，用轴外园模拟基准轴线，测量时存在较大难度，一方面需要配制多种规格的定位块，成本高，定位块与键槽也不能无间隙的配合；另一方面测量过程的调整工作较繁琐，且这种方法不适合于加工中测量，以实现刀具位置相对轴线的正确调整。
本实用新型的目的是要提供一种简单精确的测量仪，它能迅速测出键槽实际中心面相对理想位置的偏差值e，进而求得相应的对称度值。同时该测量仪能方便的调整，使其能满足不同键槽宽度及轴径测量要求。
本实用新型的目的是这样实现的用V形块模拟基准轴线，两个互相平行的刀口测头分别装在两个可以相对滑动的滑尺上，两个滑尺带动刀口测头平行移动卡住轴键槽的两侧面，而两个滑尺可以沿V形块上的滑槽移动。用安装在V形块上的指示器可绕通过V形块对称中心面的轴线转动，指示器测头与滑尺上测量平面接触，转动指示器测出两刀口测头偏差，从而实现对基准轴线对称度的测量。
本实用新型因只需在V形块上安装一个可以转动的指示器，并利用两个刀口测头卡住键槽侧面，所以整个结构特别简单。同时由于刀口测头能随着滑尺平行移动，所以能无间隙地贴紧键槽侧面并满足不同键槽宽度要求，而刀口测头设计成能上下移动的结构，从而能卡住不同轴径的键槽。另外偏差值可以从指示器表盘上直接读出，测量时与键槽底面无关，所以容易达到精确迅速的要求。
本实用新型的具体结构由以下的实施例及其附图给出。
图1是根据本实用新型提出的轴键槽对称度测量仪结构图。
下面结合图1详细说明依据本实用新型提出的具体测量仪的细节及工作情况。
该测量仪由V型块(1)，指示器(4)和测量部分组成。用指示器(4)作为读数装置，比较测出轴键槽对称度。测量部分包括可以相对滑动的右滑尺(2)和左滑尺(6)，右刀口测头(3)和左刀口测头(5)分别安装在右滑尺(2)和左滑尺(6)上，并且可以上下移动，指示器(4)测头可以与右滑尺(2)左滑尺(6)上的测量平面接触，指示器(4)可绕通过V型块对称中心面的轴线转动。测量时，移动右刀口测头(3)左刀口测头(5)使其适合键槽深度并与键槽底面保持0.1～0.3mm间隙，V形块(1)卡住轴外园，用手同时推动右滑尺(2)与左滑尺(6)，使刀口测头贴紧键槽侧面，转动指示器(4)使其测头与左滑尺(6)的测量平面接触，调整表盘使指针对一整数(以避免估读误差)，记下第一次读数E1。再转动指示器(4)与右滑尺(2)的测量平面接触，记下第二次读数E2，按GB1958-80标准中关于轴键槽对称度误差计算公式计算对称度误差
式中h---被测键槽深度R---被测件半径(E1-E2)取绝对值
权利要求1.轴键槽对称度测量仪，该装置有一个V形块(1)模拟基准轴线；V形块(1)上安装一个指示器(4)，其特征在于指示器(4)可绕通过V形块对称中心面的轴线转动，两个互相平行的刀口测头(3)(5)分别安装在可以相对滑动的右滑尺(2)和左滑尺(6)上。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征是刀口测头(3)(5)可分别经右滑尺(2)和左滑尺(6)上的槽口与两滑尺相联结，并可上下移动。
专利摘要本实用新型涉及一种轴键槽对称度测量仪。本实用新型利用V型块模拟基准轴线,左刀口测头(5)和右刀口测头(3)分别安装在可相对滑动的右滑尺(2)和左滑尺(6)上,两个平行的刀口测头(3)(5)卡住键槽侧面,用安装在V形块(1)上,可绕通过V形块(1)对称中心面的轴线转动的指示器(4)比较测出刀口测头的偏差值,从而实现对基准轴线对称度的测量。本实用新型适用于完工检验及加工装配中测量,测量键槽宽度b=6～32mm。
文档编号G01B5/24GK2388587SQ9921820
公开日2000年7月19日 申请日期1999年7月23日 优先权日1999年7月23日
发明者赵春利 申请人:赵春利