触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及触点式开关技术领域，具体而言，涉及一种触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法。
【背景技术】
[0002]触点式开关在实际使用中，由于触点、弹片的损耗，在开关打到动作行程时，开关可能会处于断开状态，此种状态会导致开关在使用过程中出现虚动现象，而现有开关的寿命检测系统只能监测到开关实际通断的次数，而无法监测到开关虚动的问题，进而无法准确地反应成触点式开关的使用寿命。
【发明内容】
[0003]本发明旨在提供一种触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法，能够检测触点式开关是否存在虚动现象。
[0004]为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种触点式开关的寿命检测系统，该系统包括被测开关、驱动装置、第一计数装置以及第二计数装置，其中，驱动装置驱动被测开关的打开和闭合；第一计数装置与驱动装置电连接以记录驱动装置的驱动次数；第二计数装置与被测开关电连接以记录被测开关的导通次数。
[0005]进一步地，驱动装置包括:驱动器，驱动被测开关的打开和闭合；控制器，与驱动器电连接，并控制驱动器运动。
[0006]进一步地，第一计数装置与控制器电连接以记录驱动器的驱动次数。
[0007]进一步地，控制器为时间继电器。
[0008]进一步地，驱动器为气枪。
[0009]进一步地，第一计数装置和第二计数装置均为计数器。
[0010]进一步地，被测开关包括多个档位。
[0011]进一步地，触点式开关的寿命检测系统还包括处理器，第一计数装置和第二计数装置均与处理器电连接。
[0012]根据本发明的另一方面，提供了一种触点式开关的寿命检测方法，该方法包括:步骤S1:利用驱动装置驱动被测开关，并利用第一计数装置记录下驱动装置的驱动次数；步骤S2:利用第二计数装置记录下被测开关的导通次数；步骤S3:比较第一计数装置和第二计数装置记录的数值的大小，判断被测开关是否存在虚动现象。
[0013]进一步地，在步骤SI中，驱动装置包括:驱动器，驱动被测开关的打开和闭合；控制器，与驱动器电连接，并控制驱动器运动。
[0014]进一步地，在步骤SI中，控制器为时间继电器。
[0015]进一步地，在步骤SI中，驱动器为气枪。
[0016]进一步地，在步骤S2中，第一计数装置与控制器电连接以记录驱动器的驱动次数。
[0017]进一步地，第一计数装置和第二计数装置均为计数器。
[0018]进一步地，在步骤S3中，如果第一计数装置记录的数值等于第二计数装置记录的数值，则被测开关不存在虚动现象；如果第一计数装置记录的数值大于第二计数装置记录的数值，则被测开关存在虚动现象。
[0019]进一步地，被测开关包括多个档位。
[0020]进一步地，在步骤S3中，利用处理器对第一计数装置和第二计数装置记录的数值进行比较。
[0021]应用本发明的技术方案，触点式开关的寿命检测系统包括被测开关、驱动装置、第一计数装置以及第二计数装置，其中，驱动装置驱动被测开关的打开和闭合；第一计数装置与驱动装置电连接以记录驱动装置的驱动次数；第二计数装置与被测开关电连接以记录被测开关的导通次数。在本发明中，设置有用于记录驱动装置的驱动次数的第一计数装置和用于记录被测开关的导通次数第二计数装置，根据第一计数装置和第二计数装置记录的值的大小关系，可以检测被测开关是否存在虚动现象，进而判断开关的使用寿命。
【附图说明】
[0022]构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0023]图1示出了本发明的触点式开关的寿命检测系统连接关系图；以及
[0024]图2示出了本发明的触点式开关的寿命检测方法的流程图。
[0025]附图标记说明:
[0026]10、被测开关；20、驱动装置；21、驱动器；22、控制器；30、第一计数装置；40、第二计数装置；50、处理器。
【具体实施方式】
[0027]下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0028]参见图1所示，根据本发明的实施例，触点式开关的寿命检测系统包括被测开关10、驱动装置20、第一计数装置30以及第二计数装置40，其中，驱动装置20驱动被测开关10的打开和闭合；第一计数装置30与驱动装置20电连接以记录驱动装置20的驱动次数；第二计数装置40与被测开关10电连接以记录被测开关10的导通次数。在本实施例中，设置有用于记录驱动装置20的驱动次数的第一计数装置30和用于记录被测开关10的导通次数第二计数装置40，根据第一计数装置30和第二计数装置40记录的值的大小关系，可以判断被测开关10是否存在虚动现象，具体判断方法为，当第一计数装置30记录的数值与第二计数装置40记录的值相等，则被测开关10不存在虚动现象；当第一计数装置30记录的数值大于第二计数装置40记录的数值，则被测开关10存在虚动现象，它们之间的数值之差即为被测开关10虚动的次数。可见，根据本实施例，能够检测被测开关10是否存在虚动现象，并根据测量的结果判断开关的使用寿命。需要说明的是，本实施例中所称的驱动次数的计数方式为:驱动装置20将被测开关10打开了再关闭记录为I次，在本发明的其他实施例中，也可以采用其他计数方式。
[0029]在本实施例中，驱动装置20包括驱动器21和控制器22，其中驱动器21驱动被测开关10的打开和关闭，控制器22与驱动器21电连接，并控制驱动器21运动，从而带动驱动器21将被测开关10的打开和关闭。优选地，本实施例中的控制器22为时间继电器，驱动器21为气枪。此时，通过时间继电器可以设置驱动器21，即气枪的动作频率，对被测开关10进行高频次的开关动作，并保证开关动作的一致性，能够在短时间内检测出被测开关10是否存在虚动现象。根据测量的结果，企业可以对开关做出相应的改进，进而得到适用的开关，从而提高带有本实施例的开关的产品的质量。本发明中的气枪的工作原理为:时间继电器控制气枪阀门的打开和关闭，当阀门打开时，压缩空气进入气枪内部，推动气枪中的推杆伸出，驱动被测开关10动作；当阀门关闭后，压缩空气无法进入气枪内部，气枪中的推杆退回原始位置，被测开关10恢复至原始位置。气枪阀门的一次打开、关闭循环完成被测开关10的一次通断试验。
[0030]为了计量驱动器21的驱动次数，本实施例中的第一计数装置30与控制器22电连接，即将第一计数装置30与时间继电器用导线连接起来，第一计数装置30可以记录下时间继电器的通断次数，即驱动器21驱动被测开关10的次数，结构简单，易于实现。在其他实施例中，第一计数装置30还可以直接与驱动器21电连接，直接记录驱动器21的动作的次数。
[0031]优选地，本实施例中的第一计数装置30和第二计数装置40均为计数器，结构简单，易于实现。
[0032]优选地，触点式开关的寿命检测系统还包括处理器50，第一计数装置30和第二计数装置40均与处理器50电连接，处理器50可以对第一计数装置30和第二计数装置40传递来的数值信号进行对比处理，测试人员可以根据处理器50的处理结果，判断被测开关10是否存在虚动现象。在其他实施例中，也可以不设置处理器50，测试人员可以直接将第一计数装置30和第二计数装置40进行对比，从而判断被测开关10是否存在虚动。
[0033]在本实施例中，被测开关10包括多个档位(图中未示出)，驱动装置20可选择地驱动被测开关10的不同档位，检测被测开关10在不同使用工况下是否存在虚动现象。以空调器使用的开关为例，被测开关10设置有5个档位，分别为:机械寿命测试档位，此时被测开关10的插片和触点之间的电压小于1mV ;电气寿命测试档位I，此时被测开关10加载的是直流电源；电气寿命测试档位2，此时被测开关10的插片和触点之间的加载的是250VAC的交流电压，电流小于等于IA ;电气寿命测试档位3，此时被测开关10的插片和触点之间的加载的是250VAC的交流电压，电流在IA至