1A之间；电气寿命测试档位4，此时被测开关10的插片和触点之间的加载的是250VAC的交流电压，电流在1A至16A之间。具体使用过程中，当时间继电器接通时，压缩空气，从而驱动气枪推动被测开关10的导杆推动被测开关10的不同档位，测试不同工况下被测开关10的机械寿命和电气寿命等。
[0034]参见图2所示，根据本发明的另一实施例，提供了一种触点式开关的寿命检测方法，该方法利用上述实施例的触点式开关的寿命检测系统来实现。具体包括:步骤S1:利用驱动装置20驱动被测开关10，并利用第一计数装置30记录下驱动装置20的驱动次数；步骤S2:利用第二计数装置40记录下被测开关10的导通次数；步骤S3:比较第一计数装置30和第二计数装置40记录的数值的大小，判断被测开关10是否存在虚动现象。在本实施例中，根据第一计数装置30和第二计数装置40记录的数值的大小关系，可以检测被测开关10是否存在虚动现象，进而判断开关的使用寿命。
[0035]根据本实施例，在步骤SI中，驱动装置20包括驱动器21和控制器22，其中驱动器21驱动被测开关10的打开和关闭，控制器22与驱动器21电连接，并控制驱动器21运动，从而带动驱动器21将被测开关10的打开和关闭。优选地，本实施例中的控制器22为时间继电器，驱动器21为气枪。此时，通过时间继电器可以设置驱动器21，即气枪的动作频率，进而对被测开关10进行高频次的开关动作，并保证开关动作的一致性，能够在短时间内检测出被测开关10是否存在虚动现象。
[0036]在步骤S2中，将第一计数装置30与时间继电器电连接，从而记录驱动器21的驱动次数。本实施例中所称的驱动次数的计数方式为:驱动器21将被测开关10打开了再关闭记录为I次。第一计数装置30记录下时间继电器的通断次数，即驱动器21驱动被测开关10的次数，结构简单，易于实现。在其他实施例中，第一计数装置30还可以直接与驱动器21电连接，进而记录驱动器21的驱动次数。
[0037]优选地，第一计数装置30和第二计数装置40均为计数器，结构简单，易于实现。
[0038]优选地，被测开关10包括多个档位(图中未示出)，驱动装置20可选择地驱动被测开关10的不同档位，检测被测开关10在不同使用工况下是否存在虚动现象，进而检测被测开关10的机械寿命以及电气寿命等。
[0039]在步骤S3中，将第一计数装置30和第二计数装置40用导线与处理器50连接起来，利用处理器50对第一计数装置30和第二计数装置40记录的数值进行比较，如果第一计数装置30记录的数值等于第二计数装置40记录的数值，则被测开关10不存在虚动现象；如果第一计数装置30记录的数值大于第二计数装置40记录的数值，则被测开关10存在虚动现象。
[0040]从以上的描述中，可以看出，本发明上述的实施例实现了如下技术效果:本发明的触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法，设置有用于记录驱动器的驱动次数的第一计数装置和用于记录被测开关的导通次数第二计数装置，根据第一计数装置和第二计数装置记录的值的大小关系，可以判断被测开关是否存在虚动现象，进而判断开关的使用寿命，提高企业生产的具有触点式开关的产品的可靠性。使用时间继电器以及气枪等结构，可以模拟开关长时间、高频次的动作，从而在短时间内检测出开关的使用寿命。
[0041]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，包括: 被测开关(10)； 驱动装置(20)，所述驱动装置(20)驱动所述被测开关(10)的打开和闭合； 第一计数装置(30)，与所述驱动装置(20)电连接以记录所述驱动装置(20)的驱动次数； 第二计数装置(40)，与所述被测开关(10)电连接以记录所述被测开关(10)的导通次数。
2.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述驱动装置(20)包括: 驱动器(21)，驱动所述被测开关(10)的打开和闭合； 控制器(22)，与所述驱动器(21)电连接，并控制所述驱动器(21)运动。
3.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第一计数装置(30)与所述控制器(22)电连接以记录所述驱动器(21)的驱动次数。
4.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述控制器(22)为时间继电器。
5.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述驱动器(21)为气枪。
6.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第一计数装置(30 )和所述第二计数装置(40 )均为计数器。
7.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述被测开关(10)包括多个档位。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，还包括处理器(50 )，所述第一计数装置(30 )和所述第二计数装置(40 )均与所述处理器(50 )电连接。
9.一种触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，包括: 步骤S1:利用驱动装置(20)驱动被测开关(10)，并利用第一计数装置(30)记录下所述驱动装置(20)的驱动次数； 步骤S2:利用第二计数装置(40)记录下所述被测开关(10)的导通次数； 步骤S3:比较所述第一计数装置(30)和所述第二计数装置(40)记录的数值的大小，判断所述被测开关(10)是否存在虚动现象。
10.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤SI中，所述驱动装置(20)包括: 驱动器(21)，驱动所述被测开关(10)的打开和闭合； 控制器(22)，与所述驱动器(21)电连接，并控制所述驱动器(21)运动。
11.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤SI中，所述控制器(22)为时间继电器。
12.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤SI中，所述驱动器(21)为气枪。
13.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，所述第一计数装置(30 )与所述控制器(22 )电连接以记录所述驱动器(21)的驱动次数。
14.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，所述第一计数装置(30 )和所述第二计数装置(40 )均为计数器。
15.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，如果所述第一计数装置(30)记录的数值等于所述第二计数装置(40)记录的数值，则所述被测开关(10)不存在虚动现象； 如果所述第一计数装置(30)记录的数值大于所述第二计数装置(40)记录的数值，则所述被测开关(10)存在虚动现象。
16.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，所述被测开关(10)包括多个档位。
17.根据权利要求9至16中任一项所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，利用处理器(50 )对所述第一计数装置(30 )和所述第二计数装置(40 )记录的数值进行比较。
【专利摘要】本发明提供了一种触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法。该触点式开关的寿命检测系统包括被测开关、驱动装置、第一计数装置以及第二计数装置，其中，驱动装置驱动被测开关的打开和闭合；第一计数装置与驱动装置电连接以记录驱动装置的驱动次数；第二计数装置与被测开关电连接以记录被测开关的导通次数。根据本发明的触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法，可以检测被测开关是否存在虚动现象，进而判断开关的使用寿命。
【IPC分类】G01R31-327
【公开号】CN104569797
【申请号】CN201310500117
【发明人】孙永强, 方祥建, 吴丽花, 陈晓东
【申请人】珠海格力电器股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2013年10月22日