防短路信号测试探针的制作方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试探针，特别涉及一种防短路信号测试探针。
【【背景技术】】
[0002]任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。
[0003]如从生产流程方面的测试讲，IC测试一般又分为芯片测试、成品测试及检验测试，且这些项目的测试都不可避免的会使用到测试探针，请参阅图1绘示，对一些pin脚11较密的芯片10 (如:KBC, Aud1等)进行IC测试时，由于测试探针的直径较小，不易与pin脚11准确的对应，则经常会出现测试探针滑动造成短路的问题，严重时会造成芯片的烧毁或其他元件的损坏，从而给信号测试带来严重的不便。
[0004]有鉴于此，实有必要提供一种防短路信号测试探针，以解决上述因测试探针滑动造成短路及损坏电子元件的问题。
【
【发明内容】
】
[0005]因此，本发明的目的为提供一种防短路信号测试探针，以解决上述问题。
[0006]为了达到上述目的，本发明提供的防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括:
[0007]测试探针，其下端头部用于触碰待测件的一 pin脚；
[0008]绝缘片，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂，所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针，所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧，所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触，所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。
[0009]较佳的，所述绝缘片具有弹性。
[0010]较佳的，所述待测件为具有密集pin脚的芯片。
[0011]较佳的，所述绝缘片的宽度大于所述测试探针的直径。
[0012]较佳的，所述绝缘片的横截面呈三角形。
[0013]相较于现有技术，本发明防短路信号测试探针由所述测试探针与绝缘片组成，因此在IC测试中所述绝缘片的两侧臂可将所述pin脚与其相邻的pin脚隔开，从而避免了所述测试探针头部的滑动，而造成短路的问题。同时本发明能够缩短测试时间，提高工作效率；有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题，同时节约了测试成本。
【【附图说明】】
[0014]图1绘示为现有芯片的结构示意图。
[0015]图2绘示为本发明防短路信号测试探针的结构示意图。【【具体实施方式】】
[0016]以下结合附图对本发明的【具体实施方式】作进一步详细的说明。
[0017]请参阅图2绘示，为了达到上述目的，本发明提供的防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括:
[0018]测试探针100，其下端头部110用于触碰待测件10的一 pin脚11 ；
[0019]绝缘片200，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂210，所述绝缘片200的中间部位套设于所述测试探针100，所述两侧臂210分别位于所述测试探针100的两侧，所述两侧臂210下端与所述测试探针头部110紧密接触，所述两侧臂210下端长于所述测试探针100的头部110。
[0020]其中，所述绝缘片200具有弹性。
[0021]其中，所述待测件10为具有密集pin脚11的芯片10。
[0022]其中，所述绝缘片200的宽度大于所述测试探针100的直径(这样的设置更加能够避免短路的发生)。
[0023]其中，所述绝缘片200的横截面呈三角形。
[0024]于本实施例中，所述芯片10具有密集的pin脚11，所述绝缘片200的两侧臂210的厚度小于所述Pin脚11之间的距离，因此，在IC测试时，只需将所述两侧臂210分别插入到所述pin脚11与其相邻的pin脚11间的间隙，从而将所述相邻两pin脚间隔开，最终可完成信号测试，避免了因Pin脚11脚小，所述测试探针100易滑动而造成短路的问题。
[0025]本发明防短路信号测试探针由所述测试探针100与绝缘片200组成，因此在IC测试中所述绝缘片200的两侧臂210可将所述pin脚11与其相邻的pin脚11隔开，从而避免了所述测试探针头部110的滑动，而造成短路的问题。同时本发明能够缩短测试时间，提高工作效率；有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题，同时节约了测试成本。
[0026]需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括测试探针，所述测试探针的下端头部用于触碰待测件的一 pin脚，其特征在于，所述防短路信号测试探针还包括: 绝缘片，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂，所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针，所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧，所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触，所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。
2.根据权利要求1所述的防短路信号测试探针，其特征在于，所述绝缘片具有弹性。
3.根据权利要求1所述的防短路信号测试探针，其特征在于，所述待测件为具有密集pin脚的芯片。
4.根据权利要求1所述的防短路信号测试探针，其特征在于，所述绝缘片的宽度大于所述测试探针的直径。
5.根据权利要求1所述的防短路信号测试探针，其特征在于，所述绝缘片的横截面呈三角形。
【专利摘要】一种防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括：测试探针，其下端头部用于触碰待测件的一pin脚；绝缘片，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂，所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针，所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧，所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触，所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。本发明能够缩短测试时间，提高工作效率；有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题，同时节约了测试成本。
【IPC分类】G01R31-28, G01R1-067
【公开号】CN104714062
【申请号】CN201310681487
【发明人】贺文辉
【申请人】神讯电脑(昆山)有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2013年12月13日