串联四极型质量分析装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种通过碰撞诱导解离(CID = Collis1n-1nduced Dissociat1n)等将具有特定的质荷比m/z的离子解离，对由此生成的产物离子(碎片离子)进行质量分析的串联四极型质量分析装置。
【背景技术】
[0002]为了进行分子量大的物质的鉴别和/或其结构的分析，作为质量分析的I个方法，众所周知MS/MS分析(也称为串联分析)方法。构造比较简单且廉价的串联四极型质量分析装置(也称为三重四极型质量分析装置)为，被广泛应用的可进行MS/MS分析的质量分析装置之一。
[0003]如专利文献I公开的那样，串联四极型质量分析装置普遍的，隔着使离子解离的碰撞池(Collis1n cell)，其前后分别具有四极质量过滤器(Quadrupole mass filter),在前段四极质量过滤器，从源自目标化合物的各种离子中选择前体离子，在后段四极质量过滤器，按照质荷比分离产物离子。碰撞池为密封性比较高的箱状构造体，在其内部导入有氩气或氮气等CID气体。通过前段四极质量过滤器选择的前体离子具有适当的碰撞能量，并被导入碰撞池内，在碰撞池内与CID气体冲撞，产生碰撞诱导解离而生成产物离子。
[0004]在碰撞池中的离子的解离效率依存于离子所具有的碰撞能量的大小和/或碰撞池中的CID气压等。因此，通过了后段四极质量过滤器的产物离子的检测灵敏度也依存于碰撞能量的大小和/或CID气压。
[0005]串联四极型质量分析装置为了以高精度进行已知化合物的定量，通常实施在前段以及后段四极质量过滤器的双方分别通过的离子的质荷比为固定的多反应监测(MRM =Multiple React1n Monitoring)模式的测定。因此，在以往的串联四极型质量分析装置，为了在MRM测定模式下获得尽可能高的检测灵敏度，碰撞池内的CID气压被设定为预先由制造商一方调整了的值(通常是数mTorr程度)。
[0006]普遍的，碰撞池内的CID气压越高，离子与CID气体接触的机会增多，所以离子的解离效率变高，但由于与该气体的冲撞，离子(前体离子、产物离子均都)的动能衰减，离子的飞行速度整体下降，同时速度的幅度扩大。在MRM测定模式的情况下，在一定程度的时间内持续实施具有相同质荷比的离子的解离，以及具有相同质荷比的产物离子的选择和检测，因此上述的在碰撞池的离子的飞行速度下降或者速度幅度扩大的影响比较小。
[0007]但是，在前段四极质量过滤器中，在进行在规定质荷比范围内进行扫描的前体离子扫描测定模式和/或中性丢失扫描测定模式等的时候，碰撞池内的离子的飞行速度下降以及速度幅度扩大这可能会产生问题。即，如果在前段四极质量过滤器中以高速进行质量扫描，则在从具有一定质荷比M的前体离子生成的产物离子到达检测器之前，容易发生该产物离子被从具有质荷比M+ΔM的前体离子生成的产物离子追上的现象。这意味着在质谱图(MS/MS谱图)上，某离子峰(1n peak)和与其相接近的其他离子峰的分离变差。此外，由于产物离子的飞行速度的幅度扩大，峰顶(Peak top)的强度下降也变得显著。
[0008]现有技术文献
[0009]专利文献
[0010]专利文献1:国际公开2009/095958号单行本
【发明内容】
[0011]本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种串联四极型质量分析装置，该串联四极型质量分析装置在前段四极质量过滤器中，特别是在进行高速的质量扫描的情况下，也能够防止在获得的质谱图上作为目标的离子峰的形状的溃散，能够以高分离能力以及高灵敏度进行测定。
[0012]为了解决上述课题而完成的本发明提供一种串联四极型质量分析装置，其包括:前段四极质量过滤器，其在各种离子中选择具有特定质荷比的离子作为前体离子；碰撞池，其通过使所述前体离子与规定气体冲撞，使该离子解离；后段四极质量过滤器，其在通过该解离产生的各种产物离子中选择具有特定的质荷比的离子；检测部，其检测该被选择的产物离子，所述串联四极型质量分析装置包括:
[0013]a)气体供给部，其向所述碰撞池内提供所述规定气体；
[0014]b)设定信息存储部，其用于对应在所述前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式下的质量扫描的扫描速度，来存储碰撞池内的规定气体的气压信息或者用以供给该规定气体的控制信息；
[0015]c)分析控制部，其至少在实行在所述前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式时，基于存储于所述设定信息存储部的信息，以碰撞池内的规定气体的气压变为与实行的质量扫描的扫描速度对应的状态的方式控制所述气体供给部。
[0016]此处，所谓在所述前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式是指，前体离子扫描测定模式、中性丢失扫描测定模式、以及在后段四极质量过滤器不实施根据质荷比的离子选择而只在前段四极质量过滤器进行质量扫描的、与通常的扫描测定模式相同的测定模式。
[0017]在本发明涉及的串联四极型质量分析装置中，例如，装置制造商对所述前段四极质量过滤器的质量扫描的多个阶段(最小2个阶段)的每个扫描速度，实验性地调查在质谱图上峰被充分分离且检测强度成为最大时的气压，并基于此作成对应扫描速度的信息并储存于设定信息存储部。如果购买该装置的用户指示实行在所述前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式，则分析控制部将与作为此时的分析条件之一的扫描速度对应的信息从设定信息存储部读取，并基于该信息控制由气体供给部的规定气体的供给流量和/或供给压。由此，碰撞池内的规定气体的气压对应于被实行的质量扫描的扫描速度，而被设定为能够达到充分高的峰分离特性以及检测灵敏度。
[0018]此外，在与“在前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式”不同的测定模式，也就是说，在产物离子扫描测定模式、MRM测定模式、以及在前段四极质量过滤器不实施根据质荷比的离子选择，而只在后段四极质量过滤器进行质量扫描的，与通常的扫描测定模式相同的测定模式下，由于可以视为在前段四极质量过滤器进行最低速的质量扫描，所以可以进行使用了在存储于设定信息存储部的信息中与最低扫描速度对应的信息的控制。
[0019]如上所述存储于设定信息存储部的信息可以由装置制造商预先决定，但是优选地，在用户侧，比如作为自动装置调整的一环，可以根据对标准试料的实测结果对于每个扫描速度设定最优的值。
[0020]因此本发明涉及的串联四极型质量分析装置，还包括设定信息自动制作部结构，其在所述前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式下，以在该质量扫描的扫描速度以多个阶段变化的各阶段来使碰撞池内的规定气体的气压以多个阶段变化的方式控制所述气体供给部，同时反复实行对规定试料的测定，基于在根据这些测定获得的质谱图上作为目标的峰的形状以及该峰的强度，对每个质量扫描的扫描速度求出合适的气压，并将该气压的信息或者用以供给规定气体的控制信息储存于所述设定信息存储部。
[0021 ] 在该结构中，设定信息自动制作部可以通过判断在质谱图上源自包含于规定试料的已知化合物的峰的形状和该峰的强度，来决定最优的气压。其中，峰的形状为能充分分离目标峰和接近的峰的峰形状即可。
[0022]作为本发明涉及的串联四极型质量分析装置的具体的一实施方式，所述设定信息自动制作部可以构成为:将