一种x射线底片防止漏评方法
【技术领域】
[0001]本发明属于零件无损检测技术领域，涉及一种X射线底片防止漏评方法。
【背景技术】
[0002]X射线照相检测使用的底片初始尺寸为430 X 350mm,检测过程中需要根据零件的具体形状和检测部位裁剪成不同尺寸，而实际检测的飞机零件尺寸又远远超过底片尺寸，且结构复杂，一个零件甚至需要上百张底片，在评定过程中，经常出现漏评一张或几张底的情况，影响了检测结果的判定。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题:提供一种X射线底片防止漏评方法，能很好的避免检测人员出现遗评底片的问题，提高了评定效率。
[0004]本发明的技术方案:
[0005]第一步，收集一个零件的所有射线底片，按尺寸分类整理放置在评片机器旁；
[0006]第二步，准备一个便携打孔机，清洗油污等污染物，保证清洁干净；
[0007]第三步，在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置，检测人员评完一张底片，即用步骤二中的便携打孔机在其上打一孔，归类收集，表明已经完成评定，若在底片的固定位置未发现孔，则该底片尚未进行评定，以此防止底片的漏评。
[0008]本发明的有益效果:本发明通过采用事先统一在非评定区确定固定位置，并在底片上打孔的方法，避免了底片的遗漏。减少了出现差错的机率，提高了检测质量。
【具体实施方式】
[0009]下面结合具体的实施例，对本发明的评定方式进行描述。
[0010]本实施例选用主桨叶，对其进行射线检测后的底片进行评定，包括以下步骤:
[0011]第一步，收集主桨叶进行射线检测的所有底片122张，裁剪的底片尺寸有210 X 350mm、120 X 350mm、180 X 240mm三种，按尺寸分类整理放置在评片机器旁；
[0012]第二步，准备一个便携打孔机，使用前检查打孔机是否清洁，如果有可能污染底片的不洁物，进行清洗，保证清洁干净；
[0013]第三步，对于主桨叶的所有底片，在评完底片的非评定区统一选取右上角，检测人员评完一张底片，即用步骤二中的便携打孔机在其右上角上打一孔，归类收集，表明已经完成评定，若在最终整理核查时，在某张主桨叶底片的固定位置未发现小孔，则该底片尚未进行评定，以此有效的防止了主桨叶底片的漏评。
【主权项】
1.一种X射线底片防止漏评方法，包括以下步骤， 第一步，收集一个零件的所有射线底片，按尺寸分类整理放置在评片机器旁； 第二步，准备一个便携打孔机，清洗油污等污染物，保证清洁干净； 第三步，在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置，检测人员评完一张底片，即用步骤二中的便携打孔机在其上打一孔，归类收集，表明已经完成评定，若在底片的固定位置未发现孔，则该底片尚未进行评定，以此防止底片的漏评。
【专利摘要】本发明涉及一种X射线底片防止漏评方法，其特征为收集一个零件的所有射线底片，按尺寸分类整理放置，在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置，检测人员评完一张底片，即用便携打孔机在其上打一孔，归类收集，表明已经完成评定，若在底片的固定位置未发现孔，则该底片尚未进行评定，以此防止底片的漏评。
【IPC分类】G01N23/00
【公开号】CN105021635
【申请号】CN201410177549
【发明人】关雪松, 高岩, 刘明亮, 潘少伟, 任文凯, 刘著民, 张贵斌, 张积伟
【申请人】哈尔滨飞机工业集团有限责任公司
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2014年4月29日