数信息如表1所示时，则该ATE机台文件的生 成装置生成该第一测试模版文件的获取流程如下所示：
[0032] 该装置定位表1中的"Test Mode Control"区域，读取控制测试模式的测试点名 称及赋值；接着，定位"IP Input Items"区域，读取寄存器配置接口对应的pad名称，及测 试输入pad的名称；然后，定位"IP Output Items"区域，读取测试输出pad的名称，最后， 按照该第一测试模版文件的模版格式，生成该第一测试模版文件。
[0033] 对应的第一测试模版文件内容如下所示：
[0037] 表 2
[0038] 102、ATE机台文件的生成装置根据第一测试模版文件中包含的待测试接口的接口 信息，将待测试接口的测试时序信息添加至第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件。
[0039] 本实施例中的第二测试模版文件中用于表示不同测试时序下各个待测试接口的 测试值的主体部分。示例性的，若ATE机台文件的生成装置将待测试芯片IP的测试时序添 加到基于表1形成的第一测试模版文件中，则第二测试模版文件内容如下表3所示：
[0042] 表 3
[0043] 上述表3中的TSl和TS2用于指示当前测试中某些不能体现在测试激励描述部分 中的内容，例如，模拟信号的输入，在TS2时输入20KHz的正弦波。
[0044] 上述表3中的r印eat信息用于指示当前行的输入pad状态保持不变，保持周期为 repeat要求的数字。例如，若该行测试寄存器信息为IDLE，Comment信息为"repeat 20"， 则表示该行的信息要重复打印20次，即保持20个周期内不变。在实际的测试中，在很多情 况下，输入会保持不变一段时间，以保证满足IP的测试要求，因此，repeat信息能减少输入 pad大量重复的信息，减少工作量。
[0045] 上述表3中测试寄存器配置信息用于控制测试模式中用到的过测试寄存器配置 的信息。
[0046] 上述表3中输入pad输入值：该部分对应每个测试输入pad在每个cycle的输入 值，其中代表高电平，〇代表低电平；
[0047] 上述表3中输出pad检测值用于描述在给定的测试寄存器和输入pad的状态激 励下，输出pad对应的预期结果，其中：L代表输出低电平，H代表输出高电平，X代表输出 don't care。机台会根据该部分信息与芯片实际pad采样得到的输出pad状态做对比，判 断测试是否通过。
[0048] 示例性的，若第一测试模版文件为用户可编辑的EXCEL文件时，上述的待测试接 口的测试时序信息是用户直接按照芯片IP测试规范直接填写到上述的EXCEL中，而该ATE 机台文件的生成装置将该待测试接口的测试时序信息与该第一测试模版文件中的待测试 接口进行关联，从而得到第二测试模板文件。
[0049] 示例性的，上述的待测试接口的测试时序信息也可以是ATE机台文件的生成装置 从预先编辑好的待测试芯片IP的时序文件中获取的，其中，上述的待测试芯片IP的时序文 件包括待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息。
[0050] 103、ATE机台文件的生成装置从第二测试模版文件中读取不同测试时序下待测试 接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文件。
[0051] 示例性的，基于表3所示的第二测试模版文件内容，得到的ATE机台文件内容如下 所示：
[0052]
[0053] 示例性的，ATE机台文件的生成装置在从第二测试模版文件中读取待测试接口对 应的测试时序后，会通用ASCII Pattern (ATE机台文件一中模式）产生脚本读入该信息，从 而生成ASCII Format文件。
[0054] 本发明的实施例提供的ATE机台文件的生成方法，获取待测试芯片IP中待测试 接口的测试时序信息以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，该待测试接口的测试 时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测试值，第一测试模板文件是根据待测试芯 片IP中待测试接口的接口信息生成的，第一测试模板文件为用户可编辑表格文件，根据第 一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将待测试接口的测试时序信息添加至所 述第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件，然后，从第二测试模版文件中读取不同测 试时序下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文 件。这样当需要对ATE机台文件进行更改时，技术人员便可直接在基于待测试芯片IP的待 测试接口的接口信息生成的第一测试模板文件中，添加更改后的待测试芯片IP的测试时 序来得到新的ATE机台文件，相比于现有技术在每次更改ATE机台文件时需要按照包含更 改后的待测试芯片IP的测试时序的IP测试模式说明文件重新进行EDA仿真来获得对应的 EDA仿真文件，然后利用转换软件将EDA仿真文件转化为需要ATE机台文件，本发明提供的 方案更为快捷及方便，且整体的ATE机台文件转换过程的转换效率更高。
[0055] 本发明的实施例提供一种ATE机台文件的生成装置，如图2所示，该装置2包括： 获取模块21、处理模块22以及生成模块23,其中：
[0056] 获取模块21，用于获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及待测试 芯片IP对应的第一测试模板文件。
[0057] 其中，上述的待测试接口的测试时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测 试值，第一测试模板文件中包含待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，第一测试模板文 件为用户可编辑表格文件。测试模版文件包括EXCEL表格文件、数据库表格文件。
[0058] 处理模块22,用于根据获取模块21获取的第一测试模版文件中包含的待测试接 口的接口信息，将获取模块21获取的待测试接口的测试时序信息添加至第一测试模版文 件中，得到第二测试模版文件。
[0059] 生成模块23,用于从处理模块22得到的第二测试模版文件中读取不同测试时序 下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文件。
[0060] 可选的，上述获取模块21，还用于获取待测试芯片IP的时序文件，待测试芯片IP 的时序文件包括待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息。
[0061] 可选的，如图2所示，该装置2还包括：提取模块24,其中：
[0062] 提取模块24,用于根据待测试芯片的测试需求，从待测试芯片IP的测试模式说明 文件中，提取待测试芯片IP的测试参数信息，测试参数信息包括待测试接口的接口信息， 待测试芯片的测试需求包括用户需要测试的待测试接口的接口标识。
[0063] 生成模块23,还用于根据提取模块24提取的待测试芯片IP的测试参数信息，生成 第一测试模版文件。
[0064] 可选的，待测试接口包括待测试芯片IP的寄存器接口、待测试芯片IP的输入接 口、待测试芯片IP的输出接口中的至少一个；待测试接口的接口信息包括待测试接口的接 口标识以及待测试接口的接口属性信息，待测试接口的接口属性信息用于表示待测试接口 所属接口类型。
[0065] 本发明的实施例提供的ATE机台文件的生成装置，获取待测试芯片IP中待测试 接口的测试时序信息以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，该待测试接口的测试 时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测试值，第一测试模板文件是根据待测试芯 片IP中待测试接口的接口信息生成的，第一测试模板文件为用户可编辑表格文件，根据第 一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将待测试接口的测试时序信息添加至所 述第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件，然后，从第二测试模版文件中读取不同测 试时序下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文 件。这样当需要对ATE机台文