件进行更改时，技术人员便可直接在基于待测试芯片IP的待 测试接口的接口信息生成的第一测试模板文件中，添加更改后的待测试芯片IP的测试时 序来得到新的ATE机台文件，相比于现有技术在每次更改ATE机台文件时需要按照包含更 改后的待测试芯片IP的测试时序的IP测试模式说明文件重新进行EDA仿真来获得对应的 EDA仿真文件，然后利用转换软件将EDA仿真文件转化为需要ATE机台文件，本发明提供的 方案更为快捷及方便，且整体的ATE机台文件转换过程的转换效率更高。
[0066] 在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的终端和方法，可以通过其 它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅 仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结 合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的 相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通 信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0067] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显 示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个 网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目 的。
[0068]另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以 是各个单元单独物理包括，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单 元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
[0069] 上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存 储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机 设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的 部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read-Only Memory，简称 ROM)、随机存取存储器（Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储 程序代码的介质。
[0070] 最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽 管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然 可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替 换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精 神和范围。
【主权项】
1. 一种自动测试化设备ATE机台文件的生成方法，其特征在于，包括： 获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一 测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序下的 测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，所述 第一测试模板文件为用户可编辑表格文件； 根据第一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测试时 序信息添加至所述第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件； 从所述第二测试模版文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据所述 不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试模版文件包括EXCEL表格文件、 数据库表格文件。3. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据第一测试模版文件中包含的待 测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模版文件 中，得到第二测试模版文件之前，所述方法还包括： 获取所述待测试芯片IP的时序文件，所述待测试芯片IP的时序文件包括所述待测试 芯片IP中待测试接口的测试时序信息。4. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测试芯片IP中待测试接口的 测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件之前，所述方法还包括： 根据所述待测试芯片IP的测试需求，从所述待测试芯片IP的测试模式说明文件中，提 取所述待测试芯片IP的测试参数信息，所述测试参数信息包括所述待测试接口的接口信 息，所述待测试芯片IP的测试需求包括用户需要测试的待测试接口的接口标识； 根据所述待测试芯片IP的测试参数信息，生成第一测试模版文件。5. 根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述待测试接口包括所述待测 试芯片IP的寄存器接口、所述待测试芯片IP的输入接口、所述待测试芯片IP的输出接口 中的至少一个；所述待测试接口的接口信息包括所述待测试接口的接口标识以及所述待测 试接口的接口属性信息，所述待测试接口的接口属性信息用于表示所述待测试接口所属接 口类型。6. -种自动测试化设备ATE机台文件的生成装置，其特征在于，包括： 获取模块，用于获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯 片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在 不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接 口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件； 处理模块，用于根据所述获取模块获取的第一测试模版文件中包含的待测试接口的接 口信息，将所述获取模块获取的所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模版 文件中，得到第二测试模版文件； 生成模块，用于从所述处理模块得到的所述第二测试模版文件中读取不同测试时序下 所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机 台文件。7. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试模版文件包括EXCEL表格文件、 数据库表格文件。8. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于： 所述获取模块，还用于获取所述待测试芯片IP的时序文件，所述待测试芯片IP的时序 文件包括所述待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息。9. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括： 提取模块，用于根据所述待测试芯片的测试需求，从所述待测试芯片IP的测试模式说 明文件中，提取所述待测试芯片IP的测试参数信息，所述测试参数信息包括所述待测试接 口的接口信息，所述待测试芯片的测试需求包括用户需要测试的待测试接口的接口标识； 所述生成模块，还用于根据所述提取模块提取的所述待测试芯片IP的测试参数信息， 生成第一测试模版文件。10. 根据权利要求6至9任一项所述的装置，其特征在于，所述待测试接口包括所述待 测试芯片IP的寄存器接口、所述待测试芯片IP的输入接口、所述待测试芯片IP的输出接 口中的至少一个；所述待测试接口的接口信息包括所述待测试接口的接口标识以及所述待 测试接口的接口属性信息，所述待测试接口的接口属性信息用于表示所述待测试接口所属 接口类型。
【专利摘要】本发明的实施例提供一种ATE机台文件的生成方法及装置，涉及半导体测试领域，能够提高ATE机台文件转换过程的转换效率。该方法包括：获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，待测试接口的测试时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测试值；根据第一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将待测试接口的测试时序信息添加至第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件；从第二测试模版文件中读取不同测试时序下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文件。本发明应用于芯片的ATE测试。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105158673
【申请号】CN201510536130
【发明人】肖永生, 李乾
【申请人】青岛海信信芯科技有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年8月27日