一种用于超声探头校准检测的机械装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种用于超声探头校准检测的机械装置。
【背景技术】
[0002]传统超声探头在使用前一般采用人工校准方式进行角度、声速、灵敏度等校准，在PAUT相控阵检测技术开始推广后，人工校准超声探头的方式其弊端更加体现突出。在以往传统的人工校准超声探头的时候，我们需要将超声探头用手按压并来回移动，使探头得到反射体的最高回波信号，过程中还要扭动探头，以抵消手工校准时候探头偏转的影响，整个过程需要重复多次，由于是用手按压，其压力的变化、探头扭动时入射方向的变化、校准检测人员的熟练程度等都会对校准有很大影响，特别是应用PAUT相控阵探头时，PAUT相控阵探头是采用多晶片发射接收信号，因此需要多角度进行校准，其校准的准确性、稳定性用手工校准方式是很难得到保证的，校准检测人员往往要花费大量时间进行仪器的校准，而得到的校准结果还是值得怀疑的。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于提供一种运行平稳、压力恒定、校准检测稳定可靠的机械装置。
[0004]为达此目的，本发明采用以下技术方案:
[0005]—种用于超声探头校准检测的机械装置，包括标准试块，还包括设置在所述标准试块一侧壁的探头夹持装置、以及用于驱动所述探头夹持装置沿所述标准试块长度方向往返滑动的行走控制装置，所述探头夹持装置包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置。
[0006]其中，所述行走限位装置包括设置在探头夹持装置支架的左右两侧的限位轮，以及与所述限位轮相邻设置且用于行走限位装置和所述标准试块相吸的磁体。
[0007]其中，所述支架的左右两侧分别竖直设置轴杆，所述轴杆的两端分别穿设有上限位轮和下限位轮，所述上限位轮与所述标准试块的上边缘相卡接，所述下限位轮与所述标准试块的下边缘相卡接。
[0008]其中，所述上限位轮和下限位轮之间的轴杆上穿设有用于调节上限位轮和下限位轮之间间距的间距调整结构，所述间距调节结构与设置在轴杆一侧支架上的卡板相配合。
[0009]其中，所述间距调节结构包括与所述上限位轮相连接的上卡套，以及与所述下限位轮相连接的下卡套，所述上卡套和所述下卡套的外圆周面分别均布有若干个环形凹槽，所述环形凹槽与所述卡板的侧壁相卡接。
[0010]其中，所述磁性调节装置包括设置在所述支架中部且与所述支架内侧壁间隙配合的探头固定架、设置在所述支架中部外侧壁的滑动导向结构、以及设置在所述探头固定架顶部与所述支架顶部之间用于两者相反运动的磁性相斥结构，所述滑动导向结构的滑杆与外延于所述支架外壁的探头固定架的端部相连接。
[0011]其中，所述磁性相斥结构包括设置在所述探头固定架顶部的第一磁体、与所述支架顶部螺纹孔相配合的丝杆，设置在所述丝杆下端面的第二磁体，所述第二磁体与所述第一磁体相对面磁极相反且上下对齐设置。
[0012]其中，所述探头固定架的两内侧壁之间枢接有探头。
[0013]其中，所述行走控制装置包括沿标准试块长度方向设置的滑轨、设置在所述滑轨两端用于和所述标准试块的两端相夹持的夹紧结构、设置在所述滑轨一侧用于驱动设置在所述滑轨上的滑块往返运动的手动传动结构、以及设置在所述滑轨下方与所述标准试块相吸的磁铁，所述滑块与所述探头夹持装置的支架相连接。
[0014]本发明的有益效果:本发明包括标准试块，还包括设置在所述标准试块一侧壁的探头夹持装置、以及用于驱动所述探头夹持装置沿所述标准试块长度方向往返滑动的行走控制装置，所述探头夹持装置包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置。此结构设计，有效解决了手工检测校准稳定性差的问题，利用探头夹持装置提供的恒定压力，极大了提高了校准得到的信号的稳定性，且行走控制装置速度可控，只需运行一次即可完成单个反射体信号的捕捉，校准效率大大提高。
【附图说明】
[0015]图1是本发明一种用于超声探头校准检测的机械装置的轴测图。
[0016]图2是图1中探头夹持装置反面的轴测图。
[0017]图3是图1中探头夹持装置正面的轴测图。
[0018]图4是图1中上卡套的轴测图。
[0019]图5是图1中行走控制装置的分解图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图并通过【具体实施方式】来进一步说明本发明的技术方案。
[0021]如附图1，一种用于超声探头校准检测的机械装置，包括标准试块1，还包括设置在所述标准试块1 一侧壁的探头夹持装置2、以及用于驱动所述探头夹持装置2沿所述标准试块1长度方向往返滑动的行走控制装置3，所述探头夹持装置2包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置。
[0022]优选的，如图2和图3所示，所述行走限位装置包括设置在探头夹持装置2支架23的左右两侧的限位轮，以及与所述限位轮相邻设置且用于行走限位装置和所述标准试块1相吸的磁体22。磁体22为埋设于限位轮一侧支架内的强力磁铁，在限位轮沿所述标准试块1长度方向往返滑动时能够起到很好的压合作用，进而使得沿所述标准试块1长度方向竖直或水平运动的探头夹持装置2能够更加平稳的行走。
[0023]进一步优选的，如图2、图3和图4所示，所述支架23的左右两侧分别竖直设置轴杆21，所述轴杆21的两端分别穿设有上限位轮211和下限位轮212，所述上限位轮211与所述标准试块1的上边缘相卡接，所述下限位轮212与所述标准试块1的下边缘相卡接。所述上限位轮211和下限位轮212之间的轴杆21上穿设有用于调节上限位轮211和下限位轮212之间间距的间距调整结构，所述间距调节结构与设置在轴杆21 —侧支架23上的卡板24相配合。所述间距调节结构包括与所述上限位轮211相连接的上卡套213，以及与所述下限位轮212相连接的下卡套214，所述上卡套213和所述下卡套214的外圆周面分别均布有若干个环形凹槽2131，所述环形凹槽2131与所述卡板24的侧壁相卡接。上卡套213和所述下卡套214结构相同，上卡套213结构如图4所示。上述结构设计，能够通过调整上卡套213和所述下卡套214之间的间距，有效调节上限位轮211和下限位轮212之间的宽度，进而使其能够适用于不同宽度的标准试块1。