>[0024]进一步优选的，所述磁性调节装置包括设置在所述支架23中部且与所述支架23内侧壁间隙配合的探头固定架25、设置在所述支架23中部外侧壁的滑动导向结构26、以及设置在所述滑动导向结构26顶部与所述支架23顶部之间用于两者相反运动的磁性相斥结构，所述滑动导向结构的滑杆与外延于所述支架23外壁的探头固定架25的端部相连接。所述磁性相斥结构包括设置在所述探头固定架25顶部的第一磁体251、与所述支架23顶部螺纹孔相配合的丝杆262，设置在所述丝杆262下端面的第二磁体263，所述第二磁体263与所述第一磁体251相对面磁极相反且上下对齐设置。所述滑动导向结构26的两内侧壁之间枢接有探头27。此结构设计，为了保证探头27的耦合压力平衡稳定，利用两个相同磁铁的同极相斥的原理，在探头固定架25顶部的四角安装第一磁体251，在相对应的支架上安装相同的第二磁体263，并使磁铁同极相对，产生排斥力，其中支架上的磁铁可以通过丝杆262上下调节，根据实际情况调节排斥力大小满足探头的耦合。而探头固定架25则通过滑动导向结构26与支架连接，使得探头能够自适应调整高度，保证探头27的平整以及与标准试块1的贴合。
[0025]进一步优选的，如图5所示，所述行走控制装置3包括沿标准试块1长度方向设置的滑轨31、设置在所述滑轨31两端用于和所述标准试块1的两端相夹持的夹紧结构、设置在所述滑轨31 —侧用于驱动设置在所述滑轨31上的滑块32往返运动的手动传动结构、以及设置在所述滑轨31下方与所述标准试块1相吸的磁铁33，所述滑块32与所述探头夹持装置2的支架23相连接。优选的，夹紧装置为对称设置在标准试块1两端的夹块，夹块上设置带有手柄的丝杆，以此顶紧标准试块1的两端；手动传动结构采用手动驱动轮加同步传输带的方式设计，将滑轨31上的滑块32紧固到同步传输带上，以此实现对滑块32的驱动，进而驱动与滑块32相连接的探头夹持装置2，从而使得探头达到行进速度可控，平稳运行的效果。
[0026]进一步优选的，该行走控制装置3中的手动传动结构也可以采用电动传动的方式进行驱动，在此不做赘述。
[0027]上述结构设计，有效解决了手工检测校准稳定性差的问题，利用探头夹持装置提供的恒定压力，极大了提高了校准得到的信号的稳定性，且行走控制装置速度可控，只需运行一次即可完成单个反射体信号的捕捉，校准效率大大提高。且此种校准工作不再依赖检测人员的熟练程度，新手也能很好地使用这种装置进行超声检测校准工作。
[0028]以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的原理，而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它【具体实施方式】，这些方式都将落入本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种用于超声探头校准检测的机械装置，包括标准试块，其特征在于:还包括设置在所述标准试块一侧壁的探头夹持装置、以及用于驱动所述探头夹持装置沿所述标准试块长度方向往返滑动的行走控制装置，所述探头夹持装置包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置。2.根据权利要求1所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述行走限位装置包括设置在探头夹持装置支架的左右两侧的限位轮，以及与所述限位轮相邻设置且用于行走限位装置和所述标准试块相吸的磁体。3.根据权利要求2所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述支架的左右两侧分别竖直设置轴杆，所述轴杆的两端分别穿设有上限位轮和下限位轮，所述上限位轮与所述标准试块的上边缘相卡接，所述下限位轮与所述标准试块的下边缘相卡接。4.根据权利要求3所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述上限位轮和下限位轮之间的轴杆上穿设有用于调节上限位轮和下限位轮之间间距的间距调整结构，所述间距调节结构与设置在轴杆一侧支架上的卡板相配合。5.根据权利要求4所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述间距调节结构包括与所述上限位轮相连接的上卡套，以及与所述下限位轮相连接的下卡套，所述上卡套和所述下卡套的外圆周面分别均布有若干个环形凹槽，所述环形凹槽与所述卡板的侧壁相卡接。6.根据权利要求1所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述磁性调节装置包括设置在所述支架中部且与所述支架内侧壁间隙配合的探头固定架、设置在所述支架中部外侧壁的滑动导向结构、以及设置在所述探头固定架顶部与所述支架顶部之间用于两者相反运动的磁性相斥结构，所述滑动导向结构的滑杆与外延于所述支架外壁的探头固定架的端部相连接。7.根据权利要求6所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述磁性相斥结构包括设置在所述探头固定架顶部的第一磁体、与所述支架顶部螺纹孔相配合的丝杆，设置在所述丝杆下端面的第二磁体，所述第二磁体与所述第一磁体相对面磁极相反且上下对齐设置。8.根据权利要求6所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述探头固定架的两内侧壁之间枢接有探头。9.根据权利要求6所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置，其特征在于:所述行走控制装置包括沿标准试块长度方向设置的滑轨、设置在所述滑轨两端用于和所述标准试块的两端相夹持的夹紧结构、设置在所述滑轨一侧用于驱动设置在所述滑轨上的滑块往返运动的手动传动结构、以及设置在所述滑轨下方与所述标准试块相吸的磁铁，所述滑块与所述探头夹持装置的支架相连接。
【专利摘要】本发明公开了一种用于超声探头校准检测的机械装置，包括标准试块，还包括设置在所述标准试块一侧壁的探头夹持装置、以及用于驱动所述探头夹持装置沿所述标准试块长度方向往返滑动的行走控制装置，所述探头夹持装置包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置。此结构设计，有效解决了手工检测校准稳定性差的问题，利用探头夹持装置提供的恒定压力，极大了提高了校准得到的信号的稳定性，且行走控制装置速度可控，只需运行一次即可完成单个反射体信号的捕捉，校准效率大大提高。
【IPC分类】G01N29/30
【公开号】CN105319279
【申请号】CN201510771766
【发明人】汪月银
【申请人】深圳市神视检验有限公司
【公开日】2016年2月10日
【申请日】2015年11月12日