Xrf分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及XRF分析技术领域，尤其设及一种XRF分析试样化学成分的方法及其工 作曲线的制作方法。
【背景技术】
[0002] 采用XRF分析仪器测定样品中化学成分含量时，首先需要用制作一个"应用" (Application,也称为工作曲线），然后再利用该应用进行试样分析。目前，X射线巧光分析 不同种类样品时，需要采用不同的应用(Application),因此，每个XRF分析实验室需要制作 多个应用W进行多个种类样品的分析，每次对样品测定都需要操作人员先进行应用 (App 1 i cat i on)选择。例如针对水泥产品的XRF分析实验室最少需要制作水泥(包括生料和 熟料)的应用，石灰石的应用，粘±的应用和铁粉的应用等各种类原料样品的应用。当对某 一样品进行检测时，需要先确定是采用粘±的应用还是铁粉的应用或者是其他的应用。一 旦由于疏忽等原因选择应用错误，会造成检测结果错误。尤其是当XRF分析的一批样品中存 在多种类样品时，运种选择尤为不便，不小屯、还会造成选择失误。由于选择确定应用之后的 XRF分析过程一般是自动完成，无意造成的运种失误又不易察觉和发现，最终造成了分析结 果的意外错误。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，本发明实施例提供一种XRF分析的工作曲线的制作方法，主要目的是提 高分析准确性和操作方便与简易性。
[0004] 为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：
[000引一方面，本发明实施例提供了一种XRF分析的工作曲线的制作方法，包括如下步 骤：
[0006] 制备标准样品的分析样片；
[0007] 采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线 巧光强度;其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成 分；
[0008] 分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距:通过对标准样 品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的巧光强度按设定的工 作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜 率和截距。
[0009] 作为优选，获取各化学成分的斜率和截距的平均值:某一化学成分在各种类样品 中对应的斜率或截距的和除W样品种类数量即为该化学成分对应的斜率或截距的平均值。
[0010] 作为优选，当某种类标准样品中某一化学成分没有标准值时，该化学成分在该种 类样品中对应的工作曲线的斜率和截距为0。
[0011] 作为优选，所述分析样片采用玻璃烙片法制备。
[0012] 作为优选，所述工作曲线的表达式如下：
[0013]
[0014] 式中：
[001引Cl-待测化学成分的质量百分含量；
[0016] Cj-共存基体元化学成分的质量百分含量；
[0017] Ii-待测化学成分的巧光X射线强度；
[001引 Ki-工作曲线的斜率；
[0019] bi-工作曲线的截距；
[0020] αι,^-共存化学成分j对待测化学成分i的影响系数。
[0021] 另一方面，本发明实施例提供了一种XRF分析试样化学成分的方法，包括如下步 骤：
[0022] 参照标准样品制备分析样片的方法将试样制作化学成分析样片；
[0023] 采用与测量标准样品时相同的仪器工作条件测量试样中各化学成分X射线巧光强 度；
[0024] 当制备试样的分析样片时采用的稀释比与制备标准样品的分析样片的稀释比不 同，即与标准稀释比不同时，将检测到的各化学成分的X射线巧光强度转换为标准稀释比下 的强度；
[0025] 用任一种类样品中的各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距或所有种类样品 中各化学成分的斜率和截距的平均值将各化学成分的巧光强度分别转换为各化学成分的 质量百分含量，W获得试样的近似化学组成；
[0026] 根据试样的近似化学组成判断试样的种类；
[0027] 调用该种类样品中各化学成分对应的斜率和截距，重新计算试样中各化学成分的 质量百分含量。
[0028] 作为优选，通过下式将检测到的各化学成分的X射线巧光强度转换为标准稀释比 下的强度，
[0029]
[0030] 式中；
[0031] Ιι,ο-与标准样品稀释比相同时，试样烙片中待测化学成分i的强度；
[0032] Ii-试样烙片中，待测化学成分i的实测强度；
[0033] D-试样烙片的实际稀释比；
[0034] Do-标准样品所采用的稀释比；
[003引 Qi,f-MLD 系数。
[0036] 作为优选，所述工作曲线采用上述实施例的工作曲线。
[0037] 作为优选，所述试样为水泥及其原材料的样品，所述水泥原料的种类分为巧质(石 灰石）原料、娃质（砂岩）原料、铁质（硫硫酸渣，铁矿石）原料、硫质（石膏）原料和废渣类原 料；
[0038] 其中待测试样种类判定方法如下：
[0039] 当试样中Ξ氧化硫的质量百分含量大于10%，判定试样为硫质原料；
[0040] 当试样中二氧化娃的质量百分含量大于80%，判定试样为娃质原料
[0041] 当试样中Ξ氧化二铁的质量百分含量大于20%，判定试样为铁质原料；
[0042] 当试样中二氧化娃的质量百分含量小于40%，且氧化巧的质量百分含量大于40% 时，判定为水泥及其生熟料；
[0043] 上述条件均不满足时，判定试样为废渣类原料。
[0044] 作为优选，所述试样为耐火材料样品，耐火材料种类分为娃质、侣质、儀质、铭儀 质、错质、AZS耐火材料和粘±质；
[004引耐火材料待测试样种类判定原则如下：
[0046] 试样中二氧化娃的质量百分含量大于70%时，判定为娃质样品
[0047] 试样中Ξ氧化二侣的质量百分含量大于70%时，判定为侣质样品
[0048] 试样中氧化儀的质量百分含量大于70%，Ξ氧化二铭的质量百分含量小于5%时， 判定为儀质样品；
[0049] 试样中Ξ氧化二铭的质量百分含量大于5%时，判定为铭质样品；
[0050] 若试样中二氧化错的质量百分含量大于10%，且Ξ氧化二侣的质量百分含量小于 10%，判定为错质样品；
[0051] 若试样中二氧化错的质量百分含量大于10%，且Ξ氧化二侣的质量百分含量大于 于10%，判定为AZS质样品；
[0052] 上述条件均不符合时，判定试样为粘±质样品。
[0053] 与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
[0054] 本发明实施例的工作曲线制作方法对样品中的化学成分的测量包括全部可测化 学成分，获得的工作曲线更加准确，分析结果也更准确。本发明实施例的分析方法先对试样 的化学成分进行近似计算，然后根据组成的近似结果判断试样所属种类，进一步选择该试 样种类对应的工作曲线来分析测量结果，全程自动进行，避免了误操作，结果更加准确。
【具体实施方式】
[0055] 下面结合具体实施例对本发明作进一步详细描述，但不作为对本发明的限定。在 下述说明中，不同的"一实施例"或"实施例"指的不一定是同一实施例。此外，一或多个实施 例中的特定特征、结构、或特点可由任何合适形式组合。
[0056] 实例 1
[0057] 水泥化验室用XRF分析测定水泥、生料、熟料、石灰石、砂岩、铁质原料、石膏和矿 渣、粉煤灰、煤杆石等工业废渣等样品。
[0058] 水泥化验室用XRF分析上述样品时，一般将水泥、生料和熟料Ξ种样品用同一条工 作曲线(水泥工作曲线），矿渣、粉煤灰、煤杆石等工业废渣也是采用同一条工作曲线(废渣 类工作曲线），巧质(石灰石)原料、娃质（砂岩)原料、铁质(硫酸渣，铁矿石)原料和硫质(石 膏)原料分别制作自己的工作曲线，按照水泥化学分析国家标准的要求，对各种类样品测定 的最多化学成分有11种，分别为二氧化娃，Ξ氧化二铁，Ξ氧化二侣，氧化巧，氧化儀，氧化 钟，氧化钢。Ξ氧化硫，二氧化铁，氧化儘和五氧化二憐，由于水泥企业化验室同类样品的化 学成分相对较为稳定，无需进行基体校正，不同种类的样品采用不同的斜率即可准确计算 样品中各待测化学成分的质量百分含量，因此将样品的玻璃烙片的强度转换为样品质量百 分含量的所需要的参数仅有斜率和MLD系数。
[0059] 工作曲线的制作：
[0060] 从市场购买上述六个种类样品的标准样品，采用玻璃烙片法分别制备上述六个种 类标准样品的分析样片。采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各 化学成分X射线巧光强度;其中每一种类标准样品测量的化学成分包括上述U种化学成分。 根据采用的工作曲线的表达式，对巧光强度和含量进行回归分别确定各种类样品中各化学 成分对应的工作曲线的斜率和截距，具体如下:通过对标准样品