±质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化 学成分的质量百分含量；
[0117] 205号样品的二氧化娃的质量百分含量为93.18%，大于70%，可判定样品为娃质 样品，故利用娃质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用娃质样品的斜率、截距 和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；
[0118] 309号样品中Ξ氧化二侣的质量百分含量为90.94%，大于70%，可判定样品为侣 质样品，故利用侣质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用侣质样品的斜率、截 距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；
[0119] 405号样品中氧化儀的质量百分含量为93.40%，大于70%，氧化铭为0.05%，小于 5%，可判定样品为儀质样品;故利用儀质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用 硫质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；
[0120] 505号样品中Ξ氧化二铭的质量百分含量为17.41%，大于5%，可判定为铭质样 品，故利用铭质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用铭质样品的斜率、截距和 元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；
[0121 ] 606号样品中二氧化错的质量百分含量为72.69 %，大于10 %，但Ξ氧化二侣的质 量百分含量为0.72%，大于10%，因此只能判定其为错质样品。故利用错质样品的MLD系数 重新计算其标准稀释比强度，再用错质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学 成分的质量百分含量；
[0122] 705号样品中二氧化错的质量百分含量为28.38%，大于10%，但Ξ氧化二侣为 63.49%，大于10%，因此能判定其为AZS样品。故利用错质样品的MLD系数重新计算其标准 稀释比强度，再用AZS样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含 量。
[0123] 通过上述重新计算，各个样品的准确标准稀释比强度见表13,各样品最终化学成 分质量百分含量分析结果见表14。
[0124]
[0125]
[0129] 表9:MLD系数及斜率的平均值
[0135]
[0140]表14各耐火材料样品的化学化学成分质量百分含量的最终分析结果（％ )
[0142] 同一实验室进行样品的XRF分析时，样品中存在的化学化学成分种类一般相近，只 是化学化学成分的含量会有所不同，样品的种类是根据其主要化学组成的差异区分的，同 类样品是指主要化学化学成分的含量范围相近的样品。XRF分析时，若采用斜率和截距相同 的工作曲线测定不现种类的样品，结果的误差会较大，但存在运种较大偏差的结果尚不足 于使人们对样品的种类的判断产生偏差，即利用运些存在偏差的XRF结果仍可正确判断样 品的种类。因此，本发明实施例中先通过近似计算获得样品中化学成分质量百分含量的估 算值，然后根据该估算值确定待测样品的种类，如上分析的，估算值不会影响种类判别的正 确性。然后根据确定的种类调取对应的参数准确计算样品中各化学成分的含量。不会出现 工作曲线选取错误等问题。基于上述分析可知，在本发明实施例的分析过程中的工作曲线 及相关参数也可采用现有的任意工作曲线及其参数。
[0143] W上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何 熟悉本技术领域的技术人员在本发明掲露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵 盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应W所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1. XRF分析的工作曲线的制作方法，包括如下步骤： 制备标准样品的分析样片； 采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光 强度;其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分； 分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距:通过对标准样品中 某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲 线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和 截距。2. 根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，获取各化学成 分的斜率和截距的平均值:某一化学成分在各种类样品中对应的斜率或截距的和除以样品 种类数量即为该化学成分对应的斜率或截距的平均值。3. 根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，当某种类标准 样品中某一化学成分没有标准值时，该化学成分在该种类样品中对应的工作曲线的斜率和 截距为0。4. 根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，所述分析样片 采用玻璃熔片法制备。5. 根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，所述工作曲线 的表达式如下：式中： C1 一待测化学成分的质量百分含量； Cj 一共存基体化学成分的质量百分含量； 1:一待测化学成分的荧光X射线强度； Ki 一工作曲线的斜率； h-工作曲线的截距； CU,J-共存化学成分j对待测化学成分i的影响系数。 6. XRF分析试样化学成分的方法，包括如下步骤： 参照标准样品制备分析样片的方法将试样制作化学成分析样片； 采用与测量标准样品时相同的仪器工作条件测量试样中各化学成分X射线荧光强度； 当制备试样的分析样片稀释比与制备标准样品的分析样片稀释比不同，即与标准稀释 比不同时，将检测到的试样各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度； 用任一种类样品中的各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距或所有种类样品中各 化学成分的斜率和截距的平均值将各化学成分的荧光强度分别转换为各化学成分的质量 百分含量，以获得试样的近似化学组成； 根据试样的近似化学组成判断试样的种类； 调用该种类样品中各化学成分对应的斜率和截距，重新计算试样中各化学成分的含 量。7. 根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，通过下式将检测 到的各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度，式中： Im-与标准样品稀释比相同时，试样熔片中待测化学成分i的强度； I1 一试样熔片中，待测化学成分i的实测强度； D-试样熔片的实际稀释比； Do-标准样品所采用的稀释比； Cii, f 一 MLD 系数。8. 根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述工作曲线采 用权利要求1制作的工作曲线。9. 根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述试样为水泥 及其原材料的样品，所述水泥原料的种类分为钙质原料、硅质原料、铁质原料、硫质原料和 废渣类原料； 其中待测试样种类判定方法如下： 当试样中三氧化硫的质量百分含量大于10 %时，判定试样为硫质原料； 当试样中二氧化硅的质量百分含量大于80%，判定试样为硅质原料 当试样中三氧化二铁的质量百分含量大于20%，判定试样为铁质原料； 当试样中二氧化硅的质量百分含量小于40%，且氧化钙的质量百分含量大于40%时， 判定为水泥及其生熟料； 上述条件均不满足时，判定试样为废渣类原料。10. 根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述试样为耐火 材料样品，耐火材料种类分为硅质、铝质、镁质、铬镁质、锆质、AZS耐火材料和粘土质； 耐火材料待测试样种类判定原则如下： 试样中二氧化娃的质量百分含量大于70 %时，判定为娃质样品 试样中三氧化二铝的质量百分含量大于70%时，判定为铝质样品 试样中氧化镁的质量百分含量大于70%，三氧化二铬含量小于5%时，判定为镁质样 品； 试样中三氧化二铬的质量百分含量大于5%时，判定为铬质样品； 若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10%，且三氧化二铝的质量百分含量小于 10%，判定为错质样品； 若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10%，且三氧化二铝的质量百分含量大于于 10%，判定为AZS耐火材料样品； 上述条件均不符合时，判定试样为粘土质样品。
【专利摘要】本发明公开了一种XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法，其中工作曲线的制作方法包括如下步骤：制备标准样品的分析样片；采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度；其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分；分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距：通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。本发明提高了XRF分析的准确性和操作方便性。
【IPC分类】G01N23/223
【公开号】CN105486708
【申请号】CN201510867519
【发明人】韩蔚, 卢娟娟, 邓赛文, 马振珠, 刘玉兵
【申请人】中国建材检验认证集团股份有限公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年12月1日