一种基于x射线的目标缺陷检测系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及X射线检测设备技术领域。更具体地说，本发明设及一种基于X射线的 目标缺陷检测系统。
【背景技术】
[0002] 射线检测是常规无损检测的重要方法之一，广泛应用于航空、航天、核电、国防W 及其它工业部口，在工业生产和国民经济中发挥了重要作用。目前，在生产实际中，射线检 测普遍使用胶片照相法。X射线胶片照相的成像质量较高，能正确提供被测试件缺陷真实情 况的可靠信息，但是，它具有操作过程复杂、运行成本高、结果不易保存且查询携带不便W 及评片人员眼睛易受强光损伤等缺点。
[000引为了解决上述问题，2 0世纪9 0年代末出现了 X射线数字照相（D i g i t a 1 Radiography，DR)检测技术。X射线数字照相系统中使用了平板探测器（flat panel detector),其像元尺寸可小于0.1mm，因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相媳美，同 时还克服了胶片照相中表现出来的缺点，也为图像的计算机处理提供了方便。因此，基于平 板探测器的X射线数字成像系统在无损检测和评价(NDT/NDE)、集装箱扫描、电路板检查W 及医疗应用等方面具有广阔的应用前景。
[0004] 然而，由于射线源、工件、成像系统、成像工艺等多因素的影响，得到的图像的质量 有时会达不到规定的质量标准，导致图像细节信息被掩盖，影响对结果的判断。同时与X射 线平板探测器相配合的应用软件发展相对滞后，通常仅提供对平板探测器图像的观察功 能，而无法对图像的获取条件进行调整，也无法对图像进行后期处理，且在实际使用中较多 依赖人眼对于目标缺陷的识别能力，检测效率较低，检测结果的有效性也受到了一定的影 响。
【发明内容】
[0005] 本发明的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优 点。
[0006] 本发明还有一个目的是提供一种基于X射线的目标缺陷检测系统，其能够对X射线 源成像和探测器获取图像的参数进行控制调整，并可W对实时采集的图像进行优化处理， 有效提高图像的清晰度和对比度，突出了缺陷，便于后续对图像中缺陷细节的分析。
[0007] 为了实现根据本发明的运些目的和其它优点，提供了一种基于X射线的目标缺陷 检测系统，其包括：
[000引X射线源控制模块，其被配置成通过调节X射线源发射的X射线的参数，用W控制X 射线成像设备的图像成型质量；
[0009] 平板探测器配置模块，其用W控制平板探测器捕获到的所述图像的质量；
[0010] 图像实时采集模块，其被配置成实时采集平板探测器生成的图像，并传输给图像 查看模块W显示于显示模块中；
[0011] 缺陷记录模块，其被配置成评定所述图像，并记录评定结果；w及
[0012] 人机交互模块，其被配置成用户可在显示模块中进行操作参数的输入或修改，人 机交互模块能够为使用者提供最适合的用户界面，包括界面的风格、配色、窗口尺寸等，并 对不同的输入事件提供功能支持，通过人机交互模块可保证不同的使用者快速适应软件的 使用方法，并因人而异的提供最适合的操作可视化效果，W保证使用者W最高效率进行目 标缺陷的检测；
[0013] 其中，所述图像查看模块还分别连接LUT调整模块和图像增强模块，所述图像查看 模块可接收图像实时采集模块所传输的图像数据，调用图像增强模块、LUT调整模块对图像 进行进一步的处理，所述LUT调整模块用W保证所述图像在不同显示模块上显示效果的一 致性，提高软件系统的兼容性与可用性，扩大用户硬件选择范围。所述图像增强模块W提高 所述图像的质量，然后将处理得到的图像实时显示在窗口中。
[0014] 其中，X射线源控制模块、平板探测器配置模块和图像实时采集模块均与X射线探 测器的命令处理器相连，所述命令处理器将平板探测器捕获到的X射线处理为数字信号，并 传输给所述图像实时采集模块。
[0015] 优选的是，其中，X射线源用于产生一定能量的X射线穿透工件，X射线在工件内部 被吸收而产生强度上的差异，从而传递工件内部的缺陷、形状等信息到达平板探测器，不同 的检测工件需要不同的发射功率，X射线源的电压会影响X射线的穿透能力，X射线源的电流 会影响X射线的能量，从而影响图像的曝光量，光路上介质比如空气因溫度场的波动而造成 的密度变化也会影响X射线的运行，由此所述X射线源控制模块可通过调节所述X射线源的 电流、电压或溫度等参数获得对工件最优的穿透力，W提高X射线成像设备的图像成型质 量，此外，X射线源控制模块还可通过简单的用户交互操作对射线源的多种错误状态进行标 /J、- 〇
[0016] 优选的是，其中，所述X射线源控制模块W不大于0.1 V的精度对所述电压进行调 整，所述X射线源控制模块W不大于0.001A的精度对所述电流进行调整，保证了对X射线源 调节精度。
[0017] 优选的是，其中，所述平板探测器配置模块可通过调节平板探测器的空间分辨率、 曝光时间或增益模式等参数W控制平板探测器捕获所述图像的质量。
[0018] 优选的是，其中，所述平板探测器配置模块可自动对平板探测器捕获的图像进行 偏移校正或增益校正W减少图像中固有的噪声，使每个像素对剂量的响应具有一致性，其 中，偏移校正可补偿图像中固定条纹像素的明暗变化，而增益校正是有效区内一系列由原 始X线曝光的帖的平均。此外，还可W控制进行校正的帖数，W尽量减少由于校正数据引入 的误差。
[0019] 优选的是，其中，所述平板探测器配置模块可控制平板探测器采样的位数，此位数 即为二维图像中每一像素点所存储的二进制位数，在同一颜色通道中，不同的位数可代表 不同的灰度级别，通过控制图像采样的质量可提高图像的分辨率
[0020] 优选的是，其中，所述平板探测器配置模块可单张捕获或序列捕获的方式进 行捕获图像，且对每次捕获的文件可W项目编号、工件编号的方式进行编号，便于对捕获图 像的管理。
[0021] 优选的是，其中，所述LUT调整模块可通过Gamma校正补偿不同输出设备上颜色显 示的差异，W便在不同的监视器上查看，其中所述LUT调整模块通过调整Gamma曲线的角度 W实现不同灰度值的映射，保证在不同显示器上获得相同的灰度显示效果，其中所述Gamma 曲线绘制的公式为输出强度=输入强度l/gamma，所述曲线角度的调整精度为不大于1角度 值。
[0022] 优选的是，其中，所述图像增强模块连接有可扩展的系统算法库，算法库中包括多 种可用于平板探测器图像的图像处理算法，该图像增强模块可选择所用的处理算法，并可 控制算法的参数，当有多种算法进行图像增强时，还可通过调整所述算法库中不同算法的 处理顺序，W实现最优的图像增强效果。当使用所述增强模块进行图像增强时，经增强的图 像可实时显示在显示模块中。此外，其连接的系统算法库具备高度扩展性，可根据用户需求 内置多种图像处理算法，所有算法具备相同的输入输出接口。
[0023] 优选的是，其中，所述缺陷记录模块可选择缺陷种类，并可通过所述图像查看模块 配合鼠标进行缺陷尺寸的测量W评定定级，并可撰写缺陷说明的备注文档。
[0024] 本发明至少包括W下有益效果：
[0025] (1)本发明根据待测工件的具体情况可对X射线探测器的X射线源的溫度、电压、电 流等参数进行调整，通过选择合适的发射功率和外界溫度条件，来获得最优的图像清晰度 和曝光率，从而提高X射线成像设备的图像成型质量；
[0026] (2)本发明还可W对探测器捕获图像的参数、校正帖数、记录格式及采样位数等进 行控制调整，提高探测器在将X射线能量转变成电信号时对工件密度差异及细微结构的分 辨能力，提高探测器的成像能力；
[0027] (3)本发明可通过可扩展的算法库对实时图像进行处理W提高图像整体的对比度 和可分辨能力，从而提高了对工件缺陷的辨识度。
[0028] 本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本 发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
【附图说明】
[0029] 图1为本发明的一个实施例中基于X射线的目标缺陷检测系统的框图；
[0030] 图2为本发明的另一实施例中基于X射线的目标缺陷检测系统的工作流程示意图。
【具体实施方式】
[0031] 下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，W令本领域技术人员参照说明书文 字能够据W实施。
[0032] 图1示出了根据本发明的一种实现形式，其包括：
[0033] X射线源控制模块，其被配置成通过调节X射线源发射的X射线的参数，用W控制X 射线成像设备的图像成型质量；
[0034] 平板探测器配置模块，其用W控制平板探测器捕获到的所述图像的质量；
[0035] 图像实时采集模块，其被配置成实时采集平板探测器生成的图像，并传输给图像 查看模块W显示于显示模块中；
[0036] 缺陷记录模块，其被配置成评定所述图像，并记录评定结果；W及
[0037] 人机交互模块，其被配置成用户可在显示模块中进行操作参数的输入或修改；
[0038] 其中，所述图像查看模块还分别连接LUT调整模块和图像增强模块，所述LUT调整 模块用W保证所述图像在不同显示模块上显示效果的一致性，所述图像增强模块W提高所 述图像的质量；
[0039] 其中，X射线源控制模块、平板探测器配置模块和图像实时采集模块均与X射线探 测器的命令处理器相连，所述命令处理器将平板探测器捕获到的X射线处理为数字信号，并 传输给所述图像实时采集模块。
[0040] 在运种技术方案中，根据X射线成像原理，