X射线标准检测系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种机械装置，尤其涉及一种X射线标准检测系统。
【背景技术】
[0002]X射线标准检测系统是指一套利用X射线对被测物进行检测的装置，常用于工业无损检测等领域。
[0003]在进行被测物检测时，需要被测物非常精准的放置在X射线束的出束位置上，在X轴、Y轴和Z轴方向都需要精确调整。
[0004]但现有的设备的调整过程复杂，很难通过简单操作就实现X射线束主轴，限束光阑中心及被检测物体的同轴，尤其是在被测物放置于较长导轨上行程可变情况下，更是不易实现，无法保证其处于X射线光束中心，因而会影响到检测效果和准确度；同时，现有设备不便于进行X射线管及被测物的位置调整，在使用过程中更换被测物，或发生震动、碰撞等原因造成位置改变后，需要很复杂的操作才能进行位置复位。
【发明内容】
[0005]本发明的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种X射线标准检测系统，从而实现方便和精确的X射线源到被测物的X射线出射调整。
[0006]为实现上述目的，本发明提供了一种X射线标准检测系统，所述X射线标准检测系统包括:
[0007]X射线发生装置，固定在光学平台上，产生水平出射的X射线束；
[0008]挡板，由支架和固定在所述支架中的铅板构成，屏蔽X射线管产生的X射线光子主束方向的漏射线，所述挡板上具有X射线束的出射孔，形成光阑；
[0009]快门，固定在所述光学平台上，并设置在所述挡板的X射线束射出方向一侧；所述快门包括:具有通孔的挡板和可移动的遮光片；所述通孔的中心、所述光阑的中心、所述X射线束的中心在同一直线上；当所述遮光片遮挡在所述通孔上时，所述快门闭合；当所述遮光片从所述通孔上移开时，所述快门打开，使所述X射线束由所述通孔出射；
[0010]过滤装置，固定在所述光学平台上，并设置在所述快门的X射线束射出方向一侧，包括以所述通孔为中心位置对称设置的两组滤波转盘；每组滤波转盘包括N个滤光孔，所述N为大于I的正整数，所述滤光孔中夹设有滤光片；当所述滤波转盘旋转时，沿转动方向依次有两个滤光孔同时与所述通孔位置相对准，使所述X射线束由所述滤光孔中的滤光片进行滤光之后再由所述通孔出射；
[0011]导轨平台，设置在所述光学平台的X射线束出束方向的一侧，包括:导轨和在所述导轨上平行移动的测量检定平台；调整所述测量检定平台，使放置于所述测量检定平台上的待检物的中心与所述X射线束的中心相重合。
[0012]优选的，所述系统还包括:
[0013]监督电离室，固定在所述光学平台上，并设置在所述过滤装置的X射线束射出方向一侧，对所述X射线束的剂量进行测量。
[0014]优选的，在每组滤波转盘中，除一个滤光孔外，其余(N-1)个滤光孔中夹设有滤光片;
[0015]其中，一组滤波转盘的未夹设滤光片的滤光孔与所述通孔位置对准，当另一组滤波转盘旋转时，沿转动方向依次有一个夹设有滤光片的滤光孔与所述未夹设滤光片的滤光孔以及通孔的位置相对准，使所述X射线束由所述另一组滤波转盘的滤光片进行滤光之后再由所述通孔出射。
[0016]进一步优选的，所述滤光孔的直径不小于所述通孔的直径。
[0017]优选的，所述X射线发生装置包括X射线光管和光管多维调节机构；
[0018]所述光管多维调节机构固定在所述光学平台上，所述X射线光管安装在所述光管多维调节机构的安装面上；调整所述光管多维调节机构的安装面，使所述X射线光管发出的X射线束沿所述测量检定平台在所述导轨上的移动方向水平束出。
[0019]进一步优选的，所述光管多维调节机构包括:
[0020]横向导轨，垂直所述挡板安装在所述光学平台上；
[0021]旋转平台，滑设在所述横向导轨上，在所述光学平台上横向移动，并在平行所述光学平台的平面上进行角度旋转；
[0022]纵向调节架，安装在所述旋转平台上，调整所述纵向调解架，使所述纵向调节架的顶端到所述旋转平台之间的垂直距离发生改变；
[0023]光管固定器，安装在所述纵向调节架的顶端，固定提供X射线束的X射线管；
[0024]通过调节所述纵向调节架的高度，调整所述X射线束的出射高度，并且通过调节所述旋转平台的旋转角度，调整所述X射线束的出射角度，使所述X射线管的中心与所述出射孔的中心对准；通过调节所述旋转平台在所述横向导轨上的位置，调整所述X射线管与所述出射孔之间的距离。
[0025]优选的，移动基座，包括:
[0026]第一底座，平行所述导轨所在平面滑设在所述导轨上，由第一电机控制，沿平行导轨方向运动；
[0027]滑轨，安装在所述第一底座上，与所述导轨方向垂直；
[0028]第二底座，平行所述导轨所在平面滑设在所述滑轨上，由第二电机控制，沿垂直导轨方向运动；
[0029]第一测量平台，架设在所述第二底座上，具有第一转轴和第二转轴；通过所述第一转轴调整所述第一测量平台沿垂直所述导轨所在平面方向的高度位置，通过所述第二转轴调整第一测量平台角动；
[0030]第二测量平台，放置所述待检物，架设在所述第一测量平台之上，所述第二测量平台随所述第一测量平台垂直移动和角动；所述第二测量平台具有第三转轴、第四转轴、第五转轴和第六转轴；通过所述第三转轴调整所述第二测量平台沿垂直所述导轨所在平面方向的高度位置，通过所述第四转轴调整所述第二测量平台在平行导轨所在平面沿所述导轨方向的位移，通过所述第五转轴调整所述第二测量平台在平行导轨所在平面沿垂直所述导轨方向的位移，通过所述第六转轴调整第二测量平台角动。
[0031]优选的，所述测量检定平台包括:
[0032]移动基座，包括:
[0033]第一底座，平行所述导轨所在平面滑设在所述导轨上，由第一电机控制，沿平行导轨方向运动；
[0034]滑轨，安装在所述第一底座上，与所述导轨方向垂直；
[0035]第二底座，平行所述导轨所在平面滑设在所述滑轨上，由第二电机控制，沿垂直导轨方向运动；
[0036]第二测量平台，放置所述待检物，架设在所述第二底座上；所述第二测量平台具有第三转轴、第四转轴、第五转轴和第六转轴；通过所述第三转轴调整所述第二测量平台沿垂直所述导轨所在平面方向的高度位置，通过所述第四转轴调整所述第二测量平台在平行导轨所在平面沿所述导轨方向的位移，通过所述第五转轴调整所述第二测量平台在平行导轨所在平面沿垂直所述导轨方向的位移，通过所述第六转轴调整第二测量平台角动。
[0037]本发明X射线标准检测系统实现了方便和精确的X射线源到被测物的X射线出射调整。
【附图说明】
[0038]图1为本发明X射线标准检测系统的示意图；
[0039]图2为本发明X射线标准检测系统的多维调节机构的示意图；
[0040]图3本发明X射线标准检测系统的光学平台部分的示意图；
[0041]图4为本发明X射线标准检测系统的滤波转盘的示意图。
【具体实施方式】
[0042]下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
[0043]图1为本发明实施例提供的X射线标准检测系统的示意图，如图所示，本发明X射线标准检测系统包括:x射线发生装置1、挡板(图中未示出)、快门3、过滤装置4、监督电离室5和导轨平台6。其中，X射线发生装置1、挡板(图中未示出)、快门3、过滤装置4和监督电离室5沿图中自左向右方向依次固定在光学平台7上。
[0044]X射线发生装置1，固定在光学平台7上，产生水平出射的X射线束；
[0045]其中，所述X射线发生装置I包括X射线光管11和光管多维调节机构12，具体可以如图2所示。
[0046]所述光管多维调节机构12固定在所述光学平台7上，所述X射线光管11安装在所述光管多维调节机构12上；调整所述光管多维调节机构12，使所述X射线光管11发出的X射线束沿导轨平台6的测量检定平台62在导轨61上的移动方向水平束出。
[0047]进一步的，如图2所示，所述光管多维调节机构12可以具体包括:
[0048]横向导轨121，垂直所述挡板安装在所述光学平台7上；横向导轨121具有丝杠(图中未示出)和电机(图中未示出)。
[0049]旋转平台122，滑设在所述横向导轨121上，在所述横向导轨121的电机驱动下，所述丝杠带动旋转平台122在所述光学平台7上横向移动。并且，旋转平台122自身能够在平行所述光学平台7的平面上进行角度旋转；