上述式(8)即超平面参数Bf每一维的值为K个粗略超平面参数{公t }f=l相应维度的 中值。由于超平面参数的每一维都为复数，中值计算为实部和虚部分别求中值。最终的超平 面参数Bf为每个接收通道信号的幅相值，W某一通道为基准，可W求得其它各通道的校准 值。
[0115] 在本实施例中，通过通道的校准技术，能够有效降低相控阵天线各单元通道的幅 相差异，提高了相控阵天线的基本性能，如:波束指向精度、零值深度、副瓣电平、测角精度 等。并且，能够使每个通道免于设计单独的导通开关和负载，简化了相控阵天线的硬件设 计。进一步，本实施例中采用的通道校准方法，减弱了移相器误差对校准精度的影响，使校 准数据更加真实准确。保证了相控阵天线各组件的互换性。通过在使用前进行校准，降低了 T/R、接收机的设计、工艺、装配等要求，减少了相控阵天线出厂前大量的测试工作。
[0116] 实施例S
[0117] 基于与本申请实施例一相同的发明构思，请参考图3,本申请实施例=提供一种电 子设备，包括：
[0118] 信号采集器301，用于采集与N个通道对应的M个样本信号，其中，所述M个样本信号 中每个样本信号包括校准信号通过所述N个通道中各个通道后合成的信号，N为大于0的整 数，M为大于N的整数；
[0119] 存储单元302，用于存储至少一个程序模块；
[0120] 至少一个处理器303,所述至少一个处理器通过获得并运行所述至少一个程序模 块，用于W预设策略对所述M个样本信号进行拟合，获得所述N个通道中各通道的信号幅相 偏移值;基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值，对所述N个通道校准。
[0121] 可选的，所述信号采集器具体用于：
[0122] 获得预存的与所述N个通道对应的M组移相值，所述M组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述M组移相值中各组移相值互不相同；
[0123] 依次取i为1至M，在所述N个通道的移相值调节为所述M组移相值中的第i组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第i个样本信号；
[0124] 在i为M时，获得M个样本信号。
[0125] 可选的，所述信号采集器具体用于：
[0126] 获得预存的与所述N个通道对应的L组移相值，所述L组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述L组移相值中各组移相值互不相同，L为大于M的 整数；
[0127] 依次取j为1至L，在所述N个通道的移相值调节为所述L组移相值中的第j组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第j个样本信号；
[012引在巧L时，获得L个样本信号；
[0129] 从所述L个样本信号中随机选取M个样本信号。
[0130] 可选的，信号采集器具体用于：
[0131 ]在所述获得L个样本信号后，基于所述L个样本信号，确定K组样本信号，所述K组样 本信号中每组样本信号均包含M个样本信号，每组包含的M个样本信号为从所述L个样本信 号随机选取的样本信号，K为大于1的整数；
[0132] 依次取t为1至K，W所述预设策略对第t组样本信号中的M个样本信号进行拟合，获 得与所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值对应的第t组参数值;在t为即寸，获得K组参数 值；
[0133] 从所述K组参数值中确定出N个值，所述N个值对应所述N个通道中各通道的信号幅 相偏移值。
[0134] 可选的，所述至少一个处理器还用于：
[0135] W线性回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0136] W稳健回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0137] W脊回归方式对所述M个样本信号进行拟合。
[0138] 通过本申请实施例中的一个或多个技术方案，可W实现如下一个或多个技术效 果：
[0139] I、由于在本申请实施例中的技术方案中，采用了采集与N个通道对应的M个样本信 号，其中，所述M个样本信号中每个样本信号包括校准信号通过所述N个通道中各个通道后 合成的信号，N为大于0的整数，M为大于N的整数；W预设策略对所述M个样本信号进行拟合， 获得所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值;基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移 值，对所述N个通道校准的技术手段。运样，在需要对多个通道进行校准时，仅需要采集到与 运些通道对应的多个样本信号，再对运些样本信号进行拟合即可得到各通道的信号幅相偏 移值，不需要为通道设计任何辅助校准硬件电路，仅采用软件处理方式即可计算得到各通 道的信号幅相偏移值。所W，能有效解决现有技术中存在通道校准方式复杂，且所需成本较 高的技术问题，提供了一种简单且低成本的通道校准方式。
[0140] 2、由于在本申请实施例中的技术方案中，采用了基于所述L个样本信号，确定K组 样本信号，所述K组样本信号中每组样本信号均包含M个样本信号，每组包含的M个样本信号 为从所述L个样本信号随机选取的样本信号，K为大于1的整数;依次取t为1至K，W所述预设 策略对第t组样本信号中的M个样本信号进行拟合，获得与所述N个通道中各通道的信号幅 相偏移值对应的第t组参数值;在t为K时，获得K组参数值;从所述K组参数值中确定出N个 值，所述N个值对应所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值的技术手段。运样，电子设备在 采集到多个关于通道的样本信号时，可W选择多组样本进行拟合，进而通过得到的多个拟 合结果来确定多个通道中各个通道的信号幅相偏移值，能够在移相器存在误差的情况下， 获得精确各通道的信号幅相偏移值，确保了通道校准的准确性。
[0141] 本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序 产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实 施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机 可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产 品的形式。
[0142] 本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程 图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流 程和/或方框、W及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供运些计算机程序 指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器W产 生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实 现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
[0143] 运些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备W特 定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指 令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或 多个方框中指定的功能。
[0144] 运些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计 算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤W产生计算机实现的处理，从而在计算机或 其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一 个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0145] 具体来讲，本申请实施例中的通道校准方法对应的计算机程序指令可W被存储在 光盘，硬盘，U盘等存储介质上，当存储介质中的与通道校准方法对应的计算机程序指令被 电子设备读取或被执行时，包括如下步骤：
[0146] 采集与N个通道对应的M个样本信号，其中，所述M个样本信号中每个样本信号包括 校准信号通过所述N个通道中各个通道后合成的信号，N为大于0的整数，M为大于N的整数；
[0147] W预设策略对所述M个样本信号进行拟合，获得所述N个通道中各通道的信号幅相 偏移值；
[0148] 基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值，对所述N个通道校准。
[0149] 可选的，所述存储介质中存储的与步骤:采集与N个通道对应的M个样本信号对应 的计算机程序指令在被执行时，具体包括如下步骤：
[0150] 获得预存的与所述N个通道对应的M组移相值，所述M组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述M组移相值中各组移相值互不相同；
[0151] 依次取