[0037] 另外，具体实现中，上述高精度校准器可以基于美国国家仪器公司（National Instrument，NI)的NI PXI系列板卡来搭建，实现信号的高精度同步采样;进一步采用非线 性回归同步相量量测算法，对采样信号进行计算，得到参考相量。经测试，基于高精度校准 器的相量测量单元PMU静动态测试系统精度能够满足ANSI/NCSL Z540.3-2006对校准系统 精度的要求。
[0038] 下面以具体的实例对该高精度校准器的硬件选型及精度进行详细说明，该实例中 高精度校准器基于美国国家仪器公司(NI)的NI PXI系列板卡来实现，其硬件系统主要分为 GPS同步授时模块、电压模拟量采样模块、控制器模块三个部分，另外还包括GPS天线等附属 设备。其中，GPS同步模块用于提供UTC(世界协调时间）同步时标，并实现在UTC时间整秒处 同步触发采样；电压模拟量采集模块进行电压模拟量采集，并将其转化为数字量以便控制 器模块进行计算。
[0039] 根据ANSI/NCSL Z540.3-2006对校准系统的精度要求以及测试系统搭建时的具体 要求，可得到高精度校准器功能需求，如下表1所示：
[0040]
[0041] 表1高精度校准器功能需求
[0042] 该高精度校准器的型号及基本指标如下表2、表3和表4所示，其中表2中列出控制 器和同步授时板卡基本指标，表3中列出同步采样单元基本指标，表4中列写出其他配件和 板卡的基本指标：
[0043]
[0044] 表2控制器和同步授时板卡指标
[0047] 表3同步采样单元指标
[0048]
[0049] 表4其他配件和板卡
[0050] 进一步的，对上述同步授时板卡和采样板卡的精度进行详细说明：
[0051 ] 本实施例的测试系统选择美国国家仪器公司（NI)的ΝΙ ΡΧΙΘ-6682Η型号GPS同步 板卡实现同步授时功能，NI PXIe-6682H板卡的标称参数如下表5所示：
[0053] 表5 NI PXIe-6682H板卡的标称参数
[0054]由上述表5可以看出，NI PXIe-6682H板卡的标称参数满足对高精度校准器的要 求。
[0055]本实施例的测试系统选择美国国家仪器公司（NI)的NI PXIe-4300型号板卡配套 电压衰减接线盒来实现模拟量采集功能，NI给出了NI PXIe-4300的校准报告，报告显示在 10V量程下采样板卡的误差在〇. 392mV以内，对应的相对误差：
[0057]可以满足高精度校准器的硬件采样精度要求。
[0058]进一步的，下面对高精度校准器的软件算法也进行详细说明，该高精度校准器采 用非线性回归同步相量量测算法，该算法基于动态同步相量模型，利用非线性回归方法实 现同步相量计算。由于非线性回归同步相量算法对不同的PMU测试信号采取有针对性的信 号模型，且每个建模参数具有明确的物理意义，从而提高了计算精度。
[0059] 进一步的，下面再对该PMU静动态测试系统进行校验，以便对该测试系统的整体性 能进彳丁评估：
[0060] 以频率偏移影响测试、带外测试、幅值相角同时调制测试、频率斜坡测试为例，利 用基于高精度信号源的PMU静动态测试系统对基于高精度校准器的PMU静动态测试系统进 行校验。其中以A相电压结果为例，校验结果如下表6所示：
[0062]表6校准结果统计表
[0063]从上述表6的结果可以看出，基于高精度校准器的PMU静动态测试系统其相量量测 精度可以满足国家电网企标《电力系统实时动态监测系统技术规范》的要求，并普遍可高出 一个数量级以上。由此可见，本发明实施例所述的PMU静动态测试系统精度能够满足ANSI/ NCSL Z540.3-2006对校准系统精度的要求。
[0064] 综上所述，本发明实施例所述PMU静动态测试系统具有如下优点：
[0065] 1)该测试系统对信号源没有过高的要求，可与待测PMU同时对输入信号进行采样， 并进行相量计算，生成相量参考值；
[0066] 2)测试系统中的高精度校准器可基于美国国家仪器公司（NI)的NI PXI系列板卡 实现，采用非线性回归同步相量算法，对不同的PMU测试信号采取有针对性的信号模型，且 每个建模参数具有明确的物理意义，提高了计算精度；
[0067] 3)采用离线召唤的方式提取PMU量测相量，并可根据国内外两种信号格式自行分 析，并得到相量数据；
[0068] 4)该测试系统操作方便，提高了测试效率。
[0069] 以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此， 任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换， 都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范 围为准。
【主权项】
1. 一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统，其特征在于，所述测试 系统包括信号源、高精度校准器、量测相量提取模块和分析比较模块，其中： 所述信号源，用于根据不同的测试用例，生成相应的测试信号； 所述高精度校准器，用于对所述信号源生成的测试信号进行采样，并采用非线性回归 同步相量算法对采样的测试信号进行计算，得到参考相量； 所述量测相量提取模块，用于采用计算机设备作为相量测量单元PMU主站，向待测PMU 发出离线召唤命令，提取并分析得到所述待测PMU的量测相量信息； 所述分析比较模块，用于将所得到的待测PMU的量测相量信息与所述高精度校准器生 成的参考相量进行比较，进行误差统计与分析评估，将分析评估结果自动写入文档，形成完 整的测试报告，实现对所述待测PMU的静动态测试。2. 根据权利要求1所述PMU的静动态测试系统，其特征在于，根据不同的测试用例，生成 相应的测试信号，具体包括： 建立测试信号库，其中的幅值扫描测试、频率扫描测试、阶跃测试的信号利用所述信号 源的状态序列模块生成； 谐波影响测试、带外测试、调制测试、频率斜坡测试的信号利用Matlab将信号转化为 Comtrade格式的文件，并利用所述信号源的暂态回放模块生成测试信号。3. 根据权利要求1所述PMU的静动态测试系统，其特征在于，所述高精度校准器进一步 包括： 信号采样模块，用于对所述信号源生成的测试信号进行采样，具体能根据不同的测试 用例对采样率、采样时间以及输出路径进行设置，实现对输入电压信号的采样； 参考相量生成模块，用于根据测试用例及相关参数的设置，采用非线性回归同步相量 算法对采样的测试信号进行计算，得到参考相量。4. 根据权利要求1所述PMU的静动态测试系统，其特征在于，所述向待测PMU发出离线召 唤命令，提取并分析得到所述待测PMU的量测相量信息，具体包括： 将计算机设备作为PMU主站，向待测PMU发出离线召唤命令，提取规定时段内的相量离 线数据帧； 再按照PMU标准格式对该相量离线数据帧进行分析解读，提取出相量幅值、相角、频率、 频率变化率、有功功率及无功功率，得到所述待测PMU的量测相量信息； 然后进行数据格式转换，得到量测结果并储存。5. 根据权利要求1所述PMU的静动态测试系统，其特征在于，所述将所得到的待测PMU的 量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较，进行误差统计与分析评估， 具体包括： 将所得到的待测PMU的量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较， 得到相量、频率、功率误差及综合矢量误差； 然后进行误差统计与分析评估，评估指标具体包括误差最大值、最小值、中位数、平均 值和标准差，来分别表现所述待测PMU量测误差极值、平均水平及分布情况。
【专利摘要】本发明公开了一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统，包括信号源，用于根据不同的测试用例，生成相应的测试信号；高精度校准器，用于对信号源生成的测试信号进行采样，并采用非线性回归同步相量算法对采样的测试信号进行计算，得到参考相量；量测相量提取模块，用于采用计算机设备作为相量测量单元PMU主站，向待测PMU发出离线召唤命令，提取并分析得到量测相量信息；分析比较模块，用于将量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较，实现对所述待测PMU的静动态测试。从而解决基于高精度信号源的PMU测试系统对信号源要求高、无法对PMU进行现场测试的问题，实现了全面系统的PMU静态及动态测试。
【IPC分类】G01R35/00
【公开号】CN105572616
【申请号】CN201510946018
【发明人】刘灏, 王璐, 毕天姝, 钱程
【申请人】华北电力大学
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月16日