始中子注量率，在注量率调试阶段出现的 故障现象仅记录，作为调试数据，但不作为正式试验数据处理输入；
[0093] (6)注量记录仪清零，试验件断电重启并同步启动注量记录仪，重新累计注量并记 录；
[0094] (7)辐照期间，循环遍历测试用例，如果试验件出现故障现象，必要时及时暂停辐 照，进行处理分析并记录出现的故障现象及中子注量；
[0095] (8)故障处理分析和记录完成后，根据需要试验件断电重启，重复步骤（7)，直至 符合试验终止条件；
[0096] (9)按所确定的应力终止条件终止试验；
[0097] (10)依据公式（5)进行试验数据分类处理，计算航空电子设备NSEE故障的敏感截 面' 0 NSEE i。
[0098] (11)将步骤（10)试验计算结果替换预估值，代入本文4)所述的相应计算流程，计 算航空电子设备平均NSEE故障间隔时间MTBF NSEE。
[0099] 当然，如图2所示，还可以分析航空电子设备NSEE敏感器件清单，结合工程经验判 断，考虑资源使用率和故障传递率，通过预估的方式得到敏感截面，预估采用的公式如下：
[0101] 其中，〇 NSEE i为航空电子设备发生各种NSEE故障的敏感截面，单位：cm2/board或 cm2/Mbit ；
[0102] 〇 j为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件的敏感截面，单位：cm2/ device 或 cm2/Mbit ;
[0103] nj为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件的数量，单位：个device/ board ；
[0104] e 为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件的bit位资源利用率，无量 纲；
[0105] e ]2为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件从器件级传递至航空电子 设备形成的设备级的传递率，无量纲。软错误的传递率为10%，硬错误和硬失效的传递率通 常取100%。
[0106] 由于NSEE故障有多种类型，因此〇 NSEE ^ 〇 p nj、e j2、e n是--对应的。
[0107] -般情况下，在进行航空电子设备NSEE地面模拟试验之前可以先进行预估，得到 敏感截面预估值，通过预估值选择合适模拟试验参数，然后再进行航空电子设备NSEE地面 模拟试验。之前的预估可以对之后的地面模拟试验起到支持或指导的作用，进一步提高航 空电子设备发生相应NSEE故障的敏感截面的精度。当多次地面模拟试验积累了大量的试 验数据之后，就可以不进行地面模拟试验，而是直接采用预估的方法来得到敏感截面。
[0108] 综上所述，本发明提供的航空电子设备抗NSEE能力的检测方法具有以下优点：
[0109] 1.本发明利用地面模拟试验或预估得到敏感截面，还可以采用预估和敏感截面相 结合的方式得到敏感截面，提高了敏感截面的精度。
[0110] 2.本发明求得的总NSEE故障率，能够很好的体现航空电子设备抗NSEE的能力。
[0111] 虽然结合附图描述了本发明的实施方式，但是本领域技术人员可以在不脱离本发 明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求 所限定的范围之内。
【主权项】
1. 一种航空电子设备抗NSEE能力的检测方法，其特征在于，包括： 获取航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面； 根据航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面和任务环境下的大气中子注量率 计算航空电子设备的各种NSEE故障率； 对各种NSEE故障率求和得到航空电子设备总NSEE故障率，按所述航空电子设备总 NSEE故障率得到NSEE故障平均间隔时间MTBFNSEE，通过航空电子设备总NSEE故障率或NSEE 故障平均间隔时间MTBFNSEE判断航空电子设备抗NSEE的能力。2. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，航空电子设备的各种NSEE故障率是 按下式计算的： X NSEE i _ f NSEE ^ 0 NSEE i 其中，。NSEE i为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面，f _为任务环境下的 大气中子注量率，λ NSEE i为航空电子设备的各种NSEE故障率。3. 根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于：所述航空电子设备中发生各种 NSEE故障的敏感截面是通过对航空电子设备进行航空电子设备NSEE地面模拟试验得到 的。4. 根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于：所述对航空电子设备进行航空电子 设备NSEE地面模拟试验得到所述敏感截面，包括： 确定航空电子设备NSEE地面模拟试验的应力初始条件、应力终止条件和试验时间； 根据所述应力初始条件、所述应力终止条件和所述试验时间启动航空电子设备NSEE 地面模拟试验，记录试验过程中航空电子设备发生各种NSEE故障的数量和诱发航空电子 设备各种NSEE故障的累积中子注量； 根据航空电子设备发生各种NSEE故障的数量、诱发航空电子设备各种NSEE故障的累 积中子注量、诱发航空电子设备各种NSEE故障的试验件样品数量、差异修正系数，计算航 空电子设备发生各种NSEE故障的敏感截面。5. 根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于：所述敏感截面〇 NSEEl是按下式计算 的：其中，Nnsee ;为航空电子设备发生各种NSEE故障的数量，FNSEE ;为诱发航空电子设备各 种NSEE故障的累积中子量，NsNSEE i为诱发航空电子设备各种NSEE故障的试验件数量，ANSEE i 为差异修正参数。6. 根据权利要求4所述的的检测方法，其特征在于：所述应力初始条件是按下式计算 的： F0= f0Xt0 其中，F。为应力初始条件，f。为初始中子注量率，t。为调试时间。7. 根据权利要求4或5所述的检测方法，其特征在于：所述应力终止条件大于航空电 子设备在整个寿命周期所遭受的大气中子辐射累积注量。8. 根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于：所述试验时间是按下式计算的：其中，tT为试验时间，F τ为应力终止条件，f。为初始中子注量率。9. 根据权利要求6或8所述的检测方法，其特征在于：所述初始中子注量率f。是由航 空电子设备NSEE地面模拟试验启动前的调试过程确定的，且f。使在调试过程中航空电子 设备发生各种NSEE故障的数量与调试过程中诱发航空电子设备相应NSEE故障的累积中子 量满足线性关系。10. 根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于：所述航空电子设备中发生各种 NSEE故障的敏感截面〇 NSEE i是通过预估得到的，所述预估采用的公式为：其中，σ i为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件的敏感截面，η为航空电 子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件的数量，ε η为航空电子设备中发生各种NSEE故 障的敏感器件的bit位资源利用率，ε ]2为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感器件 从器件级传递至航空电子设备形成的设备级的传递率。
【专利摘要】本发明涉及一种航空电子设备抗NSEE能力的检测方法，以解决目前尚无航空电子设备抗NSEE能力检测方法来支撑相应的设计工作的问题。该方法包括：获取航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面；根据航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面和任务环境下的大气中子注量率计算各种NSEE故障率；对各种NSEE故障率求和得到航空电子设备总NSEE故障率，通过航空电子设备总NSEE故障率或平均NSEE故障间隔时间判断航空电子设备抗NSEE的能力。本发明针对大气中子单粒子效应引发的各种故障，求出总NSEE故障率，可知航空电子设备抗NSEE的能力，为航空电子设备NSEE危害防控提供针对性的技术支持。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN105717385
【申请号】CN201510239664
【发明人】王群勇, 陈冬梅
【申请人】北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
【公开日】2016年6月29日
【申请日】2015年5月12日