一种具有抗温性能的测厚仪的制作方法
【专利摘要】本发明提供了一种具有抗温性能的测厚仪，包括AD549处理器、第一电阻、第一电容、第二电阻、第二电容、AD694芯片、第四电阻和控制器；所述第一电阻和第一电容并联后连接在所述AD549处理器的同相输入端和输出端之间；第二电阻和第二电容串联后，一端与所述AD549处理器的输出端连接，另一端接地；所述AD549处理器的输出端与AD694芯片的信号输入端连接，所述AD694芯片的信号输出端经第四电阻后输入控制器。本发明所述的具有抗温性能的测厚仪，采用RC方式的反馈方式，通过AD549处理器放大采集电路采集到的电压信号，并通过AD694芯片将电压信号转换成电流信号输入控制器进行显示，去除了原AD549处理器外围电路中含有电位器的偏置调零电路，避免了高温对电位器电阻的影响导致的对AD549输出电压的影响。
【专利说明】
一种具有抗温性能的测厚仪
技术领域
[0001]本发明属于测厚仪调整电路技术领域，尤其是涉及一种具有抗温性能的测厚仪。
【背景技术】
[0002]在原有测厚仪中，如图1所示，经AD549处理器的微电压放大电路的输出端设有一个含有电位器的偏置调零电路，用以方便地为测厚仪调零，使得该微电压放大电路的测量值更加精确，但有时测厚仪需要在高温下工作，而在高温时，电位器的电阻随温度变化有较大的电阻差值，这就对经AD549处理器的微电压放大电路的准确度有较大影响，使得测厚仪容易显示波动导致测量值不准。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明旨在提出一种具有抗温性能的测厚仪，直接采用RC方式进行反馈电路的设计，减小了测厚仪的零飘和误差，提高了测厚仪的稳定性，延长了测厚仪的适用寿命O
[0004]为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的:
[0005]—种具有抗温性能的测厚仪，包括AD549处理器、第一电阻、第一电容、第二电阻、第二电容、AD694芯片、第四电阻和控制器；
[0006]所述第一电阻和第一电容并联后连接在所述AD549处理器的同相输入端和输出端之间；
[0007]第二电阻和第二电容串联后，一端与所述AD549处理器的输出端连接，另一端接地；
[0008]所述AD549处理器的输出端与AD694芯片的信号输入端连接，所述AD694芯片的信号输出端经第四电阻后输入控制器。
[0009]进一步的，所述控制器上设有显示屏。
[0010]进一步的，所述AD694芯片的比较电压输入端接地。
[0011]进一步的，所述具有抗温性能的测厚仪还包括一第三电容，该第三电容与所述第一电阻和第一电容并联。
[0012]相对于现有技术，本发明所述的具有抗温性能的测厚仪中的微电流放大电路具有以下优势:
[0013](I)本发明所述的具有抗温性能的测厚仪，采用RC方式的反馈方式，通过AD549处理器放大采集电路采集到的电压信号，并通过AD694芯片将电压信号转换成电流信号输入控制器进行显示，去除了原AD549处理器外围电路中含有电位器的偏置调零电路，避免了高温对电位器电阻的影响导致的对AD549输出电压的影响，减小了零飘和误差，提高了测厚仪测量的稳定性，使得数据显示误差较小，延长了测厚仪的适用寿命。
【附图说明】
[0014]构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0015]图1为具有电位器的原测厚仪中的微电压放大电路示意图；
[0016]图2为本发明实施例所述的具有抗温性能的测厚仪的电路示意图。
【具体实施方式】
[0017]需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0018]在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0019]在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接;可以是机械连接，也可以是电连接;可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0020]下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
[0021]如图1所示，本发明包括AD549处理器、第一电阻R1、第一电容Cl、第二电阻R2、第二电容C2、AD694芯片、第四电阻和控制器。
[0022]所述第一电阻Rl和第一电容Cl并联后连接在所述AD549处理器的同相输入端和输出端之间，作为微电压放大电路的RC反馈电路。
[0023]第二电阻R2和第二电容C2串联后，一端与所述AD549处理器的输出端连接，另一端接地，为AD549处理器的输出电压滤波。
[0024]AD549处理器的信号输出端与所述AD694芯片的信号输入端连接，将AD549处理器放大后的电压信号转换成电流信号。
[0025]AD694芯片的信号输出端经第四电阻R4输入控制器，控制器分析处理电流信号得到待测物体的厚度，并在该控制器上设置的显示屏中显示结果，其中第四电阻R4起限流作用。
[0026]控制器上设有显示屏，以便于测厚仪测量结果的显示。
[0027]AD694芯片的比较电压输入端接地，该管脚与第二电容接地的一端连接，实现电压信号的相对值输入。
[0028]具有抗温性能的测厚仪还包括一第三电容，该第三电容与第一电阻和第一电容并联，扩大了 AD549的测量量程。
[0029]该AD549处理器的同相输入端输入测厚仪的采集电路采集到的微电压信号，经AD549处理器将微电压放大，输入AD694芯片，AD694芯片将放大后的电压信号转换成电流信号，并将电流信号输入控制器数据处理后在显示屏中显示测量厚度，其中放大板采用稳压供电到AD549处理器的4脚和7脚。
[0030]本发明采用RC反馈方式，减小了零飘和误差，稳定性好，数据显示误差小，延长了测厚仪的使用寿命。
[0031]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种具有抗温性能的测厚仪，其特征在于:包括AD549处理器、第一电阻(R1)、第一电容(Cl)、第二电阻(R2)、第二电容(C2)、AD694芯片、第四电阻(R4)和控制器； 所述第一电阻(Rl)和第一电容(Cl)并联后连接在所述AD549处理器的同相输入端和输出端之间； 第二电阻(R2)和第二电容(C2)串联后，一端与所述AD549处理器的输出端连接，另一端接地； 所述AD549处理器的信号输出端与所述AD694芯片的信号输入端连接； 所述AD694芯片的信号输出端经第四电阻(R4)输入所述控制器。2.根据权利要求1所述的具有抗温性能的测厚仪，其特征在于:所述控制器上设有显示屏。3.根据权利要求1所述的具有抗温性能的测厚仪，其特征在于:所述AD694芯片的比较电压输入端接地。4.根据权利要求1所述的具有抗温性能的测厚仪，其特征在于:还包括一第三电容，该第三电容(C3)与第一电阻(Rl)和第一电容(Cl)并联。
【文档编号】G01B21/08GK106017384SQ201610531639
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年7月7日
【发明人】张德明
【申请人】天津市宇润德金属制品有限公司