用三坐标测量两圆柱同轴度的方法
【专利摘要】一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法，具体步骤包括：首先使用三坐标的测头，分别测量基准圆柱左端直径和右端直径，将基准圆柱左端直径的圆和右端直径的圆使用三坐标组成基准圆锥；然后使用三坐标的测头，分别测量被测圆柱左端直径和右端直径，将基被测柱左端直径的圆和被测圆柱右端直径的圆使用三坐标组成被测圆锥；使用三坐标求被测圆锥和基准圆锥的同轴度，得到的值便是被测圆柱和基准圆柱的同轴度。本发明能解决同轴度测量带来的测量误差难题。
【专利说明】
用三坐标测量两圆柱同轴度的方法
技术领域
[0001]本发明涉及工件测量领域，特别是一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法。
【背景技术】
[0002]在国标中同轴度公差带的定义是指直径公差为值t，且与基准轴线同轴的圆柱面内的区域。它有以下三种控制要素:①轴线与轴线;②轴线与公共轴线;③圆心与圆心。
[0003]对于基准圆柱与被测圆柱距离较远时不能用测量软件直接求得，通常用公共轴线法、直线度法、求距法求得。
[0004]对于基准圆柱与被测圆柱距离不远时同样也不能用测量软件直接求得，通常任何圆柱都不可能做到两端完全一样大，多少会有大小差值，有差值理论上就不是一个标准的圆柱，而使用三坐标测量软件直接求两圆柱的同轴度会产生测量误差。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法，解决同轴度测量带来的测量误差难题。
[0006]为解决上述技术问题，本发明具体步骤包括:首先使用三坐标的测头，分别测量基准圆柱左端直径和右端直径，将基准圆柱左端直径的圆和右端直径的圆使用三坐标组成基准圆锥；
[0007]然后使用三坐标的测头，分别测量被测圆柱左端直径和右端直径，将基被测柱左端直径的圆和被测圆柱右端直径的圆使用三坐标组成被测圆锥；
[0008]使用三坐标求被测圆锥和基准圆锥的同轴度，得到的值便是被测圆柱和基准圆柱的同轴度。
[0009]所述的三坐标包括:工作台、移动桥架、测头、中央滑架、横梁和底座，其中:工作台设置于底座上，移动桥架设置于底座的两侧，横梁连接两端的移动桥架，中央滑架设置于横梁中部，测头设置于中央滑架上。
[0010]本发明解决同轴度测量带来的测量误差难题。无需辅助测量配件，只需简单改变测量方法。
[0011]本发明去除测量误差在高精度同轴度测量时非常关键，例如:被测圆柱两端大小相差0.002mm，而同轴度要求是<0.002mm,被测圆柱两端大小差值对于同轴度的测量影响是不可忽视的，而圆锥替代法可避免此问题带来的测量误差。
【附图说明】
[0012]图1为本发明的测量示意图；
[0013]图2为本发明的三坐标结构图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
[0015]如图1所示，本实施例具体步骤包括:首先使用三坐标测头3，测量基准圆柱A-B左端直径Φ I，测量基准圆柱A-B右端直径Φ 2，将基准圆柱A-B左端直径Φ I圆和基准圆柱A-B右端直径Φ2圆使用三坐标组成基准圆锥A-B’ ；
[0016]然后使用三坐标测头3，测量被测圆柱C左端直径dl，测量被测圆柱C右端直径d2，将基被测柱C左端直径dl圆和被测圆柱C右端直径d2圆使用三坐标组成被测圆锥C’；
[0017]最后使用三坐标求被测圆锥C’和基准圆锥A-B’的同轴度，得到值便是被测圆柱C和基准圆柱A-B的同轴度。
[0018]如图2所示，所述的三坐标包括:工作台1、移动桥架2、测头3、中央滑架4、横梁5和底座6，其中:工作台I设置于底座6上，移动桥架2设置于底座6的两侧，横梁5连接两端的移动桥架2，中央滑架4设置于横梁5中部，测头3设置于中央滑架4上。
[0019]以上已对本发明创造的较佳实施例进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述的实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明创造精神的前提下还可以作出种种的等同的变型或替换，这些等同变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
【主权项】
1.一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法，其特征在于，具体步骤包括:首先使用三坐标的测头，分别测量基准圆柱左端直径和右端直径，将基准圆柱左端直径的圆和右端直径的圆使用三坐标组成基准圆锥； 然后使用三坐标的测头，分别测量被测圆柱左端直径和右端直径，将基被测柱左端直径的圆和被测圆柱右端直径的圆使用三坐标组成被测圆锥； 使用三坐标求被测圆锥和基准圆锥的同轴度，得到的值便是被测圆柱和基准圆柱的同轴度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的三坐标包括:工作台、移动桥架、测头、中央滑架、横梁和底座，其中:工作台设置于底座上，移动桥架设置于底座的两侧，横梁连接两端的移动桥架，中央滑架设置于横梁中部，测头设置于中央滑架上。
【文档编号】G01B5/252GK106091900SQ201610442683
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月20日
【发明人】吴国涛
【申请人】上海现代先进超精密制造中心有限公司