一种石英坩埚无损检测装置的制造方法

文档序号:8731108阅读:295来源:国知局
一种石英坩埚无损检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光伏设备制造技术领域,更具体地说,涉及一种石英坩祸无损检测装置。
【背景技术】
[0002]随着技术的进步,多晶硅铸锭逐渐取代单晶硅片成为光伏电池的主要发展方向,随着大型硅锭逐渐成为主流,作为多晶硅铸锭主要辅材的石英坩祸的尺寸越来越大,其带来的安全隐患也日益突显,任何一次坩祸溢流所带来的直接经济损失超过万元,甚至引起重大安全事故,损失超过百万。因此使用石英坩祸之前,检查其内部结构成为一个必备环节。然而,石英坩祸在自然光下是不透明的,无法直接观察内部结构缺陷。在现有技术中,对石英坩祸的检测时,通常在坩祸表面涂敷显影液,然后在暗室内使用大功率手电灯近距离照射,逐区域进行检查,但是该方法检测效率低,劳动强度大,易将杂质带入坩祸中影响铸锭产品的质量。
【实用新型内容】
[0003]为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种石英坩祸无损检测装置,能够使得石英坩祸的检测快速、准确且无损。
[0004]本实用新型提供的一种石英坩祸无损检测装置,包括光源、镇流触发器和盖板,其中,
[0005]所述光源与所述镇流触发器相连接;
[0006]所述盖板的形状与石英坩祸的形状相匹配,所述盖板的面积大于或等于所述石英坩祸的开口的面积;
[0007]所述光源和所述镇流触发器设置于所述盖板的中心部,且所述镇流触发器设置于所述盖板的上表面以上,所述光源设置于所述盖板的下表面以下。
[0008]优选的,在上述装置中,所述光源为金卤灯。
[0009]优选的,在上述装置中,所述光源的波长为577纳米至597纳米。
[0010]优选的,在上述装置中,所述光源的功率为250瓦。
[0011]优选的,在上述装置中,所述光源的色温为4000开尔文。
[0012]优选的,在上述装置中,所述光源的发光效率为90流明/瓦。
[0013]优选的,在上述装置中,所述盖板的形状为正方形。
[0014]优选的,在上述装置中,所述盖板的面积大于所述石英坩祸的开口面积,且所述盖板边长与所述石英坩祸边长的差值不大于2厘米。
[0015]优选的,在上述装置中,所述镇流触发器包括镇流器和触发器,所述镇流器和所述触发器串联连接在交流供电电路的相线和零线之间。
[0016]优选的,在上述装置中,所述交流供电电路的相线和零线之间的电压为230伏或220 伏。
[0017]从上述技术方案可以看出,本实用新型所提供的石英坩祸无损检测装置中,所述光源与所述镇流触发器相连接;所述盖板的形状与石英坩祸的形状相匹配,所述盖板的面积大于或等于所述石英坩祸的开口的面积;所述光源和所述镇流触发器设置于所述盖板的中心部,且所述镇流触发器设置于所述盖板的上表面以上,所述光源设置于所述盖板的下表面以下。将上述装置置于石英坩祸的上部,接通电源后,在暗室下直接通过肉眼就能观察石英坩祸整体缺陷,避免了涂抹显影液等化学试剂带来的杂质污染和效率低下的问题,还能准确的发现石英坩祸中的内部结构缺陷,因此能够使得石英坩祸的检测快速、准确且无污染。
【附图说明】
[0018]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0019]图1为本申请实施例提供的一种石英坩祸无损检测装置的示意图;
[0020]图2为镇流触发器与光源连接示意图。
【具体实施方式】
[0021 ] 下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
[0022]本申请实施例提供的一种石英坩祸无损检测装置如图1所示,图1为本申请实施例提供的一种石英坩祸无损检测装置的示意图。该装置包括光源1、镇流触发器2和盖板3,其中,
[0023]所述光源I与所述镇流触发器2相连接;
[0024]所述盖板3的形状与石英坩祸4的形状相匹配,所述盖板3的面积大于或等于所述石英坩祸4的开口的面积;
[0025]所述光源I和所述镇流触发器2设置于所述盖板3的中心部,且所述镇流触发器2设置于所述盖板3的上表面以上,所述光源I设置于所述盖板3的下表面以下。
[0026]需要说明的是,在该装置中,光源I可以选择穿透性较强且类似自然光的光源,这样就既能明显的检测出坩祸的微小缺陷,又能便于人眼直接观察;设置镇流触发器2的目的是为给所述光源I提供电压来提供辅助;设置所述盖板3的目的是遮住石英坩祸的上部开口,将光源的光限制在坩祸内部,且光只能从坩祸的祸体处发射出来,将石英坩祸和和无损检测装置放置于光照度小于等于0.02LUX的暗室内,调整光源的位置,使其悬空于坩祸中心位置,,接通光源的电源,由于在石英晶体光轴方向传播的光不会产生偏振散射,而能直接透过石英晶体继续传播,如果晶体内部晶格存在缺陷,那该区域散射的光强较大,在石英坩祸光照的背面会产生显著的明暗相间的斑纹,从而可快速判断石英坩祸内部结构均匀性及气孔、杂质或隐裂等内部缺陷状况,及时发现存在安全隐患的石英坩祸。利用上述装置来检测石英坩祸,避免了涂抹显影液等化学试剂带来的杂质污染和效率低下的问题,还能准确的发现石英坩祸中的内部结构缺陷,因此能够使得石英坩祸的检测快速、准确且无污染。
[0027]在上述装置中,所述光源可以优选为金卤灯,所述光源的波长可以优选为577纳米至597纳米,这种波长范围内的光具有更强的穿透性,从而能够有效的保证检测的准确性,而且这种波长范围内的光更接近于自然光,便于人眼直接观察,这样就不会对人眼造成伤害,也避免采用更多观察设备,节约了检测的成本。
[0028]在上述装置中,所述光源的功率可以优选为250瓦,所述光源的色温可以优选为4000开尔文,所述光源的发光效率可以优选为90流明/瓦。之所以优选上述参数的光,是因为这样能够获得足够的光的强度,使坩祸缺陷可显著投影在外表面上,便于人眼直接观察,光源功率过大不利于缺陷的辨别,而光源功率过小则不利于人眼观察的便利性。
[0029]在上述装置中,所述盖板的形状可以优选为正方形。正是由于石英坩祸上部开口的形状为正方形,因此将盖板形状优选为正方形,既能达到覆盖整个上表面,遮住全部光源的目的,又能最大限度的节省成本,不造成材料的浪费。其中,所述盖板的面积可以优选的大于所述石英坩祸的开口面积,且所述盖板边长与所述石英坩祸边长的差值可以优选的不大于2厘米。
[0030]在上述装置中,如图2所示,图2为镇流触发器与光源连接示意图。所述镇流触发器2可以优选的包括镇流器21和触发器22,所述镇流器21和所述触发器22串联连接在交流供电电路的相线L和零线N之间,光源I与触发器22相连,这样就能为光源提供电力,且利用触发器能够实现对光源通断的控制。其中,所述交流供电电路的相线和零线之间的电压可以优选为230伏或220伏。
[0031]从上述技术方案可以看出,利用本申请实施例提供的无损检测装置对石英坩祸进行检测时,避免了涂抹显影液等化学试剂带来的杂质污染和效率低下的问题,还能准确的发现石英坩祸中的内部结构缺陷,因此能够使得石英坩祸的检测快速、准确且无污染。
[0032]对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【主权项】
1.一种石英坩祸无损检测装置,其特征在于,包括光源、镇流触发器和盖板,其中, 所述光源与所述镇流触发器相连接; 所述盖板的形状与石英坩祸的形状相匹配,所述盖板的面积大于或等于所述石英坩祸的开口的面积; 所述光源和所述镇流触发器设置于所述盖板的中心部,且所述镇流触发器设置于所述盖板的上表面以上,所述光源设置于所述盖板的下表面以下。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光源为金卤灯。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述光源的波长为577纳米至597纳米。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述光源的功率为250瓦。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述光源的色温为4000开尔文。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述光源的发光效率为90流明/瓦。
7.根据权利要求1-6任一项所述的装置,其特征在于,所述盖板的形状为正方形。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述盖板的面积大于所述石英坩祸的开口面积,且所述盖板边长与所述石英坩祸边长的差值不大于2厘米。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述镇流触发器包括镇流器和触发器,所述镇流器和所述触发器串联连接在交流供电电路的相线和零线之间。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述交流供电电路的相线和零线之间的电压为230伏或220伏。
【专利摘要】本申请公开了一种石英坩埚无损检测装置,包括光源、镇流触发器和盖板,其中,所述光源与所述镇流触发器相连接;所述盖板的形状与石英坩埚的形状相匹配,所述盖板的面积大于或等于所述石英坩埚的开口的面积;所述光源和所述镇流触发器设置于所述盖板的中心部,且所述镇流触发器设置于所述盖板的上表面以上,所述光源设置于所述盖板的下表面以下。利用该装置对石英坩埚进行内部结构缺陷检测时,避免了涂抹显影液等化学试剂带来的杂质污染和效率低下的问题,还能准确的发现石英坩埚中的内部结构缺陷,因此能够使得石英坩埚的检测快速、准确且无污染。
【IPC分类】G01N21-88
【公开号】CN204439572
【申请号】CN201520161292
【发明人】钟铮, 曾祥辉
【申请人】重庆大全新能源有限公司
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2015年3月20日
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