花键对称度测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测量工具技术领域，更具体地说是一种花键对称度测量装置。
【背景技术】
[0002]花键是两传动零件上借助内、外圆柱表面上等间距分布且齿数相同的键齿相互联结，传递扭矩或运动的同轴偶件，在机械加工过程中，常常需要对花键两端对称度进行测量，现有量刃器具如:1、千分尺只能对两端花键尺寸进行测量，不能对花键两端对称度测量，无法满足产品的质量精度要求；2、齿轮测量仪操作繁琐、效率低，不能适应产品的批量生产需求。
【发明内容】
[0003]为解决上述问题，本实用新型设计了一种侧脸精度高，操作简单、效率高，可以适应产品批量生产需求的花键对称度测量装置，其技术方案为:所述的花键对称度测量装置包括矩形的底座，其特征在于底座上侧一端固定有顶尖支架I，另一端固定有顶尖支架II，顶尖支架I上设置有顶尖I，顶尖支架II上设置有顶尖II，顶尖I与顶尖II同轴线，在底座上顶尖支架I和顶尖支架II之间设置有定位支架，定位支架上水平垂直于顶尖II设置有定位销，所述的底座上还设置有用于测量花键对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座I和触头座II，触头座I上固定有表支架，表支架上固定有百分表，百分表测量头与设置在触头座I和触头座II内的触头上端相抵，所述的触头的下端设置有调节螺堵，所述的触头与调节螺堵之间设置有弹簧，触头的中部水平设置有与花键节圆接触的横杆。
[0004]本实用新型所述的顶尖II采用螺钉固定在顶尖支架II上。
[0005]本实用新型所述的顶尖I采用锁紧螺钉I固定在顶尖支架I上，松开锁紧螺钉I，顶尖I可沿其轴线方向往复移动。
[0006]本实用新型所述定位销采用锁紧螺钉II固定在定位支架上，松开锁紧螺钉II，定位销可沿其轴线方向往复移动。
[0007]本实用新型所述顶尖支架1、顶尖支架I1、定位支架采用螺栓固定在底座上。
[0008]本实用新型所述的测量装置可移动的放置在底座上。
[0009]使用时，保证底座底面清洁无污物，需要测量的工件用两顶尖顶紧，用锁紧螺钉I将顶针I锁紧，保证工件没有轴向窜动，再将定位销与工件相抵，用锁紧螺钉II将定位销锁紧，保证工件不能绕轴线旋转，移动测量装置使触头上的横杆分别与两端花键节圆接触，两次测量百分表示数差值就是工件两端花键的对称度。
[0010]本实用新型的有益效果是花键对称度测量装置操作方便，能够适用不同长度范围花键的测量，测量精度高，效率快，能够满足工厂批量加工零件快速检验要求。
[0011]【附图说明】:
[0012]图1是本实用新型的俯视图；
[0013]图2是本实用新型的结构示意图；附图中:
[0014]1.顶针支架1、2.顶针1、3.定位支架、4.定位销、5.锁紧螺钉I1、6.顶针支架IK7.螺钉、8.顶针I1、9.百分表、10.花键、11.底座、12.锁紧螺钉1、13.触头、14.表支架、15.横杆、16.触头座1、17.弹簧、18.触头座I1、19.调节螺堵。
[0015]【具体实施方式】:
[0016]结合附图对本实用新型进一步详细描述，以便公众更好地掌握本实用新型的实施方法，本实用新型具体的实施方案为:所述的花键对称度测量装置，包括矩形的底座11，其特征在于底座11上侧一端固定有顶尖支架I 1，另一端固定有顶尖支架II 5，顶尖支架II上设置有顶尖I 2，顶尖支架II 5上设置有顶尖II 8，顶尖I 2与顶尖II 8同轴线，在底座11上顶尖支架I I和顶尖支架II 5之间设置有定位支架3，定位支架3上水平垂直于顶尖II 5设置有定位销4，所述的底座11上还设置有用于测量花键10对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座I 16和触头座II 18，触头座I 16上固定有表支架14，表支架14上固定有百分表9，百分表9测量头与设置在触头座I 16和触头座II18内的触头13上端相抵，所述的触头13的下端设置有调节螺堵19，所述的触头13与调节螺堵19之间设置有弹簧17，触头13的中部水平设置有与花键节圆接触的横杆15。
[0017]本实用新型所述的顶尖II 8采用螺钉7固定在顶尖支架II 6上。
[0018]本实用新型所述的顶尖I 2采用锁紧螺钉I 12固定在顶尖支架I I上，松开锁紧螺钉I 12，顶尖I 2可沿其轴线方向往复移动。
[0019]本实用新型所述定位销4采用锁紧螺钉II 5固定在定位支架3上，松开锁紧螺钉II 5，定位销4可沿其轴线方向往复移动。
[0020]本实用新型所述顶尖支架I 1、顶尖支架II 6、定位支架3采用螺栓固定在底座11上。
[0021]本实用新型所述的测量装置可移动的放置在底座11上。
[0022]使用时，保证底座11底面清洁无污物，需要测量的工件用两顶尖顶紧，用锁紧螺钉I 12将顶针I 2锁紧，保证工件没有轴向窜动，再将定位销4与工件相抵，用锁紧螺钉II 5将定位销4锁紧，保证工件不能绕轴线旋转，移动测量装置使触头13上的横杆15分别与两端花键节圆接触，两次测量百分表9示数差值就是工件两端花键的对称度。
[0023]本实用新型的有益效果是花键对称度测量装置操作方便，能够适用不同长度范围花键的测量，测量精度高，效率快，能够满足工厂批量加工零件快速检验要求。
【主权项】
1.花键对称度测量装置，包括矩形的底座（11)，其特征在于底座（11)上侧一端固定有顶尖支架I (1)，另一端固定有顶尖支架II (5)，顶尖支架I (I)上设置有顶尖I (2)，顶尖支架II (5)上设置有顶尖II (8)，顶尖I (2)与顶尖II (8)同轴线，在底座（11)上顶尖支架I (I)和顶尖支架II (5)之间设置有定位支架（3)，定位支架（3)上水平垂直于顶尖II (5)设置有定位销（4)，所述的底座（11)上还设置有用于测量花键（10)对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座I (16)和触头座II (18)，触头座I (16)上固定有表支架（14)，表支架（14)上固定有百分表（9)，百分表（9)测量头与设置在触头座I (16)和触头座II (18)内的触头（13)上端相抵，所述的触头（13)的下端设置有调节螺堵(19)，所述的触头（13)与调节螺堵（19)之间设置有弹簧（17)，触头（13)的中部水平设置有与花键节圆接触的横杆（15 )。
2.根据权利要求I所述的花键对称度测量装置，其特征在于所述的顶尖II(8)采用螺钉（7)固定在顶尖支架II (6)上。
3.根据权利要求I所述的花键对称度测量装置，其特征在于所述的顶尖I(2)采用锁紧螺钉I (12)固定在顶尖支架I (I)上。
4.根据权利要求I所述的花键对称度测量装置，其特征在于所述定位销（4)采用锁紧螺钉II (5 )固定在定位支架（3 )上。
5.根据权利要求I所述的花键对称度测量装置，其特征在于所述顶尖支架I(1)、顶尖支架II (6 )、定位支架（3 )采用螺栓固定在底座（11)上。
6.根据权利要求I所述的花键对称度测量装置，其特征在于所述的测量装置可移动的放置在底座（11)上。
【专利摘要】花键对称度测量装置，包括矩形的底座，其特征在于底座上侧一端固定有顶尖支架Ⅰ，另一端固定有顶尖支架Ⅱ，顶尖支架Ⅰ上设置有顶尖Ⅰ，顶尖支架Ⅱ上设置有顶尖Ⅱ，顶尖Ⅰ与顶尖Ⅱ同轴线，在底座上顶尖支架Ⅰ和顶尖支架Ⅱ之间设置有定位支架，定位支架上水平垂直于顶尖Ⅱ设置有定位销，所述的底座上还设置有用于测量花键对称度的测量装置，所述的测量装置包括通过螺栓固定一起的触头座Ⅰ和触头座Ⅱ，触头座Ⅰ上固定有表支架，表支架上固定有百分表，百分表测量头与设置在触头座Ⅰ和触头座Ⅱ内的触头上端相抵，本实用新型的有益效果是操作方便，能够适用不同长度范围花键的测量，测量精度高，效率快，能够满足工厂批量加工零件快速检验要求。
【IPC分类】G01B5-252
【公开号】CN204479003
【申请号】CN201520147142
【发明人】李祥
【申请人】济宁科尔森液压有限公司
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年3月16日