一种pptc恢复时间测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及PPTC恢复时间测试技术领域，尤其涉及一种PPTC恢复时间测试
目.0
【背景技术】
[0002]PPTC是一种正温度系数聚合物热敏电阻，使用时串联在工作电路中，正常工作时阻值很低，当发生故障产生过电流时，PPTC迅速动作由低阻状态变为高阻状态，使电流明显减小，从而保护电路中的器件。当故障排除后，PPTC又会迅速的由高阻状态变为低阻状态。PPTC由高阻状态变为低阻状态所需的时间称之为恢复时间，是PPTC重要的参数。由于PPTC由高阻状态完全恢复到动作前的低阻状态需要很长时间，因此按标准要求只计算恢复到2倍动作前阻值的时间。
[0003]传统的恢复时间测试，是通过应用惠斯通电桥的原理完成的。该方法需要多个测试步骤，并且需要搭建复杂的测试线路，方法复杂，效率底下，不能够满足大规模生产和检测的要求。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型主要是解决现有技术中所存在的技术问题，从而提供一种效率高、适合大规模生产和检测的PPTC恢复时间测试装置。
[0005]本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:
[0006]本实用新型提供的PPTC恢复时间测试装置，包括壳体和测试板，所述测试板安装在所述壳体内，所述测试板包括MCU模块、测试开关模块、测试模块组件、显示模块和电源模块，所述测试开关模块用于传递测试信号给所述MCU模块，所述MCU模块用于接收所述测试信号，并控制所述测试模块组件进行测试，所述测试模块组件用于发出PPTC测试恢复时间的计时信号至所述MCU模块，所述MCU模块根据所述测试模块组件返回的计时信号进行计时，并控制所述显示模块显示恢复时间信息，其中，所述电源模块用于为所述测试板提供电源。
[0007]进一步地，所述测试模块组件包括第一二极管、第二二极管、发光二极管，第一继电器、第二继电器、第一三极管、第二三极管、运算放大器、比较器、PPTC、可变电阻、第一至第五电阻、以及第一至第五端口，所述第一三极管基极与所述第三端口相连接，其集电极与所述第二继电器线圈的一端、第一二极管的阳极相连接，其发射极依次经所述第二继电器的静触点、PPTC与第一继电器和第四电阻的一端相连接，所述第二继电器线圈的另一端和第一二极管的阴极还与电源相连接，所述第二继电器的动触点与所述第一、第二端口相连接，以及所述第四电阻的另一端还与电源相连接，所述第二三极管的基极与第四端口相连接，其集电极与第一继电器线圈的一端、第二二极管的阳极相连接，其发射极与地相连接，所述第一继电器线圈的另一端、第二二极管的阴极还与电源相连接，所述运算放大器的第I脚与所述第一继电器的静触点相连接，其第2脚与所述第一电阻的一端、第二电阻的一端相连接，其第3脚与所述第二电阻的另一端、所述第一继电器的动触点、比较器的第I脚相连接，其中，所述第一电阻的另一端还与地相连接，所述比较器的第2脚与第三电阻的一端、可变电阻的一端相连接，所述比较器的第3脚与所述第五端口、发光二极管的阴极相连接，所述第三电阻的另一端与电源相连接，所述可变电阻的另一端接地，所述发光二极管的阳极经第五电阻与电源相连接，其中，所述第三至第五端口还与所述MCU模块相连接，所述第一、第二端口与一外部的恒压电源相连接。
[0008]进一步地，还包括一 PPTC基板接插件，所述PPTC基板接插件与所述测试板相连接，且用于插接所述PPTC。
[0009]进一步地，所述测试板还包括一复位模块和一稳压电源模块，所述电源模块经所述复位模块与所述MCU模块相连接，所述稳压电源模块与所述测试模块组件相连接。
[0010]本实用新型的有益效果在于:(I)测试模块组件可获取用于恢复时间计时的2倍动作前阻值，不再需要电阻表测试PPTC的动作前阻值。(2)测试装置可直接显示恢复时间的数值，不再需要读取示波器的波形。(3)将整个测试电路集成在一个测试装置上，降低了测试时电路的复杂度，减小出错的概率。本实用新型不仅大大提高了检测的准确性，而且操作也十分方便。
【附图说明】
[0011]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本实用新型的PPTC恢复时间测试装置的结构示意图；
[0013]图2是本实用新型的PPTC恢复时间测试装置的测试板的框架原理图；
[0014]图3是本实用新型的PPTC恢复时间测试装置的测试模块组件的电路图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0016]参阅图1-3所示，本实用新型的PPTC恢复时间测试装置，包括壳体I和测试板2，测试板2安装在壳体I内，测试板2包括MCU模块3、测试开关模块4、测试模块组件5、显示模块6和电源模块7，测试开关模块4用于传递测试信号给MCU模块3，MCU模块3用于接收测试信号，并控制测试模块组件5进行测试，测试模块组件5用于发出PPTC测试恢复时间的计时信号至MCU模块3，MCU模块3根据测试模块组件5返回的计时信号进行计时，并控制显示模块6显示恢复时间信息，其中，电源模块7用于为测试板2提供电源。
[0017]测试模块组件5包括第一二极管D1、第二二极管D2、发光二极管DS1，第一继电器K1、第二继电器K2、第一三极管Q1、第二三极管Q2、运算放大器U1、比较器U2、PPTC(RTl)、可变电阻R6、第一至第五电阻(R1-R5)、以及第一至第五端口(source+、source-、Con-1、Con-2、Sem)，第一三极管Ql基极与第三端口 Con-1相连接，其集电极与第二继电器K2线圈的一端、第一二极管Dl的阳极相连接，其发射极依次经第二继电器K2的静触点、PPTC(RTl)与第一继电器Kl和第四电阻R4的一端相连接，第二继电器K2线圈的另一端和第一二极管Dl的阴极还与电源相连接，第二继电器K2的动触点与第一、第二端口
[0018](source+、source-)相连接，以及第四电阻R4的另一端还与电源相连接，第二三极管Q2的基极与第四端口 Con-2相连接，其集电极与第一继电器Kl线圈的一端、第二二极管D2的阳极相连接，其发射极与地相连接，第一继电器Kl线圈的另一端、第二二极管D2的阴极还与电源相连接，运算放大器Ul的第I脚与第一继电器Kl的静触点相连接，其第2脚与第一电阻Rl的一端、第二电阻R2的一端相连接，其第3脚与第二电阻R2的另一端、第一继电器Kl的动触点、比较器U2的第I脚相连接，其中，第一电阻Rl的另一端还与地相连接，比较器U2的第2脚与第三电阻R3的一端、可变电阻R6的一端相连接，比较器U2的第3脚与第五端口 Sem、发光二极管DSl的阴极相连接，第三电阻R3的另一端与电源相连接，可变电阻R6的另一端接地，发光二极管DSl的阳极经第五电阻R5与电源相连接，其中，第三至第五端口(Con-1、Con-2、Sem)