还与 MCU 模块 3 相连接，第一、第二端口(source+、source-)与一外部的恒压电源相连接。以及为了方便PPTC的插接，测试模块组件5还包括一 PPTC基板接插件8，PPTC基板接插件8与测试板2相连接，且用于插接PPTC。较佳的，显示模块6为显示屏，显示屏为液晶显示屏。具体的，测试板2还包括一复位模块9和一稳压电源模块10，电源模块7经所述复位模块9与MCU模块3相连接，稳压电源模块10与测试模块组件5相连接，通过复位模块9可以在测试完成后进行复位，便于下一个PPTC的测试，稳压电源模块10用于所述测试模块组件5的电源电压进行稳压，便于提高测试精度。
[0019]下面针对PPTC恢复时间测试装置的工作原理来对本实用新型作进一步的介绍:
[0020]系统上电后，电流经第四电阻R4、第二继电器K2的静合触、PPTC，流至GND端，运算放大器Ul的正向输入端(第I脚)获取PPTC上的电压，经运算放大器Ul放大两倍后，将电压信号传输给比较器U2的负向输入端(第I脚)，手动调大可变电阻R6的阻值，当第2脚的电压大于第I脚后，比较器U2的第3脚与GND端接通，发光二极管DSl点亮，此时比较器U2就记录下PPTC两倍阻值对应的电压。MCU模块3通过第三端口 Con-1和第四端口Con-2控制第一继电器Kl和第二继电器K2动作后，PPTC通过第一端口 source+和第二端口 source-接通到外接电源。按照标准给PPTC加最大电压一定时间后，MCU模块3控制第二继电器K2释放，PPTC上的电压就会直接加载到比较器U2的第I脚，MCU模块3开始计时，此时PPTC的阻值不断恢复，当其阻值恢复到2倍动作前阻值时，比较器U2的第I脚的电压就会与第2脚的电压一样，当其阻值再降低时，就会触发比较器U2动作使第3脚与GND端连接，使第五端口 Sem的电压由高电平降至低电平，MCU模块3接收到信号后停止计时，此时间段就是PPTC的恢复时间。
[0021]综上，本实用新型具有以下优点:
[0022](I)测试模块组件可获取用于恢复时间计时的2倍动作前阻值，不再需要电阻表测试PPTC的动作前阻值。
[0023](2)测试装置可直接显示恢复时间的数值，不再需要读取示波器的波形。
[0024](3)将整个测试电路集成在一个测试装置上，降低了测试时电路的复杂度，减小出错的概率。本实用新型不仅大大提高了检测的准确性，而且操作也十分方便。
[0025]以上，仅为本实用新型的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。
【主权项】
1.一种PPTC恢复时间测试装置，包括壳体⑴和测试板(2)，所述测试板⑵安装在所述壳体(I)内，其特征在于:所述测试板(2)包括MCU模块(3)、测试开关模块(4)、测试模块组件(5)、显示模块(6)和电源模块(7)，所述测试开关模块(4)用于传递测试信号给所述MCU模块(3)，所述MCU模块(3)用于接收所述测试信号，并控制所述测试模块组件(5)进行测试，所述测试模块组件(5)用于发出PPTC测试恢复时间的计时信号至所述MCU模块(3)，所述MCU模块(3)根据所述测试模块组件(5)返回的计时信号进行计时，并控制所述显示模块(6)显示恢复时间信息，其中，所述电源模块(7)用于为所述测试板(2)提供电源。
2.如权利要求1所述的PPTC恢复时间测试装置，其特征在于:所述测试模块组件(5)包括第一二极管(Dl)、第二二极管(D2)、发光二极管(DSl)，第一继电器(Kl)、第二继电器(K2)、第一三极管(Ql)、第二三极管(Q2)、运算放大器(Ul)、比较器(U2)、PPTC(RTl)、可变电阻(R6)、第一至第五电阻(R1-R5)、以及第一至第五端口(source+、source-、Con-1、Con-2, Sem)，所述第一三极管(Ql)基极与所述第三端口(Con-1)相连接，其集电极与所述第二继电器(K2)线圈的一端、第一二极管(Dl)的阳极相连接，其发射极依次经所述第二继电器(K2)的静触点、PPTC(RTl)与第一继电器(Kl)和第四电阻(R4)的一端相连接，所述第二继电器(K2)线圈的另一端和第一二极管(Dl)的阴极还与电源相连接，所述第二继电器(K2)的动触点与所述第一、第二端口(source+、source-)相连接，以及所述第四电阻(R4)的另一端还与电源相连接，所述第二三极管(Q2)的基极与第四端口(Con-2)相连接，其集电极与第一继电器(Kl)线圈的一端、第二二极管(D2)的阳极相连接，其发射极与地相连接，所述第一继电器(Kl)线圈的另一端、第二二极管(D2)的阴极还与电源相连接，所述运算放大器(Ul)的第I脚与所述第一继电器(Kl)的静触点相连接，其第2脚与所述第一电阻(Rl)的一端、第二电阻(R2)的一端相连接，其第3脚与所述第二电阻(R2)的另一端、所述第一继电器(Kl)的动触点、比较器(U2)的第I脚相连接，其中，所述第一电阻(Rl)的另一端还与地相连接，所述比较器(U2)的第2脚与第三电阻(R3)的一端、可变电阻(R6)的一端相连接，所述比较器(U2)的第3脚与所述第五端口(Sem)、发光二极管(DSl)的阴极相连接，所述第三电阻(R3)的另一端与电源相连接，所述可变电阻(R6)的另一端接地，所述发光二极管(DSl)的阳极经第五电阻(R5)与电源相连接，其中，所述第三至第五端口(Con-1、Con-2、Sem)还与所述MCU模块(3)相连接，所述第一、第二端口(source+、source-)与一外部的恒压电源相连接。
3.如权利要求1所述的PPTC恢复时间测试装置，其特征在于:还包括一PPTC基板接插件，所述PPTC基板接插件与所述测试板(2)相连接，且用于插接所述PPTC。
4.如权利要求2或3所述的PPTC恢复时间测试装置，其特征在于:所述测试板(2)还包括一复位模块(9)和一稳压电源模块(10)，所述电源模块(7)经所述复位模块(9)与所述MCU模块(3)相连接，所述稳压电源模块(10)与所述测试模块组件(5)相连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种PPTC恢复时间测试装置，包括壳体和测试板，所述测试板安装在所述壳体内，所述测试板包括MCU模块、测试开关模块、测试模块组件、显示模块和电源模块，所述测试开关模块用于传递测试信号给所述MCU模块，所述MCU模块用于接收所述测试信号，并控制所述测试模块组件进行测试，所述测试模块组件用于发出PPTC测试恢复时间的计时信号至所述MCU模块，所述MCU模块根据所述测试模块组件返回的计时信号进行计时，并控制所述显示模块显示恢复时间信息，其中，所述电源模块用于为所述测试板提供电源。本实用新型不仅大大提高了检测的准确性，而且操作也十分方便。
【IPC分类】G01K15-00, G01R27-02
【公开号】CN204575743
【申请号】CN201520230375
【发明人】张希涛, 陈德舜, 龚国刚, 韩玉成, 孙鹏远, 冯刘洪, 周瑞山
【申请人】中国振华集团云科电子有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年4月16日