一种用于零件台阶深度和孔内环凸台厚度的精密检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用一种用于零件台阶深度、孔内环凸台厚度的精密检测装置。
【背景技术】
[0002]在日常检测过程中，传统的方法:I)深度的测量方法是采用深度尺或千分深度尺测量;2)测量孔内凸台的厚度用测量两次的长度的数据之差计算转换，有时甚至无法检测，这都影响到被测对象检测数据的准确性。因此，需要提供一种新的技术方案解决上述问题。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型其目的在于克服以上缺陷而提供一种用于零件深度、孔内环凸台厚度的检测装置，可以直接检测被测物体并确保数据的准确性，避免计算误差;具有结构简单、操作方便、读数直观等特点。
[0004]本实用新型为了实现上述目的而采用的技术方案，包括:千分表、表体、测杆、测头、锁紧定位套、凸台活动测头。锁紧定位套固定在表体上，用于定位;测头、凸台活动测头连接测杆，利用千分表的原理结合块规进行测量。
[0005]所述千分表是一块常用千分表。
[0006]所述测杆是根据被测物体长度改装的连接杆，可上下移动。
[0007]所述测头、凸台活动测头连接在测杆上，随测杆做上下运动。
[0008]所述表体千分表本体。
[0009]所述锁紧定位套固定在表体上，用于定位。
[0010]与现有技术相比，本实用新型的优点在于，该装置可以直接检测被测物体并确保数据的准确性，避免计算误差;具有结构简单、操作方便、读数直观等特点。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的结果示意图。
【具体实施方式】
[0012]实施例，如图1所示一种用于零件深度、孔内环凸台厚度的精密检测装置，包括;千分表1、表体2、测杆3、测头4、锁紧定位套5和6、凸台活动测头。
[0013]锁紧定位5、6套固定在表体2上，用于定位；
[0014]测头4、凸台活动测头7连接测杆3，随着测杆3作上下移动接触被测表面，带动表盘指针作旋转运动，获取数据。
[0015]锁紧定位套5与测头4配合，测量零件深度测头作上下移动，获取深度数据，锁紧定位套6与凸台活动测头7，配合测量零件的内环凸台厚度，凸台活动测头7作上下移动获取数据，锁紧定位套起固定作用。
【主权项】
1.一种用于零件台阶深度和孔内环凸台厚度的精密检测装置，其特征包括；千分表(1)、表体(2)、测杆(3)、测头(4)、锁紧定位套、凸台活动测头(7)，锁紧定位套固定在表体(2)上，用于定位;测头(4)、凸台活动测头(7)连接测杆(3)，随着测杆(3)作上下移动，接触被测表面，带动表盘指针作旋转运动，获取数据。
【专利摘要】一种用于零件深度和孔内环凸台厚度的精密检测装置，包括千分表、表体、测杆、测头、锁紧定位套、凸台活动测头,锁紧定位套固定在表体上，用于定位；测头、凸台活动测头连接测杆，随着测杆作上下移动，接触被测表面，带动表盘指针作旋转运动，获取数据,可以直接检测被测物体的深度和内环凸台厚度，确保数据的准确性精密，避免计算误差；具有结构简单、操作方便、读数直观等特点。
【IPC分类】G01B5/18, G01B5/06
【公开号】CN205228351
【申请号】CN201521054021
【发明人】王丹, 余成毅, 陈童诗, 温海舰
【申请人】九江精密测试技术研究所
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月17日