Pcb测试装置的制造方法_2

文档序号:10351400阅读:来源:国知局
及第一通断测试引线415。第一探针套管413的一端开口,另一端封闭以形成第一收容腔416。第一弹性复位件414收容于第一收容腔416内,第一弹性复位件414可以为弹簧。第一探针连杆412的一端与第一探头411连接,另一端通过第一探针套管413的开口端伸入第一收容腔416内与第一弹性复位件414相连接。第一通断引线的一端与第一探针套管413相连接,使得第一通断测试引线415与第一探头411电连接。当然,在其它的实施方式中,还可以省去第一探针连杆412、第一探针套管413及第一弹性复位件414,使第一探头411直接与第一通断测试引线415相连。
[0036]请一并参阅图3,具体地,阻抗测试探针420包括第二探头421、第二探针连杆422、第二探针套管423、第二弹性复位件424及第一阻抗测试引线425。第二探针套管423的一端开口,另一端封闭以形成第二收容腔426。第二弹性复位件424收容于第二收容腔426内,第二弹性复位件424可以为弹簧。第二探针连杆422的一端与第二探头421连接,另一端通过第二探针套管423的开口端伸入第二收容腔426内与第二弹性复位件424相连接。第一阻抗测试引线425的一端与第二探针套管423相连接,使得第一阻抗测试引线425与第二探头421电连接。当然,在其它的实施方式中,还可以省去第二探针连杆422、第二探针套管423及第二弹性复位件424,使第二探头421直接与第一阻抗测试引线425相连。
[0037]请一并参阅图4,具体地,通断阻抗测试探针430包括第三探头431、第三探针连杆432、第三探针套管433、第三弹性复位件434、第二通断测试引线435及第二阻抗测试引线436。第三探针套管433的一端开口,另一端封闭以形成第三收容腔437。第三弹性复位件434收容于第三收容腔437内,第三弹性复位件434可以为弹簧。第三探针连杆432的一端与第三探头431连接,另一端通过第三探针套管433的开口端伸入第三收容腔437内与第三弹性复位件434的一端相连接。第二通断测试引线435的一端及第二阻抗测试引线436的一端均与第二探针套管423相连接,以使第二通断测试引线435及第二阻抗测试引线436均与第三探头431电连接。当然,在其它的实施方式中,还可以省去第三探针连杆432、第三探针套管433及第三弹性复位件434,使第三探头421直接与第二通断测试引线435及第二阻抗测试引线436相连。
[0038]请再次参阅图1,多根通断测试导线700及多根阻抗测试导线800均排布于底板100上。通断测试导线700及阻抗测试导线800均为包胶导线。通断测试端口 500及阻抗测试端口600间隔排布于底板100上。第一通断测试引线415及第二通断测试引线435通过通断测试导线700与通断测试端口 500相连接,第一阻抗测试引线425及第二阻抗测试引线436通过阻抗测试导线800与阻抗测试端口600相连接。通断测试端口 500可以通过可拆卸的方式与通断测试系统相连接,使得通断测试系统具有通用性。阻抗测试端口600可以通过可拆卸的方式与阻抗测试系统相连接,使得阻抗测试系统具有通用性。阻抗测试点、通断测试点、通断阻抗测试点的选取可以依照被测PCB板的线路进行选择。
[0039]设置底板100的作用主要是起支承作用,并且多根通断测试导线700及多根阻抗测试导线800排布于底板100上,有利于导线的合理排布,防止导线交叉、杂乱无序。当然,在其它的实施方式中,还可以省去底板100。
[0040]设置支撑柱200的作用主要是起支撑作用,将安装板300的底面320架空,并且在安装板300上开设贯穿底面320与安装面310的安装孔,有利于从安装板300的底面320引出第一通断测试引线415、第二通断测试引线435、第一阻抗测试引线425及第二阻抗测试引线436。当然,在其它的实施方式中,还可以省去支撑柱200、安装孔,通过直接将测试探针400设置于安装板300上,并将引线直接从安装面310引出。
[0041 ]上述PCB测试装置10至少具有以下优点:
[0042]将通断测试探针410、阻抗测试探针420及通断阻抗测试探针430安装于同一安装板300上,测试时,第一探头411与被测PCB板的通断测试点相对应,第二探头421与被测PCB板的阻抗测试点相对应,第三探头431与被测PCB板的通断阻抗测试点相对应,第一通断测试引线415及第二通断测试引线435通过通断测试导线700与通断测试端口 500相连接,通断测试端口500与通断测试系统电连接,传递通断讯号,以验证PCB板的通断测试是否符合要求,同时第一阻抗测试引线425及第二阻抗测试引线436通过阻抗测试导线800与阻抗测试端口600相连接,通过阻抗测试端口600与阻抗测试系统电连通,传递阻抗讯号,以验证PCB板的阻抗测试是否符合要求,实现通断测试与阻抗测试合并为同道工序并且通过同一测试装置10—次性完成,简化生产流程,提高了效率,降低了劳动成本。
[0043]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种PCB测试装置,其特征在于,包括: 安装板; 测试探针,设置于所述安装板上,所述测试探针包括通断测试探针、阻抗测试探针及通断阻抗测试探针,所述通断测试探针包括第一通断测试引线,所述阻抗测试探针包括第一阻抗测试引线,所述通断阻抗测试探针包括第二通断测试引线及第二阻抗测试引线; 通断测试端口、阻抗测试端口、多根通断测试导线及多根阻抗测试导线,所述第一通断测试引线及所述第二通断测试引线通过所述通断测试导线与所述通断测试端口相连接,所述第一阻抗测试引线及所述第二阻抗测试引线通过所述阻抗测试导线与所述阻抗测试端口相连接。2.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,还包括通断测试系统以及阻抗测试系统,所述通断测试系统与所述通断测试端口可拆卸连接,所述阻抗测试系统与所述阻抗测试端口可拆卸连接。3.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,所述通断测试探针还包括第一探头、第一探针连杆、第一探针套管及第一弹性复位件,所述第一探针套管的一端开口,另一端封闭以形成第一收容腔,所述第一弹性复位件收容于所述第一收容腔,所述第一探针连杆的一端与所述第一探头连接,另一端通过所述第一探针套管的开口端伸入所述第一收容腔内与所述第一弹性复位件相连接,所述第一通断测试引线的一端与所述第一探针套管相连接。4.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,所述阻抗测试探针还包括第二探头、第二探针连杆、第二探针套管及第二弹性复位件,所述第二探针套管的一端开口,另一端封闭以形成第二收容腔,所述第二弹性复位件收容于所述第二收容腔,所述第二探针连杆的一端与所述第二探头连接,另一端通过所述第二探针套管的开口端伸入所述第二收容腔内与所述第二弹性复位件相连接,所述第一阻抗测试引线的一端与所述第二探针套管相连接。5.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,所述通断阻抗测试探针还包括第三探头、第三探针连杆、第三探针套管及第三弹性复位件,所述第三探针套管的一端开口,另一端封闭以形成第三收容腔,所述第三弹性复位件收容于所述第三收容腔,所述第三探针连杆的一端与所述第三探头连接,另一端通过所述第三探针套管的开口端伸入所述第三收容腔内与所述第三弹性复位件的一端相连接,所述第二通断测试引线的一端及所述第二阻抗测试引线的一端均与所述第三探针套管相连接。6.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,所述安装板包括安装面及底面,所述底面背向于所述安装面设置,所述安装板上开设有多个贯穿所述安装面与所述底面的安装孔,所述测试探针设置于所述安装孔内。7.根据权利要求6所述的PCB测试装置,其特征在于,还包括至少三个支撑柱,所述支撑柱包括第一端面及与所述第一端面相对设置的第二端面,所述第一端面设置于所述安装板的底面,至少三个所述第二端面的中心点不在同一条直线上以确定一个平面,所述平面与所述底面相互平行,所述第二端面均位于所述平面内。8.根据权利要求7所述的PCB测试装置,其特征在于,还包括底板,所述第二端面设置于所述底板上,所述通断测试端口、阻抗测试端口间隔排布于所述底板上。9.根据权利要求7所述的PCB测试装置,其特征在于,所述支撑柱的第一端面及第二端面的形状为正六边形。10.根据权利要求1所述的PCB测试装置,其特征在于,还包括定位导柱,所述定位导柱包括底端及顶端,所述底端设置于所述安装板上。
【专利摘要】本实用新型涉及一种PCB测试装置,包括安装板、测试探针、通断测试端口、阻抗测试端口、多根通断测试导线及多根阻抗测试导线,测试探针包括通断测试探针、阻抗测试探针及通断阻抗测试探针。将通断、阻抗及通断阻抗测试探针安装于同一安装板上,通断测试引线通过通断测试导线、通断测试端口与通断测试系统电连接,传递通断讯号,以验证PCB板的通断测试是否符合要求,同时阻抗测试引线通过阻抗测试导线、阻抗测试端口与阻抗测试系统电连通,传递阻抗讯号,以验证PCB板的阻抗测试是否符合要求,实现通断测试与阻抗测试合并为同道工序并且通过同一测试装置一次性完成,简化生产流程,提高了效率,降低了劳动成本。
【IPC分类】G01R31/28, G01R1/04
【公开号】CN205263259
【申请号】CN201520933697
【发明人】殷方胜
【申请人】泰和电路科技(惠州)有限公司, 惠州泰科立集团股份有限公司
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年11月19日
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