一种新型激光测距仪检测装置的制造方法

文档序号:10440237阅读:319来源:国知局
一种新型激光测距仪检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测仪,特别涉及一种激光测距仪检测装置。
【背景技术】
[0002]激光测距仪的使用越来越广泛,但激光测距仪的检定、校准目前采用的方法一般是用室内基线或室外基线进行比较检测。但无论是室内基线或是室外基线都需要一个至少100米长的无遮挡的直线通道,才能满足手持式激光测距仪的检测需求,对功率较大的激光测距仪要求达到100米以上到200米的距离的直线通道室内是很难满足的,即使是室外的基线场也很难找到合适的地方,因此激光测距仪的检测目前室内能做到的最大测量距离一般不超过100米,难以满足激光测距仪的检测需求。同时室外基线场的建设成本和校准成本都很高,且容易受到环境或城市规划的影响。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种新型激光测距仪检测装置,降低检测成本,提高检测效率,降低劳动强度。
[0004]本实用新型的目的是这样实现的:一种新型激光测距仪检测装置,包括导轨、光学倍程器以及调整工作台,导轨上可滑动设置有托板,所述导轨表面设置有标尺,标尺的零位与调整工作台基面平齐,所述托板上安装有指针以及配合指针拍摄标尺尺度的摄像头,托板上还设置有横梁,横梁上可滑动设置有砚板,所述光学倍程器由多个棱镜组构成。
[0005]本实用新型工作时,将待测激光测距仪安装在调整工作台上,检测时,开启激光测距仪,并调节托板的位置,托板位置确定后,根据需要调节砚板在横梁上的位置,若激光束不经过光学倍程器反射,则将通过摄像头获得的尺度与激光测距仪测的的距离进行对比,若激光束经过光学倍程器,则将摄像头获得的尺度配合激光跟踪仪测的光学倍程器内的距离得到标定的距离,并将该距离与激光测距仪测得的距离进行对比,从而完成激光测距仪的检测。与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于,本实用新型通过设置光学倍程器缩小直线通道距离,从而降低了建设成本和校准成本,同时该检测过程只需一个人即可完成,大大的提高了监测效率,降低了劳动强度。本实用新型可用于激光测距仪检测中。
[0006]为了提高本实用新型的检测精度,所述摄像头选用CCD相机。
[0007]为了使得托板在导轨上滑动更加流畅,所述托板与导轨的接触方式采用滚珠与圆弧面接触。
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型结构不意图。
[0009]其中,I调整工作台,2光学倍程器,3激光束,4导轨,5横梁,6标尺,7摄像头,8指针,9托板,1砚板。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示的一种新型激光测距仪检测装置,包括导轨4、光学倍程器2以及调整工作台I,导轨4上可滑动设置有托板9,导轨4表面设置有标尺6,标尺6的零位与调整工作台I基面平齐,托板9上安装有指针8以及配合指针8拍摄标尺6尺度的摄像头7,托板9上还设置有横梁5,横梁5上可滑动设置有砚板10,光学倍程器2由多个棱镜组构成,摄像头7选用CCD相机,托板9与导轨4的接触方式采用滚珠与圆弧面接触。
[0011 ]本实用新型工作时,将待测激光测距仪安装在调整工作台I上,检测时,开启激光测距仪,并调节托板9的位置,托板9位置确定后,根据需要调节砚板10在横梁5上的位置,若激光束3不经过光学倍程器2反射,则将通过摄像头7获得的尺度与激光测距仪测的的距离进行对比,若激光束3经过光学倍程器2,则将摄像头7获得的尺度配合激光跟踪仪得到标定的距离,并将该距离与激光测距仪测得的距离进行对比,从而完成激光测距仪的检测。
[0012]本实用新型并不局限于上述实施例,在本实用新型公开的技术方案的基础上,本领域的技术人员根据所公开的技术内容,不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形,这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种新型激光测距仪检测装置,其特征在于,包括导轨、光学倍程器以及调整工作台,导轨上可滑动设置有托板,所述导轨表面设置有标尺,标尺的零位与调整工作台基面平齐,所述托板上安装有指针以及配合指针拍摄标尺尺度的摄像头,托板上还设置有横梁,横梁上可滑动设置有砚板,所述光学倍程器由多个棱镜组构成。2.根据权利要求1所述的一种新型激光测距仪检测装置,其特征在于,所述摄像头选用CCD相机。3.根据权利要求1或2所述的一种新型激光测距仪检测装置,其特征在于,所述托板与导轨的接触方式采用滚珠与圆弧面接触。
【专利摘要】本实用新型公开了检测仪器领域内的一种新型激光测距仪检测装置,包括导轨、光学倍程器以及调整工作台,导轨上可滑动设置有托板,所述导轨表面设置有标尺,标尺的零位与调整工作台基面平齐,所述托板上安装有指针以及配合指针拍摄标尺尺度的摄像头,托板上还设置有横梁,横梁上可滑动设置有砚板,所述光学倍程器由多个棱镜组构成,本实用新型通过设置光学倍程器缩小直线通道距离,从而降低了建设成本和校准成本,同时该检测过程只需一个人即可完成,大大的提高了监测效率,降低了劳动强度,可用于激光测距仪检测中。
【IPC分类】G01B11/02
【公开号】CN205352314
【申请号】CN201620064423
【发明人】王龙来, 黄晓宾, 赵庆荣, 丁逸伦
【申请人】南通市计量检定测试所
【公开日】2016年6月29日
【申请日】2016年1月22日
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