专利名称：色轮反馈系统检控方法
技术领域：
本发明涉及一种色轮反馈系统检控方法，尤其涉及一种利用反馈系统输出端的电压波形反映反馈系统是否合格的检控方法。
背景技术：
请参见图1，图1为单片式DLP光机示意图。如图所示，单片式DLP光机包括光源11、聚焦透镜12、色轮系统13、棱镜14、DLF驱动板15以及投影棱镜16。在光机工作过程中，光源11发出的光经聚焦透镜12，聚焦于色轮系统13，色轮系统13中高速转动的色轮会根据不同色轮段的滤光特性透过不同波长、不同颜色的光，透过的光经棱镜14投射至DLF驱动板15上，DLF驱动板15的DMD芯片组依照视频信号每个视场中数字信号的强度将投射到DMD上的光经过投影棱镜16反射到屏幕17上，人体视觉系统将顺序的颜色叠加在一起，就看到一幅全彩色图像。
色轮系统13由色轮，色轮马达及色轮反馈系统组成。色轮马达主要是接受DLP驱动板15的驱动信号，按照一定的频率驱动色轮旋转，马达包括转动轴，此轴的光滑轴面上至少有一段加标记，使其光反射性能明显区别于其它部分。色轮反馈系统通常为一个反射式光电耦合器，其包括一个发光二极管21和一个光敏三极管22。先请参见图2，图2为反馈系统及其电路示意图。如图所示，发光二极管21发出约850nm的红外光，经光滑的马达轴面23反射到光敏三极管22，使光敏三极管22产生电流Ib，将其对应的电压Ub作为反馈输出信号传送给逻辑控制元件24，逻辑控制元件24将模拟信号Ub转换成数字信号Uc后传给DLF驱动板15。
由图2可得Ub＝Ud·Rb·Ib，其中Ub为b点的电压值，Ud为输入的固定电压值，Rb为一电阻的固定阻值。当马达轴的标记部分正对光电耦合器时，反射的光减弱，Ib很小，Rb电阻的分压很小，因此，Ub处于高电位；当转轴的其它位置对准传感器时，光电三极管受到光照而导通，Ib变大，Rb电阻的分压增大，由此Ub处于低电位。选择合适的逻辑控制元件24，使得当Ub处于高电位时，其值大于逻辑控制元件的高门限电平UH，数字反馈信号为1，对应Uc为高电平；当Ub处于低电位时，其值小于反馈系统电路的低门限电平UL，数字反馈信号为0，对应Uc为低电平。如图3A所示，其反映了正常的色轮反馈系统反馈的Ub和Uc波形。马达轴的标记区在Ub波形上体现为Ub电压峰值部分，在Uc波形上体现为高电平；相应地，马达轴的非标记区在Ub波形上体现为Ub的底部部分，在Uc波形上体现为低电平。当马达旋转一周时，Ub和Uc就经历了一个周期，因此，Ub和Uc的电压波形的频率表征了色轮的转动频率。从图3A我们可以看到，Uc的周期与Ub的波动周期吻合的很好，也就是数字反馈信号准确地反映了色轮的转动频率。
正确的数字反馈信号是单片式DLP光机正常工作的保证。但Ub会受到色轮反馈系统电阻Ra，Rb及温度、马达轴表面状态，光电耦合器和马达轴的距离，灯工作时杂散光，光电耦合器工作时间等因素的影响产生波动。从图3A中也可以看到Ub底部电压有些波动，但因为波动范围造成的Ub底部的最大值远小于UL，所以不会引起Uc电压及数字反馈信号的变化。
但是如果Ub底部电压波动值位于UL及UH之间或大于UH时，由于逻辑器件的逻辑特性会使Uc从低电位转变为高电位，数字反馈信号从逻辑0变为逻辑1，而实际上此时的色轮马达轴在非标记部分，数字反馈信号应为逻辑0。如图3B所示，Ub＞1.37V时，Uc为高电位，数字反馈信号为逻辑1，当Ub底部电压的波动值超过1.37V时，便会造成Uc电压波形的异常。此时反馈系统不能正确地反映色轮的转动频率，由此会引起马达驱动信号的错乱、色轮转动异常、色轮转动与灯脉冲的不匹配而造成画面闪烁以致系统死机等各种异常工作现象。
现有技术中一般不会对色轮反馈系统进行检测，因此造成单片式DLP光机的返修率极高。
发明内容
本发明提供一种色轮反馈系统检控方法，包括将检测装置接在色轮反馈系统的反馈输出端；待所述色轮反馈系统的反馈输出端的电压Ub的波形稳定后，调整所述检测装置的量程，测定Ub波形底部的最大电压Ubmax以及Ub波形顶部的电压Ubmark；当Ubmax＜αUL且Ubmark＞βUH时，所述色轮反馈系统合格，其中UH和UL分别为反馈系统电路的逻辑控制元件的高门限电平和低门限电平，α、β为经验值，0＜α≤1，β≥1。
在上述检控方法中，所述测定装置为示波器。
在上述检控方法中，所述色轮反馈系统为反射式光电耦合器。
本发明提供的方法可以方便且有效地通过检测色轮反馈系统是否正确反馈了色轮的转动频率来判断色轮反馈系统、此色轮反馈系统对应的色轮系统、此色轮对应的单片式DLP光机是否合格，由此降低单片式DLP光机的返修率，提高产品质量。
下面结合附图对本发明的具体实施方式
作进一步的详细说明，其中图1为单片式DLP光机示意图；图2为反馈系统及其电路示意图；图3A为正常的色轮反馈系统反馈的Ub和Uc波形；图3B为异常的色轮反馈系统反馈的Ub和Uc波形；图4示出另一色轮反馈系统反馈的Ub和Uc波形；图5为某光机Ubmax电压随工作时间(温度)的变化曲线；图6A-B为采用本发明检测的两个不同色轮反馈系统的Ub波形。
具体实施例方式
为了表述的方便，现定义下列参数UbmaxUb波形底部的最大电压；UbmarkUb波形顶部的电压；UH逻辑控制元件的高门限电平；UL逻辑控制元件的低门限电平。
由上述分析可知，当Ubmax＞UH或Ubmark＜UL时，Uc波形必定与Ub不一致，但是在UL＜U＜UH一段，各逻辑控制元件的设计不同，致使这一段逻辑反馈信号是1还是0不明确，因此当Ubmax＜UL且Ubmark＞UH时，可保证Uc波形与Ub波形一致，即反馈系统准确地反映了色轮的转动频率。
请参见图4，图4示出另一色轮反馈系统反馈的Ub和Uc波形。在此系统的反馈电路中，UH＝2.0v，UL＝800mv，因此Ubmax＜UL＝800mvUbmark＞UH＝2.0v才能符合要求。如图所示，Ubmax＝900mv，Ubmark＝4.75v，符合上述要求且Uc波形与Ub符合地很好。但Ubmax会受到许多因素的影响，以温度为例，光机在工作的前30分钟，工作温度会逐渐升高，而光电耦合器部分的温度会从最初的室温升高至70℃，图5为某光机Ubmax电压随工作时间(温度)的变化曲线，可以看到随着工作时间耦合器部分温度逐渐升高，Ubmax也逐渐升高，因此Ubmax也就存在超过逻辑器件规定值(即Ubmax＞UH)而使数字反馈信号异常的可能，因此为了消除光机异常工作的隐患，判断反馈系统是否合格的标准为Ubmax＜αUL且Ubmark＞βUH，α、β为经验值，0＜α≤1，β≥1。
现在，我们总结一下本发明的用于判断反馈系统是否合格的检控方法1.打开DLP驱动板15(如图1所示)的色轮系统13的驱动装置，使色轮系统13正常工作；将示波器接在反射式光电耦合器的反馈输出端(如图2的b点)。
2.待色轮系统13中的色轮转动平稳后，打开示波器，调整示波器的量程，使色轮反馈系统输出点的Ub波形在示波器屏幕的时间轴上至少包含一个完整的周期，且在电压轴上可测到Ub各部分电压值。
3.示波器显示的Ub波形稳定后，测量Ubmax和Ubmark。
4.当Ubmax＜αUL且Ubmark＞βUH时，判断色轮反馈系统合格，，α、β为经验值，0＜α≤1，β≥1。
接下来，我们基于上述方法，对两个光机进行判断图6A-B为采用本发明检测的两个不同色轮反馈系统的Ub波形。在本系统的反馈电路中，UH＝2.0v，UL＝800mv，α＝0.5，β＝1，判定标准为Ubmax＜αUL＝400mv并且Ubmark＞βUH＝2.0v。下表为对应的判定结果
应理解，上述实施例中测定装置并不局限于示波器，色轮反馈系统也不局限于反射式光电耦合器。只要能测出Ub值的测定装置均包含在本发明中，同样，只要满足本发明要求的反馈系统均可用本发明所提供的方法进行测量。
上述实施例仅为了方便说明而举例而已，并不是对本发明的范围的限制。对于本技术领域的一般人员来说，可以在不脱离本发明的精神的情况下，做出种种变化。因此，本发明所主张的范围应以权利要求书中的权利要求所述的为准。
权利要求
1.一种色轮反馈系统检控方法，包括将检测装置接在色轮反馈系统的反馈输出端；待所述色轮反馈系统的反馈输出端的电压Ub的波形稳定后，调整所述检测装置的量程，测定Ub波形底部的最大电压Ubmax以及Ub波形顶部的电压Ubmark；当Ubmax＜αUL且Ubmark＞βUH时，所述色轮反馈系统合格，其中UH和UL分别为反馈系统电路的逻辑控制元件的高门限电平和低门限电平，α、β为经验系数，0＜α≤1，β≥1。
2.如权利要求1所述的检控方法，其特征在于，所述测定装置为示波器。
3.如权利要求1所述的检控方法，其特征在于，所述色轮反馈系统为反射式光电耦合器。
全文摘要
本发明涉及一种色轮反馈系统检控方法，尤其涉及一种利用反馈系统输出端的电压波形反映反馈系统是否合格的检控方法。本发明提供一种色轮反馈系统检控方法，包括将检测装置接在色轮反馈系统的反馈输出端；待所述色轮反馈系统的反馈输出端的电压Ub的波形稳定后，调整所述检测装置的量程，测定Ub波形底部的最大电压Ubmax以及Ub波形顶部的电压Ubmark；当Ubmax＜αU
文档编号G05D25/00GK1988678SQ200510111959
公开日2007年6月27日 申请日期2005年12月23日 优先权日2005年12月23日
发明者张书令, 林青松, 俞之圻 申请人:上海永新彩色显像管股份有限公司