原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法

文档序号:6295464阅读:467来源:国知局
原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法
【专利摘要】本发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度的形变;根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。该方法利用空气中物体表面广泛存在的水膜的吸附作用力,实现针尖距离基底的微小变化的调节。该方法可用于纳米沉积加工等需要针尖距离基底很近的场合。
【专利说明】原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法

【技术领域】
[0001] 本发明涉及纳米加工领域,具体的说是一种利用物质表面水膜的吸附作用力实现 针尖和基底微小距离的调节。

【背景技术】
[0002] 纳米器件是由纳米材料构成的电子器件,比如各种气体传感器,生物传感器,场效 应晶体管等等。纳米器件具有优异的性能,比如库仑阻塞效应等。但是目前纳米器件还没 有实现广泛的应用。这是因为纳米器件在加工制造方面还存在各种问题。其中一个就是纳 米器件的电连接问题。AFM纳米沉积加工有望用作一种纳米焊接手段,提高纳米器件各部件 的电气连接和物理固定问题。AFM沉积加工是在电场作用下发生的,而电场强度的大小受针 尖基底距离的影响剧烈,因此精确的针尖基底距离调节手段是AFM沉积加工精度的重要影 响因素。
[0003] AFM沉积加工利用的是场发射的原理。需要在针尖基底之间形成很大的电场,使 针尖表面的原子突破势垒束缚,发射到基底表面,并在表面堆积形成焊接点。这就要求针尖 距离基底不能太远,否则需要很大的电压才能提供足够强大的电场强度;同时针尖与基底 不能接触从而造成短路,否则无法建立电场。这就需要一种控制针尖基底距离在一个微小 范围的方法。但是AFM探针的结构是:针尖位于一根细长的弹性悬臂梁上。控制针尖接近 基底,就像手持一根鱼竿,而试图控制鱼竿的顶端距离水面lcm,非常困难。尤其是针尖距 离基底较近时,一些微观力开始发挥影响,比如范德华力、水膜形成的毛细吸附力等,这使 得针尖基底距离的控制更加困难。Pumarol等2005年发表在nanotechnology上的论文曾 在tapping模式AFM的基底上施加一个偏压,通过偏压形成的静电力影响tapping的振幅, 在反馈环节的作用下,压电陶瓷收缩从而使针尖基底保持一定的距离。Pumarol的方法取 得了良好的效果,但是该方法需要施加一个额外的偏压,使得操作变得复杂,另外该方法在 tapping模式下进行,tapping模式下针尖时刻处于振动之中,因此电场强度处于连续的变 化之中,不利于沉积加工。


【发明内容】

[0004] 针对现有技术中存在的上述不足之处,本发明提出一种利用针尖和基底水膜的吸 附力来实现针尖基底微小距离的控制方法。大气环境下任何物体表面都附有一层薄薄的水 膜(l-5nm厚),本发明利用针尖和基底之间的毛细吸附力作用,变不利因素为有利因素,实 现了针尖基底距离的精确控制,并且操作简便。
[0005] 本发明为实现上述目的所采用的技术方案是:一种原子力显微镜针尖基底微小距 离控制方法,包括以下步骤:
[0006] 调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;
[0007] 控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和 基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应 程度的形变;
[0008] 根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。
[0009] 所述调节针尖与基底接触并且压力为零,具体为:将AFM设为contact模式,上下 移动探针使针尖与基底刚刚接触,即探针与基底接触但探针的悬臂梁并不发生变形。
[0010] 所述悬梁臂发生的形变通过以下方法获得:
[0011] 用激光照射AFM探针的悬梁臂并反射给AFM的位置传感器,AFM的激光反馈单元 根据所述位置传感器采集到的信息得到所述悬梁臂的端面偏转角,即悬梁臂发生的形变:
[0012]

【权利要求】
1. 一种原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,包括以下步骤: 调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态; 控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底 表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度 的形变; 根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。
2. 根据权利要求1所述的原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,所 述调节针尖与基底接触并且压力为零,具体为:将AFM设为contact模式,上下移动探针使 针尖与基底刚刚接触,即探针与基底接触但探针的悬臂梁并不发生变形。
3. 根据权利要求1所述的原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,所 述悬梁臂发生的形变通过以下方法获得: 用激光照射AFM探针的悬梁臂并反射给AFM的位置传感器,AFM的激光反馈单元根据 所述位置传感器采集到的信息得到所述悬梁臂的端面偏转角,即悬梁臂发生的形变:
其中,P是悬臂梁的端面偏转角,U是位置传感器输出的电压信号,L1, L2, L3是激光走 过的光程,a是悬臂梁的初始倾角,Cj5是反射镜1的倾角,0位置传感器的倾角,k是常数。
4. 根据权利要求1所述的原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,所 述计算针尖基底的距离为:
其中,H是针尖基底之间的距离,D是压电陶瓷向上运动的距离,@是悬臂梁的端面偏 转角,L是悬臂梁的长度。
【文档编号】G05D3/12GK104345739SQ201310317582
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2013年7月25日 优先权日:2013年7月25日
【发明者】焦念东, 刘增磊, 王越超, 刘连庆 申请人:中国科学院沈阳自动化研究所
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