增材制造中的光聚合控制的制作方法

文档序号:37934740发布日期:2024-05-11 00:13阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种3d打印方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:根据所述打印方法操作所述3d打印机,从而打印所述3d物体。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,投射到所述光固化树脂上的辐射的几何形状不是所述要打印的3d物体的所述几何模型的一系列切片。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述辐射强度不是恒定的。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,至少一些辐射被连续投射,直到所述3d物体被打印。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述3d打印机的所述控制参数是打印速度。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述辐射是紫外线(uv)辐射。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述辐射被定向在所述光固化树脂的开放表面上。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述辐射被定向穿过透明窗口与所述光固化树脂接触。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,固化的光固化树脂被布置在柔性基板上,所述柔性基板移动通过所述光固化树脂体积。

11.根据权利要求1所述的方法,其中,在启发式、最优控制理论、模型预测控制或机器学习的帮助下选择所述打印方法。

12.根据权利要求1所述的方法,其中,在有限元建模(fem)的帮助下选择所述打印方法。

13.根据权利要求1所述的方法,其中,在计算流体动力学(cfd)的帮助下选择所述打印方法。

14.根据权利要求1所述的方法,其中,在元胞自动机的帮助下选择所述打印方法。

15.根据权利要求1所述的方法,其中,通过以下方式来选择所述打印方法:

16.根据权利要求15所述的方法,其中,所述规则根据元胞自动机模型来确定所述多个单位和/或所述体积的状态属性值。

17.根据权利要求15所述的方法,其中,所述误差是所述第一状态属性的期望值与所述光固化树脂中的所述第一状态属性的值之间的差异。

18.根据权利要求15所述的方法,其中,所述第一状态属性是光固化树脂的固化程度。

19.根据权利要求15所述的方法,其中,使用启发式、模型预测控制、最优控制理论或机器学习来执行所述最小化。

20.根据权利要求15所述的方法,其中,所述规则与所述光固化树脂的固化和流动有关。

21.根据权利要求15所述的方法,其中,所述第一状态属性与所述光固化树脂的位置或固化状态相关。

22.根据权利要求15所述的方法,其中,所述第一状态属性是固化树脂与未固化树脂之比、过固化树脂与固化树脂之比、累积辐射暴露、粘度、能量状态、机械动量或其任何组合。

23.根据权利要求15所述的方法,其中,使用元胞自动机或有限元方法来建模所述体积元素。

24.根据权利要求15所述的方法,其中,所述体积元素由基于诸如卡尔曼滤波的状态估计算法的测量来支持。

25.根据权利要求15所述的方法,其中,该组规则包括辐射侵入所述光固化树脂、取决于树脂固化状态通过树脂的辐射分布、材料流动、机械应力、机械变形、由于辐射引起的化学降解或其任何组合。

26.根据权利要求1所述的方法,其中,作为时间函数被投射到第一位置处的所述光固化树脂上的辐射的几何形状和强度考虑了投射到第二位置处的所述光固化树脂上的辐射的量,所述第二位置靠近所述第一位置。

27.根据权利要求26所述的方法,其中,所述第二位置和所述第一位置邻近地位于所述要打印的3d物体的切片几何模型的单个层内。

28.根据权利要求26所述的方法,其中,所述第二位置和所述第一位置在所述要打印的3d物体的切片几何模型的邻近层中。

29.根据权利要求26所述的方法,其中,所述第一位置和所述第二位置与辐射源基本上共线。

30.根据权利要求1所述的方法,其中,所述打印方法包括:在所述要打印的3d物体的几何模型的切片内,在不同的时间将辐射定向在光固化树脂的第一位置和第二位置上。

31.根据权利要求30所述的方法,其中,所述第一位置和所述第二位置位于要打印的光固化树脂的邻接区域内。

32.根据权利要求30所述的方法,其中,相对于所述邻接区域的几何中心,所述第一位置远于所述第二位置,并且所述第一位置在所述第二位置之前暴露于辐射。

33.一种被配置以执行根据前述权利要求中任一项所述的方法的系统。

34.一种系统,包括:


技术总结
本文提供了用于3D打印的系统和方法。所述方法可以包括提供3D打印机中含有的光固化树脂体积的材料模型,其中光固化树脂的一部分适合与辐射接触以使其一部分固化。所述系统和方法还可以包括提供要打印的3D物体的几何模型并选择打印方法,所述打印方法包括作为时间函数被投射到光固化树脂上的辐射的几何形状和强度以及3D打印机的控制参数。所述系统和方法还可以包括最小化由光固化树脂的材料模型预测的光固化树脂的固化部分与要打印的3D物体的几何模型之间的误差。

技术研发人员:安德烈·施梅因,欧冀飞
受保护的技术使用者:OPT工业公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/10
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