参考电压校准方法、芯片和电子设备与流程

本发明涉及电子，特别是涉及一种参考电压校准方法、芯片和电子设备。

背景技术：

1、芯片通常具有输入引脚，可以通过输入引脚接收外部电路输入的数据，实现与外部电路的通信。在通过输入引脚与外部电路通信的过程中，通过输入引脚接收外部电路输入的模拟信号，将模拟信号与内部的参考电压进行比较，若模拟信号大于参考电压，则生成高电平信号，若模拟信号小于参考电压，则生成低电平信号，高电平信号对应数字信号1，低电平信号对应数字信号0，以此实现芯片与外部电路的通信。

2、其中，当参考电压不准确时，会产生错误的电平信号，导致通信异常。因此，在芯片的初始化阶段，需要进行参考电压校准(vref calibration)，确定准确的参考电压。在参考电压校准过程中，受信号干扰和时序错误等因素的影响，经常会导致无法校准得到准确的参考电压。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种参考电压校准方法、芯片和电子设备。

2、本发明实施例第一方面公开了一种芯片，包括：包括主电路、比较器和触发器；

3、所述主电路与所述比较器的第一输入端连接，并与所述触发器的时钟输入端连接，用于依次向所述第一输入端输出不同等级的参考电压，并在输出所述参考电压的过程中，通过所述主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，以及在所述数据的传输周期内的多个采样时间点，分别向所述触发器发送触发信号；

4、所述比较器的第二输入端连接于所述输入引脚，用于在所述第二输入端的电压大于和小于所述参考电压时，分别输出不同的电平信号；

5、所述触发器的数据输入端与所述比较器的输出端连接，输出端与所述主电路连接，用于在收到所述触发信号时，获取并向所述主电路发送所述电平信号的采样值；

6、所述主电路还用于在采样序列与所述测试序列匹配时，将所述参考电压作为备选参考电压，以及在得到的至少一个所述备选参考电压中选择目标参考电压作为通信过程中的参考电压；所述采样序列由所述测试序列对应的多个所述采样值组成。

7、可选地，还包括时钟调节电路；所述主电路与所述时钟调节电路连接，所述时钟调节电路的输出端与所述时钟输入端连接；所述主电路用于向所述时钟调节电路发送延迟时间和所述主电路的时钟信号；所述时钟调节电路用于基于所述时钟信号的时钟沿和所述延迟时间，确定所述采样时间点，并在所述采样时间点向所述触发器发送所述触发信号。

8、可选地，所述主电路用于在输出每个所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚连续多次接收所述测试序列，并在每次接收所述测试序列的过程中，向所述时钟调节电路发送一次延迟时间；每次发送的所述延迟时间对应其中一个所述数据的传输周期内的一个所述采样时间点；

9、所述时钟调节电路用于基于所述延迟时间，对所述时钟信号进行延迟处理，以在每次接收所述测试序列的过程中，在对应的一个所述采样时间点向所述触发器发送一个所述触发信号。

10、可选地，所述主电路用于在输出每个所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚接收一次所述测试序列；

11、所述时钟调节电路用于基于所述延迟时间确定所述测试序列的输入时间，并对所述时钟信号进行倍频处理，以在所述输入时间之后的每个所述采样时间点，向所述触发器发送一个所述触发信号。

12、可选地，所述主电路还用于在输出所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚接收多个不同的所述测试序列。

13、可选地，所述主电路具体用于从所述测试序列中获取预先设置的第一特征序列；所述第一特征序列包括所述测试序列中位于第一位数据之后、连续的多位第一数据；

14、所述主电路还用于从所述采样序列中获取与所述第一特征序列对应的目标特征序列，并从所述目标特征序列中获取所述第一数据对应的第二数据，以及在所述第二数据在第二特征序列中的占比与对应的所述第一数据在所述第一特征序列中的占比一致的情况下，将当前输出的所述参考电压作为备选参考电压；所述目标特征序列与所述第一特征序列的数据变化趋势相同，所述第二特征序列为所述采样序列中与所述第一特征序列对应的数据序列。

15、本发明实施例第二方面公开了一种参考电压校准方法，应用于如第一方面所述的芯片中的主电路，所述方法包括；

16、依次向比较器的第一输入端输出不同等级的参考电压；

17、在输出所述参考电压的过程中，通过所述主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，以使所述比较器在第二输入端的电压大于和小于所述参考电压时，分别输出不同的电平信号；所述第二输入端连接于所述输入引脚；

18、在所述数据的传输周期内的多个采样时间点，分别向触发器发送触发信号，以使所述触发器在收到所述触发信号时，获取并向所述主电路发送所述电平信号的采样值；所述触发器的数据输入端与所述比较器的输出端连接，所述触发器的输出端与所述主电路连接；

19、在采样序列与所述测试序列匹配时，将所述参考电压作为备选参考电压，以及在得到的至少一个所述备选参考电压中选择目标参考电压作为通信过程中的参考电压；所述采样序列由所述测试序列对应的多个所述采样值组成。

20、可选地，所述在所述数据的传输周期内的多个采样时间点，分别向触发器发送触发信号，包括：

21、向时钟调节电路发送延迟时间和所述主电路的时钟信号，以使所述时钟调节电路基于所述时钟信号的时钟沿和所述延迟时间，确定所述采样时间点，并在所述采样时间点向所述触发器发送所述触发信号。

22、可选地，所述通过所述主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，包括：在输出每个所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚连续多次接收所述测试序列，

23、所述向时钟调节电路发送延迟时间和所述主电路的时钟信号，包括：在每次接收所述测试序列的过程中，向所述时钟调节电路发送一次所述时钟信号和延迟时间，以使所述时钟调节电路基于所述延迟时间，对所述时钟信号进行延迟处理，以在每次接收所述测试序列的过程中，在对应的一个所述采样时间点向所述触发器发送一个所述触发信号；每次发送的所述延迟时间对应其中一个所述数据的传输周期内的一个所述采样时间点。

24、可选地，所述通过所述主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，包括：在输出每个所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚接收一次所述测试序列，以及使所述时钟调节电路基于所述延迟时间确定所述测试序列的输入时间，并对所述时钟信号进行倍频处理，以在所述输入时间之后的每个所述采样时间点，向所述触发器发送一个所述触发信号。

25、可选地，所述在输出所述参考电压的过程中，通过所述主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，包括：

26、在输出所述参考电压的过程中，通过所述输入引脚接收多个不同的所述测试序列。

27、可选地，所述在采样序列与所述测试序列匹配时，将所述参考电压作为备选参考电压，以及在得到的至少一个所述备选参考电压中选择目标参考电压作为通信过程中的参考电压，包括：

28、从所述测试序列中获取预先设置的第一特征序列；所述第一特征序列包括所述测试序列中位于第一位数据之后、连续的多位第一数据；

29、从所述采样序列中获取与所述第一特征序列对应的目标特征序列，并从所述目标特征序列中获取所述第一数据对应的第二数据，以及在所述第二数据在第二特征序列中的占比与对应的所述第一数据在所述第一特征序列中的占比一致的情况下，将当前输出的所述参考电压作为备选参考电压；所述目标特征序列与所述第一特征序列的数据变化趋势相同，所述第二特征序列为所述采样序列中与所述第一特征序列对应的数据序列。

30、本发明实施例第三方面公开了一种电子设备，包括如第一方面所述的芯片。

31、在本发明实施例中，芯片包括主电路、比较器和触发器。主电路与比较器的第一输入端连接，并与触发器的时钟输入端连接，用于依次向第一输入端输出不同等级的参考电压，并在输出参考电压的过程中，通过主电路中的输入引脚接收包括多位数据的测试序列，以及在数据的传输周期内的多个采样时间点，分别向触发器发送触发信号；比较器的第二输入端连接于输入引脚，用于在第二输入端的电压大于和小于参考电压时，分别输出不同的电平信号；触发器的数据输入端与比较器的输出端连接，输出端与主电路连接，用于在收到触发信号时，获取并向主电路发送电平信号的采样值；主电路还用于在采样序列与测试序列匹配时，将参考电压作为备选参考电压，以及在得到的至少一个备选参考电压中选择目标参考电压作为通信过程中的参考电压。在参考电压校准过程中，由主电路控制触发器在测试序列中每位数据的传输周期内进行多次采样，基于每位数据对应的多个采样值确定参考电压是否为备选参考电压，可以更准确的确定参考电压是否为备选参考电压，进而可以从至少一个备选参考电压确定准确的目标参考电压。