成像装置及曝光影像的检测方法

文档序号:6460937阅读:120来源:国知局
专利名称:成像装置及曝光影像的检测方法
成4象装置及曝光影1象的检测方法
技术领域
本发明涉及成像装置及啄光影像的检测方法。
背景技术
在计算机直接制版(CTP, Computer To Plate)系统中,制版设备一般采用 计算才几控制的激光扫描或阵列式啄光成f^。
目前,扫描式膝光^J支术通常采用激光器作为光源,曝光装置中包括若干个 激光成像器件(通常为16个至128个)。由于加工及装配的限制及系统的误差 等原因,不能完全保证所有的激光器发出的光束达到设计初的理想位置,会出 现偏移,这样在扫描成像过程中会在成像后图像中间会出现条紋状甚至扭曲的 缺陷,严重影响成l象质量。
美国专利US005717451公开了一种成像方法及装置,装置包含了一个位置 检测装置和一个位置校正电路,所述位置检测装置同时对所有曝光影像的X及 Y方向的位置进行检测,然后通过所述位置校正电路对成像系统进行校正。
美国专利US4978976中公开了一种成像方法及装置,该方案中,先对成像 器件的实际爆光影像位置进行检测,然后根据成像器件的实际曝光影像位置相 对于理论曝光影像位置的偏移量对成像器件进行校正。该方案中,在检测成像 器件的实际曝光影像位置时,采用了位置固定的两个传感器检测波长不同的若 干束光照射在感光材料上的曝光影像的位置,其中一个传感器为线性同步传感 器检测的是X方向的位置,另外一个传感器为一维阵列传感器检测的是Y方向 的位置。上述现有技术中,在检测实际曝光影像的位置时,采用两个位置固定 的传感器同时检测所有的曝光影像,这样检测的误差较大,进而也会影响成像 器件校正的准确性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供成像装置及曝光影像的检测方法,提高检 测曝光影像时的准确性。
一种成像装置,包括成像面和用于对所述成像面进行曝光的多个联动的曝
光模块;所述成像装置还包括运动机构和影像检测装置,所述运动机构承载所 述影像检测装置进行移动,使所述影像检测装置分别对所述多个曝光模块在所 述成像面上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各膝光模块在各自的 规定位置处的实际膝光影像。
一种曝光影像的检测方法,包括
多个联动的曝光模块分别在成像面上各自的规定位置处进行曝光;
通过移动影像检测装置,使所述影像检测装置分别对所述多个曝光模块在 所述成像面上各自的规定位置处的啄光影像进行检测,获得各啄光模块在所述 各自的规定位置处的实际爆光影像。
本发明实施例中,可以通过移动影像检测装置,使影像检测装置能够分别 对各曝光模块的曝光影像进行检测,与现有技术中采用位置固定的传感器同时 检测所有膝光模块的曝光影^4目比,可以提高检测的准确性。

图l是本发明成像装置实施例一的结构框图2是本发明成像装置实施例二的立体结构图;
图3是本发明成像装置实施例二的平面示意图4是本发明成像装置实施例二中各曝光模块的曝光影像示例图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明成像装置及曝光影像的检测方法的推荐实施例进行 详细i兌明。
' 本发明成像装置实施例一
本实施例给出本发明成像装置的基本结构。参考图1,本实施例的成像装置 包括成像面110和用于对成像面110进行曝光的多个联动的啄光模块120;所述成像装置还包括运动机构130和影傳鹼稱装置140,运动机构130承栽影像检测 装置140进行移动,使影像检测装置140分别对多个爆光模块120在成像面110 上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各膝光模块120在各自的规定 位置处的实际曝光影^>。
其中,所述运动机构中包含导向轨道.传动部件、驱动电机及位置传感器。 其中,所述曝光模块中包含成像器件,所述成像器件的类型可以是激光成 像器件、数字光处理(DLP)成像器件、光栅亮度阀(GLV)成像器件或液晶显 示(LCD)成像器件。
.以下以成像器件的类型具体是激光成像器件为例,对本发明成像装置实施 例二进行说明
参考图2和图3,本实施例的成像装置包括
圆柱体成像鼓201、置于圆柱体成像鼓201外表面上的覆有感光材料的成像 面202、用于驱动圆柱体成像鼓201沿其轴线203旋转(图中以Y表示)的电 机,以及用于获取圆柱体成像鼓201的旋转角度的旋转编码器。
曝光装置211以及用于承载爆光装置211沿图中X方向(与圓柱体成像鼓 201的轴线203相平行)移动的第一运动机构212;其中,膝光装置211包括作 为光源的激光器、光学裂束系统和一组联动的膝光^f莫块215,曝光模块215包括 激光成像器件217和成像镜片218,各曝光模块215可以是等间距分布;第一运 动机构212包括两根线性滑轨218、滚珠丝軒219、伺服马达220和光栅尺221。
影傳验测装置231和第二运动机构232;第二运动机构232用于承栽影^^r 测装置231进行移动,使影像检测装置231分别对各啄光模块215在成像面202 上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各曝光模块215'在各自的规定 位置处的实际曝光影像。其中,影像检测装置231包括影像传感器233、反射镜 234和透镜235;影傳4企测装置231在移动的过程中,反射镜234分别ii^各瀑 光模块215的光路中,反射光线经过透镜235到达影像传感器233,影像传感器 233即可检测到影像,通过检测此影像来计算曝光模块215在圆柱体成像鼓201 上的实际曝光影像。第二运动机构232包括两根线性滑轨236、滚珠丝杆237、 伺服马达238和光栅尺239。其中,影像传感器233的类型可以是CCD、 CMOS 等。本实施例的成像装置还包括症制模块,控制模块包括图像处理模块和输出
接口 ;其中图像处理模块用于产生用于控制激光成像器件膝光的分像子图像, 输出接口用于向各激光成像器件实时输出根据各自的分像子图像确定的籐光控 制信号。
参考图2至图4,描述本实施例的成像装置的成像原理图像处理模块将待 成像图像进行X方向上的分像处理,形成多个分像子图像(如图4中示出的分 区ll、 12、 13、 14),将所形成的多个分像子图像与相应数量的在位置上连续的 曝光模块一一关联,使各曝光模块分别完成所关联的像素区域的爆光成像。在 曝光装置中,光学裂束系统将激光器产生的单束原始激光分裂成多束,分裂后 的多束激光与上述在位置上连续的曝光模块一一对应,其中各激光成像器件按 照控制模块的输出接口输出的待曝光像素的曝光控制信号,对输入到本曝光模 块的激光束进行调制,使调制后的激光束的能量/强度与所述待曝光像素的亮暗 等特征相符,调制后的激光束再经成像镜片聚焦后沿垂直于圆柱体成像鼓的轴 线的方向,照射到成像面上,完成一次曝光。通过圓柱体成像鼓带动成像面沿 其轴线的旋转运动(图中Y方向),结合上述的曝光装置沿X方向的直线运动, 完成对分像后的像素区域中所有像素的曝光,各曝光装置在成像面上形成的曝 光影像拼接在一起,形成所述待成像图像的完整的曝光影像。
如图4所示,在实际成像过程中,由于加工装配及系统误差的影响,膝光 装置在成像面上形成的实际爆光影像相对于理想曝光影像可能会出现位置上的 偏差或形状上的差异(例如理想情况下的光斑为圓形,而由于焦距的误差,实 际情况下光斑的形状成为椭圓形)。在图《中,al、 a2、 a3、 a4分别是多个啄光 装置的理想初始爆光位置,而al'、 a2'、 a3'、 a4'分别是各曝光装置的实际初始曝 光位置,可以看出,由于曝光装置12、 13的曝光位置偏差,会导致成像后的图 像中如图4所示出的空白区域、错位区域、重叠区域等缺陷。为了对成像后的 图像中的上述缺陷进行校正,通常需要对曝光装置的实际曝光影像进行检测。 在本发明实施例中,为对各曝光模块的实际曝光影像进行检测,可以先规定一 个位置(例如可以是曝光模块的初始位置),使各曝光才莫块在初始位置处分别在 成像面上进行一次爆光,成像装置中设置了影像检测装置231和第二运动机构 2!32,第二运动机构承栽影像检测装置231沿图中X方向移动,使影像检测装置 231依次移动到各曝光^=莫块的理想初始位置,对该处的曝光影像进行检测,获得相应曝光模块在该处的实际曝光影像。本发明实施例中,可以通过移动影傳着 测装置,使影像检测装置能够分别对各曝光模块的曝光影像进行检测,与现有
技术中采用位置固定的传感器同时检测所有爆光模块的啄光影^N目比,可以提 高检测的准确性。
在本发明更多实施例中,也可以用半透射、半反射镜代替影像检测装置中 的反射镜,或者,影傳趁测装置中的反射镜的镜面上可以开有至少一个孔。 在本发明更多实施例中,成像装置也可以采用内鼓型或平面型成像鼓。 在本发明更多实施例中,成像装置还可以包括显示模块,影像检测装置检 测到曝光模块的实际曝光位置后,可以在显示模块上显示该实际曝光位置的信 每
. 在本发明更多实施例中,可以在各曝光模块215的光路增加反射镜234,影 像险测装置经过移动接收到各反射光线,反射光线经过透镜235到达影像传感 器233,影像传感器233即可检测到影像,通过检测此影像来计算曝光模块215 在圆柱体成像鼓201上的爆光影像的位置。
在本发明更多实施例中,影像检测装置231以及用于承栽影像检测装置231 沿图中X方向移动的第二直线运动机构232也可以位于曝光装置211的下方。
本发明还提供一种成像装置中曝光影像的检测方法的实施例,该方法包括
多个联动的曝光模块分别在成像面上各自的规定位置处进行曝光;以及,
通过移动影〗^测装置,使所述影^^r测装置分别对所述多个曝光模块在
所述成像面上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各曝光模块在所述
各自的规定位置处的实际曝光位置。
在本发明成像装置中曝光影像的检测方法的实施例中,曝光模块、成像面、 影像检测装置等可以具有本发明成像装置的各实施例中的特征。
以上对本发明实施例所提供的成像装置及成像装置中膝光影像的检测方法 的推荐实施例进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施 方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心 思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方 式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发 明的限制。
权利要求
1、一种成像装置,其特征在于,包括成像面和用于对所述成像面进行曝光的多个联动的曝光模块;所述成像装置还包括运动机构和影像检测装置,所述运动机构承载所述影像检测装置进行移动,使所述影像检测装置分别对所述多个曝光模块在所述成像面上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各曝光模块在各自的规定位置处的实际曝光影像。
2、 如权利要求1所述的成像装置,其特征在于所述运动机构包含导向轨 道、传动部件、驱动电机及位置传感器。
3、 如权利要求1所述的成像装置,其特征在于所述影像检测装置包含影 像传感器,所述影〗象传感器的类型是CCD或CMOS。
4、 如权利要求1所述的成像装置,其特征在于所述影像检测装置包含至 少一个透镜。
5、 如权利要求1所述的成像装置,其特征在于所述影像纟企测装置包含至 少一个反射镜,或者半透射、半反射镜。
6、 如权利要求5所述的成像装置,其特征在于所述反射镜的镜面上开有 至少一个孑L。
7、 如权利要求1所迷的成像装置,其特征在于所述曝光模块包括成像器 件,所述成像器件的类型具体是激光成像器件、数字光处理DLP成像器件、光 栅亮度阀GLV成像器件或液晶显示LCD成像器件。
8、 如权利要求1所迷的成像装置,其特征在于所述成像面的类型是平面 型、外鼓型或内鼓型。
9、 一种曝光影>像的纟企测方法,其特征在于,包括多个联动的曝光模块分别在成像面上各自的规定位置处进行曝光;通过移动影像检测装置,使所述影〗象检测装置分别对所述多个曝光模块在 所述成像面上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各曝光模块在所述 各自的规定位置处的实际曝光影像。
10、 如权利要求9所述的方法,其特征在于所迷曝光模块包括成像器件, 所述成像器件具体是激光成像器件、DLP成像器件、GLV成像器件或LCD成像 器件。
全文摘要
本发明提供一种成像装置及曝光影像的检测方法。所述成像装置包括成像面和用于对所述成像面进行曝光的多个联动的曝光模块;所述成像装置还包括运动机构和影像检测装置,所述运动机构承载所述影像检测装置进行移动,使所述影像检测装置分别对所述多个曝光模块在所述成像面上各自的规定位置处的曝光影像进行检测,获得各曝光模块在各自的规定位置处的实际曝光位置。本发明实施例可以提高检测曝光影像的位置时的准确性。
文档编号G06K15/12GK101609511SQ200810067798
公开日2009年12月23日 申请日期2008年6月17日 优先权日2008年6月17日
发明者孙海翔, 高云峰 申请人:深圳市大族激光科技股份有限公司
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